• 沒有找到結果。

H、Cl 原子於高溫下在 Si 表面的同時吸附情形

第三章 實驗數據分析

3.2 H、Cl 原子於高溫與室溫下在 Si 表面的分佈關聯

3.2.1 H、Cl 原子於高溫下在 Si 表面的同時吸附情形

在知道低溫下H、Cl 同時於 Si 表面的情形後,接下來我們想觀察在溫 度約為450K 時,H、Cl 原子是以怎樣的方式鍵結於 Si 表面。

本實驗的實驗步驟是先將樣品flash 後,先等樣品冷卻回室溫下,約 10 分鐘。然後通以直流電 25mA,等到樣品加溫穩定後,此刻溫度約 450K,

再將樣品面向曝氣管口,此時真空腔裡的基本氣壓是在 5×10-10 torr 以下,

再通予 HCl 1×10-9 torr 4 分鐘,可表示為 0.24 L (1 Langmuir =1×10-6 torr s )• 。完成曝氣後的樣品,H 原子及 Cl 原子已同時吸附在 Si 表面上。

此時要先等樣品溫度降回室溫且穩定後,才可以開始進行掃圖的工作,因 為要避免因為溫度過高產生不穩定的熱漂移(Drift),影響掃描樣品表面時 的穩定性,這會影響掃圖解析度的品質與可靠性。藉由穿隧電子顯微鏡來 掃描高溫下樣品表面的影像,得到如圖3.2-1。

圖3.2-1:高溫下 HCl 於 Si(100)-2×1 表面。圖中亮點為 Cl 原子,由 STM 掃

在高溫下所掃得的圖,看起來和低溫得到的影像有些許的不同。

下面我們透過幾組數據來分析,首先是高溫下第一組實驗數據(HT.1),圖 3.2-2。

圖3.2-2:高溫下 HCl 於 Si(100)-2×1 表面。圖中亮點為 Cl 原子,由 STM 掃描,區域大小30×20 nm2Vsa mple =+2.61 (V)。

由得到的圖來看,表面的分佈情形與低溫下差異很大,Cl 原子排列不 再多以有序的Zigzag 排列,而是有群聚的現象,接著計算 H、Cl 鍵結比例 以及其位置關聯分析,圖3.2-3。透過計算結果,我們得到 H:Cl 為 60.3:

39.7,也是約 3:2。

Near Site

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17

Normalization

0.0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0

HT.1

圖3.2-3:計算圖 3.2-2(HT.1)中 Cl 於 Si(100)-2×1 表面分佈曲線圖。

單獨就本次實驗的數據來解釋,基本上各個位置鍵結 Cl 的分佈曲線和 低溫下的分佈曲線類似,因此H、Cl 共同吸附在 Si 表面的分佈情形應該都 是類似的趨勢,下面將此數據,和一組低溫下的數據曲線來比較,看看兩 者的差異性,圖3.2-4。

Near Site

釋了高溫下這些原子有些許會傾向鍵結於2、3 號位置,於是 2、3 位置 鍵結機率相對的增加了。

3. 高溫下,透過鍵結分佈曲線來看,5、6 號位置 Cl 的鍵結機率還是高於 平均值,所以還是可以觀察到部分區域是 Zigzag 的排列,不過由於其 他 Cl 原子聚集的情形增加後,使的整個圖形看起來不再像低溫那樣的 有規律性。

以圖3.2-5 為例,說明在低溫與高溫下 Cl 原子鍵結位置的變化關係。

圖3.2-5:LT 與 HT 下 Cl 原子鍵結位置的差異。

在基準點為 Cl 時來討論,圖中上半部藍色框內是低溫下常見的鍵結方 式,我們看到基準點週遭5~9 號的位置是鍵結 Cl,形成標準的 Zigzag 排列;

而圖下半部紅色框內代表的是高溫下的鍵結排列,可以看見5、6 的位置在 低溫下大多會鍵結Cl 原子的,在高溫時卻鍵結在同一對 Dimer 的隔壁 2、3 號位置上;在低溫下鄰排 9 號位置的 Cl 原子,在高溫時也鍵結到旁邊的 4 號位置,於是Cl 原子本來在低溫下多為 Zigzag 的排列方式,在高溫下形成 Cl 原子在鄰排 Dimer 相互聚集的比例增高。

接著我們再以第二組實驗數據(HT.2),圖 3.2-6,來計算分析其分佈情 形,並直接將兩組高溫下鍵結分佈曲線圖放在一起來看,圖3.2-7。

圖3.2-6:高溫下 HCl 於 Si(100)-2×1 表面。圖中亮點為 Cl 原子,由 STM 掃 描,區域大小30×30 nm2Vsa mple =+2.56 (V)。

圖 3.2-8:高溫下 HCl 於 Si(100)-2×1 表面。圖中亮點為 Cl 原子,由 STM 掃描,每張圖區域大小 8×8 nm2

透過上圖A~C 三個區域,來看各個位置 Cl 原子分佈的形情。0 號位置 表示為基準點,其餘各對應位置皆編號在各圖上。

A 區:圈選的範圍是同一對 Dimer,可以看到裡面是一對 Cl-Cl Dimer,就 Cl 來看,這就是 1 號位置也是鍵結 Cl 的情形,比低溫下的分佈機率還低。

B 區:圈選的範圍是相鄰的 Dimer,從圖中編號來看,這是在 4 號位置鍵結 Cl 原子,這並不是 Cl-Cl Dimer 對,另外 2、3 位置的鍵結,使得 Cl 原子呈 鍊狀排列,於是形成和鄰排4 號 Cl 原子聚集的現象。

C 區:圈選的範圍是同一對 Dimer,這裡是標準的 Zigzag 排列,也就是 5、

6 號及 7、8 號位置鍵結 Cl 原子。因為部分 Cl 原子由 5、6 號位置鍵結到 2、

3 號位置上,所以此排列在高溫下的分佈機率不如低溫下的分佈機率高。

相關文件