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數位光學測量於固體材料變形分析之應用

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Academic year: 2021

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1*國立成功大學材料科學與工程學系 助理教授 2國立高雄大學土木與環境工程學系 助理教授 3國立高雄第一科技大學營建工程學系 副教授

數位光學測量於固體材料變形分析之應用

郭瑞昭1* 童士恒2 施明祥3 陳志慶1 1國立成功大學材料科學與工程學系 2國立高雄大學土木與環境工程學系 3國立高雄第一科技大學營建工程學系 關鍵詞:實驗力學、光學量測法、塑性變形、數位影像相關係數。 摘要 對應變分佈的解析在塑性力學以及具應力集中的問題而言,是極為重要的課題。習知的 應 變 量 測 技 術 只 能 對 特 定 位 置 進 行 點 應 變 的 觀 測 而 精 密 的 儀 器 如 干 涉 儀 (Raman Spectroscopy)雖能以無接觸的方式進行面的量測,卻因儀器昂貴而不能廣泛用於研究或工程 中。相對的,數位光學測量可以提供低價而精度高的應變分佈,是很適於推廣的應變解析利 器。本文提出應用數位影像處理的技術,分析塑性變形過程中試片表面形成之應變場。該影 像處理的核心在於“找尋演算法",所謂“找尋演算法"是利用數位影像相關係數,藉著比 較變形前後網格內灰階值之總合,在變形後影像中尋找變形後網格的相對位置。經由變形前 後網格的相對位置,即可計算出各網格之應變量。鋁試片經過壓縮變形後,利用數位影像處 理的技術,呈現出塑性變形之不均勻應變分佈。本文顯示運用數位影像處理的技術,成功地 將塑性形變過程“視覺化"。

Application of Digital-Image-Correlation Techniques to crystal plasticity

Jui-Chao Kuo1*, Shih-Heng Tung2, Ming-Hsiang Shih3, Delphic Chen1

1

Department of Materials Science and Engineering National Cheng-Kung University,

Tainan 70101, Taiwan, R.O.C.

2

Department of Civil and Environment Engineering National University of Kaohsiung,

Kaohsiung 811, Taiwan, R.O.C.

3

Department of Construction Engineering

National Kaohsiung First University of Science and Engineering, Kaohsiung 824, Taiwan, R.O.C.

Key words: Experimental Mechanics, optical measurement, Plasticity, digital image correlation. ABSTRACT

The analysis of strain distribution plays an important role at plasticity and stress concentration. A well known technique measuring strain, which can be used to the observation of strain change, is directly to calculate the displacement change between two positions. With the help of Raman-Spectroscopy it is also possible to determine strain fields over the surface by a non-contact method. Due to the cost of Raman-Spectroscopy this technique can not be generally used in all

(2)

fields of research and engineering. In contrast to Raman-Spectroscopy a digital optic measurement provides a cheap and precise measurement of strain distribution. In this study a novel image processing is demonstrated to determine on-plane strain fields on the sample surface after plastic deformation. Numerical procedure for deformation analysis using digital-image-correlation (DIC) is applied to find correlation between regions in a “source” and displaced regions in a “destination” image. Gray scales of pixels contained in rectangular regions are correlated via a least square algorithm. An aluminum poly-crystal was used to compress in a channel-die. During deformation process, pronounced strain heterogeneity is observed by strain field distributions. This demonstration shows the ability to visualize deformation histories during processing.

