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4.3 非理想效應

4.3.3 ISI 抖動

根據定義,抖動(jitter)可分為兩大類,第一類為 RJ(random jitter),此類抖動的特色 為隨機產生的雜訊抖動,而抖動的機率分布為高斯分佈且為無界的(unbounded);第二類 為 DJ(deterministic jitter),此類抖動的特色為重複、可預測且非為高斯分佈且為有界 (bounded) 的 抖 動 。 在 此 章 節 要 討 論 的 ISI 抖 動 (inter-symbol interference) 又 稱 DDJ(data-dependent jitter),此類抖動與輸入訊號有很大的關連,因此並非高斯分佈的抖 動,可歸類於DJ 之下。

在傳統數位邏輯電路中,ISI 抖動通常發生在當輸入為隨機的數位訊號,且電路操 作在設計的臨界速度時的ISI 抖動尤為嚴重,在此舉例說明:若資料轉換的時機是在一 連串相同的資料之後,此時輸出的轉態時機將會稍微落後,因此在輸出眼狀圖上就會有 明顯的不均勻分布。而在拔靴帶式電路中,還有另一項原因將造成ISI 抖動產生,即為 升降壓電容充放電不完全所致。雖然在低電壓低速的應用時,電路受ISI 抖動的影響並 不大;但在低電壓高速的應用時,ISI 抖動的影響仍將非常嚴重。

在傳統的拔靴帶式電路中,負責對電容充放電的電晶體仍然操作在低壓環境,電流 驅動能力明顯不足,當電路操作在高速時,將會發生升降壓電容充電不及的情形,倘若 不解決此問題,此電路的頻寬將被限制。在此以型態一拔靴帶式反相器為例,節點說明 如圖4.22,模擬波形如圖 4.23,當我們將此電路應用於中繼器使用時,輸入 10Mbps 的 隨機訊號,觀察節點1 與節點 2 的電壓波形,在連續 0 與 1 轉換時,電容明顯充電不及,

在電容尚未充滿時即轉態,將導致升降壓後的電壓值不一,進而影響後端反相器驅動能 力,造成輸出訊號的ISI 抖動增加,如圖 4.24,此時輸出眼狀圖的開口為 0.65UI。

第四章 中繼器電路

MP1

MN1

VIN VOUT

C1 C2

INV

VDD

VDD Node1

Node2

圖4.22 型態一拔靴帶式反相器的節點說明

0.2v

0v

0.374v 0.355v 0.374v

0.355v

-0.163v -0.179v -0.163v -0.170v

Voltage (volt)

node1 node2

(Segment length = 1000um ; Data rate = 10Mbps ; 10th segment) 圖4.23 使用型態一拔靴帶式中繼器的模擬結果

第四章 中繼器電路

Output eye diagram

0.65UI

圖4.24 使用型態一拔靴帶式中繼器的輸出眼狀圖

若我們調整圖 4.22 中電晶體MN1與MP1的尺寸,增加電晶體的電流驅動能力,使之 足以在最短時間內充放電完成,則改善後的模擬結果如圖4.25,可看出升降壓後的電壓 較之前趨於一致,但因為寄生電容增加,導致升降壓的效果較差,約下降20mV。而在 輸出眼狀圖的表現如圖4.26,可看出眼狀圖開口為 0.93UI,較之前改善許多。

0.2v

0v

0.350v 0.348v 0.350v 0.348v

-0.157v -0.160v -0.158v -0.159v

Voltage (volt)

node1 node2

(Segment length = 1000um ; Data rate = 10Mbps ; 10th segment) 圖4.25 使用型態一拔靴帶式中繼器的模擬結果(改善後)

第四章 中繼器電路

Output eye diagram

0.93UI

圖4.26 使用型態一拔靴帶式中繼器的輸出眼狀圖(改善後)

以上的方式雖然可以減少ISI 抖動的產生,但是仍有頻寬上的限制,主要的原因是 負責充放電的電晶體仍操作在低壓,電流驅動能力不足,增加電晶體尺寸又會使寄生電 容增加,降低升降壓的效果。因此,在型態二拔靴帶式反相器電路中,就解決了充放電 電晶體驅動力不足的問題,使電路可以操作在更高的頻率。

接著將型態二拔靴帶式反相器應用於中繼器使用時,在高頻仍有ISI 抖動改善的空 間,節點說明如圖 4.27,模擬波形如圖 4.28。當我們輸入 30Mbps的隨機訊號,觀察節 點 1 與節點 5 的電壓波形,可以發現雖然電晶體MN1與MP1的驅動能力提升,但是卻產 生了另一個問題:當電晶體MP1導通開始對電容C2充電時,節點 1 的電壓快速被拉起,

如同產生一高頻訊號,此高頻訊號將藉由電容C2使節點5 的電壓同時被拉起,這時候就 需要靠前端反相器INV2 的NMOS電晶體把節點 5 的電壓拉回GND,假設節點 5 的電壓 無法在最短的時間內拉回GND,則電容C2充電不完全,將導致升壓後的電壓值不一,造 成輸出的抖動增加。此時輸出的眼狀圖如圖4.29 所示,眼狀圖的開口為 0.69UI。

第四章 中繼器電路

VIN VOUT

C1 C2

VDD

MP1

MN1 Node5

VDD Node1

INV1

INV2

INV3

圖4.27 型態二拔靴帶式反相器的節點說明

0.2v

0v

Voltage (volt)

node1 node5

(Segment length = 1000um ; Data rate = 30Mbps ; 10th segment)

0.375v 0.383v 0.376v 0.374v 0.380v

圖4.28 使用型態二拔靴帶式中繼器的模擬結果

第四章 中繼器電路

Output eye diagram

0.69UI

圖4.29 使用型態二拔靴帶式中繼器的輸出眼狀圖

因此我們調整圖4.27 中的反相器 INV2 的 NMOS 與 INV3 的 PMOS 尺寸,以增加 電晶體的電流驅動能力,使之足以在最短時間內充放電完成,則改善後的模擬結果如圖 4.30,可看出電容在最短時間內充電完全,因此升降壓後的電壓較之前趨於一致,但也 因為寄生電容的增加,導致升降壓的效果較差。而在輸出眼狀圖的表現如圖4.31,可看 出眼狀圖開口為0.86UI,較之前改善許多。

0.2v

0v

Voltage (volt)

node1 node5

(Segment length = 1000um ; Data rate = 30Mbps ; 10th segment)

0.382v 0.383v 0.382v 0.381v 0.383v

圖4.30 使用型態二拔靴帶式中繼器的模擬結果(改善後)

第四章 中繼器電路

Output eye diagram

0.86UI

圖4.31 使用型態二拔靴帶式中繼器的輸出眼狀圖(改善後)

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