【11】證書號數：I432714
【45】公告日： 中華民國 103 (2014) 年 04 月 01 日
【51】Int. Cl.： G01N21/00 (2006.01) G12B13/00 (2006.01)
發明 全 8 頁 【54】名 稱：光學檢測裝置
OPTICS DETECTING APPARATUS
【21】申請案號：100100191 【22】申請日： 中華民國 100 (2011) 年 01 月 04 日 【11】公開編號：201229489 【43】公開日期： 中華民國 101 (2012) 年 07 月 16 日 【72】發 明 人： 謝達斌 (TW) SHIEH, DAR BIN；詹寶珠 (TW) CHUNG, PAU CHOO 【71】申 請 人： 國立成功大學 NATIONAL CHENG KUNG
UNIVERSITY 臺南市東區大學路 1 號 【74】代 理 人： 劉正格 【56】參考文獻： TW M363899U1 WO 2010/011763A1 US 5029583 審查人員：黃子倫 [57]申請專利範圍 1. 一種光學檢測裝置，用於檢測一組織，包括：一第一本體；以及一第二本體，與該第一 本體連結，並具有一檢測部，該檢測部與該第一本體具有一第一相對位置及一第二相對 位置，其中，於該第一相對位置時，該檢測部係外露，於該第二相對位置時，該檢測部 係由該第一本體遮蓋。 2. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該第一本體具有一裝置校正面，於該 第二相對位置時，該檢測部係面對該裝置校正面。 3. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該檢測部具有至少一發光單元及至少 一光感測單元，該發光單元係用以發出至少一光線，該光感測單元係依據該光線進行感 測。 4. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，更包括：一連結機構，該第一本體係藉由 該連結機構連結於該第二本體，並使該第一本體與該第二本體可相對運動。 5. 如申請專利範圍第 4 項所述之光學檢測裝置，其中該連結機構包含一樞軸、或滑軌、或 彈簧、或卡榫。 6. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該檢測部係藉由移動及/或轉動而由該 第一相對位置改變至該第二相對位置。 7. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，更包括：一切換單元，係設置於該第一本 體及/或該第二本體，當該第一本體與該第二本體位於該第二相對位置時，該切換單元係 被觸發而使該光學檢測裝置進入一自我校正模式。 8. 如申請專利範圍第 7 項所述之光學檢測裝置，其中該切換單元為電子式、光學式、磁感 式、機械觸動式或方位感測式。 9. 如申請專利範圍第 3 項所述之光學檢測裝置，更包括：一控制單元，與該發光單元及該 光感測單元耦接，當該第一本體與該第二本體位於該第二相對位置時，該控制單元於一 4298
-自我校正模式中驅動該發光單元發出一光線，該光線係經由該第一本體而由該光感測單 元接收而產生一光感測訊號，以供該控制單元分析。 10. 如申請專利範圍第 9 項所述之光學檢測裝置，其中該控制單元係比對該光感測單元於不 同時間所產生之該等光感測訊號。 11. 如申請專利範圍第 10 項所述之光學檢測裝置，其中該控制單元係依據比對結果產生一校 正值。 12. 如申請專利範圍第 11 項所述之光學檢測裝置，其中該控制單元係比對該校正值與一參考 值以決定是否控制一提示單元發送一提示。 13. 如申請專利範圍第 3 項所述之光學檢測裝置，更包括：一控制單元，與該發光單元及該 等光感測單元耦接，當該第一本體與該第二本體位於該第二相對位置時，該控制單元於 一自我校正模式中驅動該發光單元發出一光線，該等光感測單元係接收經由該第一本體 之該光線並分別產生一光感測訊號以供該控制單元分析。 14. 如申請專利範圍第 13 項所述之光學檢測裝置，其中該控制單元係比對該等光感測單元所 產生之該等光感測訊號。 15. 如申請專利範圍第 14 項所述之光學檢測裝置，其中該控制單元係依據比對結果產生一校 正值。 16. 如申請專利範圍第 15 項所述之光學檢測裝置，其中該控制單元係比對該校正值與一參考 值以決定是否控制一提示單元發送一提示。 圖式簡單說明 圖 1A 至圖 1D 分別為本發明較佳實施例之一種光學檢測裝置之示意圖； 圖 2 為本發明另一態樣之光學檢測裝置的示意圖； 圖 3 為光學檢測裝置之功能方塊示意圖；以及 圖 4 及圖 5 為本發明之光學檢測裝置的自我校正流程圖。 (2) 4299
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