一、前言 應變分佈之解析在土木工程與機械工程 等相關領域中,是極為重要而不可缺少的量 測技術,特別是在探討塑性力學以及破壞力 學中應力集的問題。傳統應變量測技術主要 可分為兩種,方法一:針對特定位置中之兩點 位置,進行應變的量測,無法獲得變形面應 變之分佈。方法二:在變形前先於試片表面上 製造網格,變形後直接計算各個網格之位移 量,而推算各個網格之應變場,但分析過程 需要相當長的時間。精密應變量測儀器如拉 曼干涉儀(Raman Spectroscopy)、電子散斑干 涉 儀 (Electrical Speckle Pattern Interferometer),雖然能以非接觸的方式進行 面應變場的量測,卻因儀器昂貴以及穩定度 等因素,無法廣泛應用於科研究或工程中。 數位光學測量卻可以提供低價而精度高的全 場應變分佈,適合推廣的應變解析的利器,該 實驗分析技術為數值計算驗證之有效的工 具。 數位光學應變測量的基本原理,首先在 分 析 物 體 的 表 面 產 生 所 謂 “ 結 構 性 的 斑 紋",結構性的斑紋系為表面灰階的分佈, 表面灰階的分佈即為影像處理的重要特徵。 利用灰階分佈的特徵,對變形前後的影像進 行特徵比對,獲得變形前後影像的相對位 置。藉此變形前後影像的相對位置,計算影 像中各點之位移向量,其他物理量都可以此 位移向量為基礎而推算出,諸如 X、Y 方向 的應變場,XY 方向的剪應變,von Mises 的 應變等。 二、數位光學應變測量之基礎理論 2.1 2D 數位影像相關係數法 影像相關係數法廣泛應用於影像識別技 術相關領域,其原理主要在比對兩張影像的 局部相關性,以此相關性判定變形前後影像 中局部的對映關係(通常假設此對映關係為 函數關係)。茲以圖 1 為例說明該對映關係, 在圖 1 中變形前中心點位置為 P 點,變形後 P 點位置改為 P*位置,兩者間之函數關係如 下: ) , ( ) , ( * * y x v y y y x u x x + = + = 對未變形的影像,可以應用有限元素法 的觀念,將影像切割成數個次級影像(如圖 2 所示)。在變形前後相對應之次級影像,其次 級影像內灰階值的總和相同,此一特性為影 像辨識法之基本原理。假設變形前影像為影 像 A 而變形後影像為影像 B,兩者間存在著 對應關係稱為函數關係如上述,該函數可以 為剛體平移與旋轉運動。其次,依影像相關 係數法判定兩者間的相關程度,影像相關係 數定義如下:[3,5]

⋅ = 2 2 ~ ~ j i ij j i ij g g g g COF 其中,g 及ij g~ 分別是影像 A 在ij ( ji, )座標上 及影像 B 在(i, j)座標上的灰階,而(i, j)座標 為影像 A 上( ji, )座標在影像 B 上的對應點座 標。

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圖 1: 物體表面上方變形前與變形後次級影 像(格形)之相對位置示意圖。[3] 對每一"次級影像"的相關係數進行最 佳化處理,以最佳化程序決定對應函數之最 佳參數,即可獲得變形前後每一次級影像的 對應座標。應用此變形前後的對應座標即可 計算其各別的位移量,進而獲得位移場。 圖 2: 物體表面上之次級影像(方格)示意圖。 2.2 應變場之計算 Green-Lagrange’s 張量 E 定義為:

[

F F I

]

E= T ⊗ − 2 1 其中 F 為位移場梯度張量,而 I 為單位 矩陣。張量 E 可改寫為位移場的函數如下:[3]

(

ij ji

)

ki k j ij u u u u E , , , , 2 1 2 1 + + = 其中i,j,k∈(x,y)而且ui,juij。所以 應變可計算如下: ⎥ ⎥ ⎦ ⎤ ⎢ ⎢ ⎣ ⎡ ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ ∂ ∂ + ⎟ ⎠ ⎞ ⎜ ⎝ ⎛ ∂ ∂ + ∂ ∂ = 2 2 2 1 x u x u x ux x y xx ε ⎥ ⎥ ⎦ ⎤ ⎢ ⎢ ⎣ ⎡ ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ ∂ ∂ + ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ ∂ ∂ + ∂ ∂ = 2 2 2 1 y u y u y uy x y yy ε ⎥ ⎦ ⎤ ⎢ ⎣ ⎡ ∂ ∂ ∂ ∂ + ∂ ∂ ∂ ∂ + ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ ∂ ∂ + ∂ ∂ = y u x u y u x u x u y ux y x x y y xy 2 1 2 1 ε 三、固體材料變形過程之視覺化 以下應用由本研發團隊所自行開發的影 像分析應變軟體,首先進行剛體平移與轉動 之測試,藉以探討影像處理程式之理論解析 度。原始的影像分別沿 X、Y 方向平移 8、32、 128 pixels,同時也將原始的影像沿順時鐘方 向轉動 20°、40°、80°,然後以平移與轉動 後的影像分析表面應變分佈。該平移與轉動 後之影像並無任何變形,理論上應變量應該 為 0。經由應變軟體計算的結果可視為實驗 數值,以此實驗數值與理論應變量相比較, 可得知應變軟體之解析度。 其次,再以實際平面壓縮(plane strain compression)為例分析變形過程,即所謂將變 形過程視覺化。 3.1 剛體平移之分析 3.1.1 沿+X 方向平移 應用影像處理軟體,將原始影像沿+X 方 向分別進行剛體平移 8、32、128 pixels,即 可獲得剛體平移後之影像,再以應變軟體分 別對不同平移量進行分析其微應變之分佈。 圖 3 分別顯示沿+X 平移 8 、pixels、32 pixels 與 128 pixels 後微應變的分佈,von Mises 應 變平均值約為 10-4,相當於 0.01%。理論值應 為 0。在程式中準確度設為 0.01 pixels 時可計 算出誤差值為 0.01%。 以上 von Mises 應變分佈圖祇能顯示微 觀應變分佈,無法獲得巨觀平均值的量,將 所有結點的應變值平均,即可得巨觀平均值 與標準差。表 1 顯示應變的平均值約為 10- 4 此即為應變軟體計算過程之誤差值。

