【11】證書號數：I472739 【45】公告日： 中華民國 104 (2015) 年 02 月 11 日 【51】Int. Cl.： G01N21/17 A61B5/00 (2006.01) (2006.01) G01N21/63 (2006.01) 發明 全 9 頁 【54】名 稱：光學檢測裝置
OPTICAL DETECTION APPARATUS
【21】申請案號：100110789 【22】申請日： 中華民國 100 (2011) 年 03 月 29 日 【11】公開編號：201239333 【43】公開日期： 中華民國 101 (2012) 年 10 月 01 日 【72】發 明 人： 謝達斌 (TW) SHIEH, DAR BIN；詹寶珠 (TW) CHUNG, PAU CHOO 【71】申 請 人： 國立成功大學 NATIONAL CHENG KUNG
UNIVERSITY 臺南市東區大學路 1 號 【74】代 理 人： 劉正格 【56】參考文獻： TW I252929 JP 2008-102009A CN 101421598B US 7689258B1 審查人員：楊謹瑋 [57]申請專利範圍 1. 一種光學檢測裝置，係用以檢測一組織，包括：一罩體；一發光單元，位於該罩體內， 發射至少一波長之光線進入該組織；一光感測單元，感測由該組織射出之光線而產生一 感測訊號；一導電單元，其至少一部分係設置於該罩體之一外表面或設置於該罩體之一 內表面，並傳送一驅動訊號至該發光單元；以及一定位單元，具有至少三訊號傳輸端， 其中一訊號傳輸端與該光感測單元之距離係實質固定。 2. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中罩體為一遮光元件。 3. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該罩體具有一穿孔，該導電單元係通 過該穿孔。 4. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該發光單元係發射具有特定波段之一 光線、或發射不同波長之光線。 5. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該光感測單元位於該罩體之內、或嵌 設於該罩體。 6. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該光感測單元位於該罩體之一外表 面，該外表面為透光。 7. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該 光感測單元包含一光感測元件、複 數光感測元件、或一光感測元件陣列。 8. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該光感測單元包含一分光部及一感測 部，該分光部係將由該組織射出之光線分為複數波長之光線並傳送至該感測部。 9. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該光感測單元包含一解調器及一光感 測元件，該解調器係將由該組織射出之光線進行解調並傳送至該光感測元件。 10. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該該導電單元包含一導電層、或一導 電體、或一導線。 3393
-11. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，其中該該導電單元包含透明導電材料。 12. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，更包括：一處理單元，位於該罩體之外或 之內，並經由該導電單元傳送該驅動訊號以驅動該發光單元。 13. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學檢測裝置，更包括：一連結單元，係與該罩體及該發 光單元連結。 圖式簡單說明 圖 1 為本發明第一實施例之一種光學檢測裝置的示意圖； 圖 2 為本發明藉由分光部進行分光的示意圖； 圖 3 為本發明第一實施例之光學檢測裝置具有定位單元的示意圖； 圖 4 為本發明第一實施例之光學檢測裝置藉由連結單元連結罩體與發光單元的示意圖； 圖 5 為本發明第二實施例之一種光學檢測裝置的示意圖； 圖 6 為本發明第三實施例之一種光學檢測裝置的示意圖；以及 圖 7 為本發明第四實施例之一種光學檢測裝置的示意圖。 (2) 3394
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