第二章 理論背景
2.1 低同調干涉術與系統解析度
2.1.1 低同調光源
同調性光源是指光源具有一波長範圍的光譜,也就是由不同波長 的光所組合而成的寬頻光源,一般功率頻譜呈現高斯分佈的狀態,在 高斯分佈的功率頻譜中,最高值即為此光源的發光頻率,也稱作中心 波長。由於其頻寬較寬,也就是此光源包含各個不同頻率的光,因此 產生的各頻率的光波之間相位沒有固定的關聯性,所以同調度較差甚 至為非同調光。
由於光源的同調性會影響直接光干涉的情況,因此使用低同調光 源時,由於其同調距離很短,大約只有數十微米甚至以下,若是參考 光束與訊號光束的光程產生差異時,就無法產生干涉訊號,如圖2.1。
所以我們可藉此特性作為精密量測使用。
圖2.1 干涉條紋亮度與光路徑位置關係圖
一般實驗室使用的低同調光源有弧光燈,發光二極體,寬頻短脈 衝雷射等等,本論文中的極化光學同調斷層攝影系統使用超發光二極 體(Superluminescent Diode,SLD )做為量測光源。
2.1.2 低同調干涉術(Low coherence interferometry)
圖 2.2 是 一 個 基 本 的 麥 克 森 干 涉 儀 架 構 (Michelson interferometer),當雷射光從光源端射出時,遇到分光鏡(BS)將光分為 兩道,一道穿透分光鏡往 M2,一道被分光鏡反射往 M1,再分別從 M1 及 M2 兩面反射鏡將光線反射回原路徑,在分光鏡合成後往偵測 器(detector)方向行進,由偵測器接收光訊號,而偵測器所接收到的光 訊號是由這兩道光相加後的光強度。
Light source
detector
M2 M1
E
1E
2BS
圖2.2 基本的麥克森干涉儀架構
假設兩道光的電場分別為E1和E2,則在偵測器端所接收到的強度為:
γ12(τ) 稱 為 同 調 度 (degree of coherence) , Γ12(τ) 稱 為 同 調 函 數
則半高寬值可表示成:
2.1.3 縱向解析度(longitudinal resolution)
在影像系統中,解析力的判斷是利用The Rayleigh Criterion 來定 義的,如果其中一個物體的點擴散函數(Point Spread Function;PSF) 的中央最大值和另一個點擴散函數的第一個零值重合時,則這兩個物 體恰好可以被分辨出來,根據The Rayleigh Criterion 的定義,如果一 個影像系統的點擴散函數是呈高斯函數分佈的話,那系統可以分辨的 這兩個物體他們的距離就是系統點擴散函數的半高寬值,如果兩點間 的距離小於這個值,則量測到的這兩個點的訊號會混合成一個,而無 法分辨,如下頁圖2.3 所示。
中央最大值
第一個零點
(a) (b) (c)
圖2.3 解析力說明圖(a)兩點可分辨(b)兩點恰可分辨(c)兩點不可分辨
因此我們以 The Rayleigh Criterion 來定義低同調干涉術的縱向解析 度。由(2.12)式可以知道低同調干涉術的干涉訊號也是決定於使用的 光源頻譜,若是頻譜呈高斯分佈,而同調長度也是系統量測到的訊號 的半高寬值。由於系統量到的訊號就是系統的點擴散函數,因此定義 縱向解析度為同調長度的一半[20],除以二是由於在麥克森干涉儀的 架構下,光程差是真實距離的兩倍,因此同調長度轉換到真實距離的
時候要除以二,故縱向解析度為:
λ λ λ
λ
π ≅ ∆
= ∆
2 2c
2ln2 0.44
2
l
(2.13)由(2.13)式可以得知,藉由所選取光源的中心波長與頻寬可以算出縱 向解析度,但為了避免生物組織中各項成分與細胞吸收(如圖 2.4 所 示)[21]及熱傷害,通常選擇紅外光到近紅外光之間的波段,而光源的 頻寬越寬,系統的解析力也越好。