(4)

(a)

(b)

(c)

圖 3: 沿+X 方向平移 (a) 8 pixels, (b)32 pixels, (c) 128 pixels 之 von Mises Strain 分佈 圖。 X 方 向平 移量 x ε εy εxy εvM 8 -0.1±18.3 -0.1±7.0 0.2±9.1 14.5±9.1 32 -0.1±17.4 0.1±7.7 -0.9±9.1 14.0±9.1 128 -0.5± 8.1 -0.4±5.8 -0.6±5.5 8.0±4.4 表 1: 經應變軟體計算沿+X 方向平移量 (pixels)之微應變量的平均值及其標準 差X ±SD(×10-5 ) 。 3.1.2 沿+Y 方向平移 在此延續前述之方法應用影像處理軟 體,而將原始影像沿+Y 方向分別進行剛體平 移 8、32、128 pixels,即可獲得剛體平移後 之影像,再以應變軟體分別對不同平移量進 行分析其微應變之分佈。 圖 4 分別顯示沿+Y 平移 8 、pixels、32 pixels 與 128 pixels 後微應變的分佈,von Mises 應變平均值約為 10-4,相當於 0.01%。 理論值應為 0。因此,在程式中準確度設為 0.01 pixels 時可以計算出誤差值為 0.01%。 (a) (b) (c)

圖 4: 沿+Y 方向平移 (a) 8 pixels, (b)32 pixels, (c) 128 pixels 之 von Mises Strain 分佈 圖。

該結果顯示應變軟體所解析出之平均應 變值約在 10- 4數量級如表 2。因此,在程式

中準確度設為 0.01 pixels 時可以計算出誤差 值為 0.01%。

(5)

Y 方 向平 移量 x ε εy εxy εvM 8 0.7±13.5 0.1±10.4 -0.4±8.4 12.4±8.1 32 -0.7±14.9 0.4± 6.7 -0.6±7.1 11.8±7.0 128 -1.7±15.0 -0.1± 6.5 0.4±9.2 13.7±6.8 表 2: 經應變軟體計算沿+Y 方向平移量 (pixels)之微應變量的平均值及其標準 差X ±SD(×10-5 ) 。 3.2 剛體轉動之分析 此部分實驗是以原始圖片中心為軸,進 行順時針方向轉動,轉動角度分別為 20°、 40°、80°,探討分析軟體是否能夠成功判斷 剛體轉動,以及是否會因為轉動而造成誤差。 (a) (b) (c) 圖 5: 沿順時鐘方向轉動 (a) 20°, (b) 40°, (c) 80° 之 von Mises Strain 分佈圖。

圖 5 分別顯示沿順時針方向轉動 20°、 40°、80°後微應變的分佈,von Mises 應變平 均值約為 10-4,相當於 0.01%。因此,在程式 中準確度設為 0.01 pixels 時可以計算出誤差 值為 0.01%。 沿順時針方向轉動 20°、40°、80°後微 應變量之平均值則紀錄於表 3 中。該結果驗 證了分析軟體成功分析出剛體轉動,表 3 顯 示經剛體轉動,誤差值卻在 10 - 4 數量級之 內,相當於 0.01%。 x ε εy εxy εvM 20° -0.1±14.4 -0.3±13.6 -0.3±10.3 16.3±7.9 40° 0.1±15.2 0.4±15.7 -0.5±11.6 17.6±9.5 80° -0.1±15.7 -0.4±17.0 -0.3±11.5 18.6±8.7 表 3: 經應變軟體計算沿順時針方向轉動角 度 之 微 應 變 量 的 平 均 值 及 其 標 準 差 SD X ± (×10-5 ) 。 3.3 變形過程之微觀應變分佈 在驗證分析軟體之準確性後,對鋁試片 進行平面壓縮應變測試。在試片表面噴覆黑 白兩種噴漆如圖 6 所示,之後再以數位相機 拍攝試片表面為實驗時的起始影像。分別對 試片進行約 5 % 與 8 %之壓縮量後,再以數 位相機拍攝試片變形 5 % 與 8 %後的影像, 利用分析軟體對應變前後之影像進行解析。 圖 6: 未變形前試片的表面。 圖 7 顯示其內部應變分佈情形,藉此可 以清楚觀察出變行過程中,應變分佈係為不 均勻分佈,而表 4 則是各應變量之平均值。 圖 7 中不論是 5 %(a)或是 8 %(b)的應變量所 對應之 von Mises Strain 分佈皆顯示上方產 生較大應變,而下方相對而言則較小,成功 地將塑性變形時所出現的異向性 (anisotropy)

(6)

特徵視覺化[1,2]。

(a)

(b)

圖 7: 平面應變 (a) 5 %, (b)8 %之 von Mises Strain 分佈圖。

x

ε εy εxy εvM

5% 4.5±2.0 -4.6±2.3 -0.12±1.2 5.4±2.5 8% 7.7±3.5 -7.3±3.2 -0.02±2.2 8.9±3.8

表 4: 經平面壓縮(plane strain compression) 應變實驗後微應變量的平均值及其標 準差X ±SD(×10-5 ) 。 四、結論 本研究使用數位光學應變量測法,成功 地分析出微觀應變分佈情形,也可以將變形 過程中的應變分佈視覺化。在本論文中將準 確度設為 0.01 pixels 而其誤差值為 0.01%, 日後將繼續探討準確度小於 0.01 pixels 時其 誤差值。同時也將應用本研發團隊所自行開 發的影像分析應變軟體,進行在不同尺度下 應變分佈之觀測與分析,甚至可以提供在微 奈米尺度下量測應變一個可行的途徑。 誌謝 本研究的經費主要由行政院國家科學委 員 會 支 持 , 計 畫 編 號 為 NSC93-2218-E-006-073。 參考文獻

1. J.C. Kuo, S. Zaefferer, Z. Zhao, M. Winning and D. Raabe. (2003). “Deformation Behavior of Aluminum Bicrystals”,

Advanced Engineering Materials, 5 , p.563.

2. S. Zaefferer, J.C. Kuo, Z. Zhao, M. Winning and D. Raabe. (2003). “On the influence of the grain boundary misorientation on the plastic deformation of aluminum bicrystals”,

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Mechanics, 38(2), p.86.

5. S.S. Russell and M.A. Sutton. (1989). “Strain field analysis aquired through correlation of x-ray radiography of a fiber reinforced composite laminate”,

數據

圖 1:  物體表面上方變形前與變形後次級影 像(格形)之相對位置示意圖。[3]  對每一"次級影像"的相關係數進行最 佳化處理,以最佳化程序決定對應函數之最 佳參數,即可獲得變形前後每一次級影像的 對應座標。應用此變形前後的對應座標即可 計算其各別的位移量,進而獲得位移場。  圖 2:  物體表面上之次級影像(方格)示意圖。  2.2  應變場之計算  Green-Lagrange’s  張量 E 定義為:  [ F F I ]E=T⊗− 21 其中 F 為位移場梯度張量,而 I 為單位 矩陣。張量 E
圖 4:  沿+Y 方向平移  (a) 8 pixels, (b)32 pixels,  (c) 128 pixels  之 von Mises Strain 分佈 圖。
圖 7:  平面應變  (a) 5 %, (b)8 %之 von Mises  Strain 分佈圖。

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