圖2.4 光源波長與組織吸收關係圖
2.1.4 橫向解析度 (Lateral resolution)
光學同調斷層攝影術是以 2.1.2 節所提到的低同調干涉術為基礎 作縱向的掃描,再搭配橫向掃描而得到二維的斷層影像,縱向的解析 度在2.1.3 節已作說明,而橫向解析度的部份將在本節作介紹。
當進行掃描時,通常會將樣品端的光束已物鏡聚焦,使其成為一 個光學探頭,才能對樣品做探測及解析。
假設一道平行光,光場在空間中的強度分佈為高斯分佈,直徑為 D,當經過一個焦距為f的透鏡時,平行光會在焦點聚焦,而聚焦點的 光斑(Airy disk)大小為w0,則:
D f w
02
π
= λ
(2.14)若是使用此光束的系統,其空間上的解析力就是光斑的直徑2w0。
圖2.5 高斯光場分佈聚焦點大小以及景深示意圖
由高斯分佈的光場強度去推導,可以得到光場在空間中的強度分佈以
低數值孔徑的透鏡,雖然在橫向解析力較差,但可減少影像失真的程 度,若要得到高橫向解析力,又不想讓影像失真的情況太嚴重,在掃 描的時候可使用高倍率物鏡但需要讓光束的聚焦點隨著掃瞄的深度 一起移動,也就是動態聚焦的原理[22]。本論文中,由於以斷層影像 為研究重點,因此在樣品前使用低倍率(10 倍)或低數值孔徑(N.A.
=0.25) 的物鏡將雷射光束聚焦以減少影像失真的程度。
2.2 頻域光學同調斷層攝影術(Spectral domain OCT)
頻域光學同調斷層攝影術(Spectral domain OCT,SD-OCT)的實驗 架構與時域光學同調斷層攝影術(Time domain OCT,TD-OCT)的實驗 架構很相似,主要有兩項差別,第一項是SD-OCT 參考端的反射鏡是 不動的,因為SD-OCT 不需要有掃瞄機制來改變參考端與樣品端的光 程差以取得樣品軸向深度的訊號,而 TD-OCT 需要有掃瞄機制,第 二項是 SD-OCT 的接收端是光譜儀,而 TD-OCT 的接收端是光偵測 器,圖2.6 與圖 2.7 分別為 TD-OCT 與 SD-OCT 基本架構。
圖2.6 TD-OCT 系統架構
圖2.7 SD-OCT 系統架構
如圖 2.7 所示,頻域光學同調斷層攝影術(SD-OCT)主要是利用 寬頻光源,搭配十字型麥克森干涉儀(Michelson interferometer),和頻 譜儀(Spectrometer)加上 CCD 偵測器陣列量測干涉頻譜的技術,在圖 2.7 中所使用的低同調(Low coherence)的寬頻雷射光源為超亮發光二 極體(SLD),寬頻光經由分光鏡(Beam spliter,BS)被分成兩道光,一 道光到達參考端(reference arm),並且由參考端靜止的反射鏡反射參 考光回接收端,一端到達樣品端(sample arm),樣品裡在不同深度有 不同反射光或散射光最後回到接收端,接收端同時接收到樣品端與參 考端的反射光而產生干涉訊號,頻譜儀(Spectrometer)是主要由光柵組 成,干涉訊號經由光柵分光打到不同的偵測器上,就可得到不同波段 的干涉訊號強度,即干涉頻譜,樣品不同深度的反射光與參考光干涉
會產生不同頻率的震盪(Oscillations),震盪的頻率與光程差成正比,
即在樣品裡軸向深度越深的反射光震盪的頻率越大,所以將這些頻域 的干涉訊號經過傅利葉反轉換後,就可得到時域上的干涉訊號,因此 就可得到樣品軸向的深度資訊。
2.3 掃瞄式光源之光學同調斷層攝影術(Swept Source OCT)
頻域光學同調斷層攝影術(Spectral domain OCT,SD-OCT)提供在 低散射器官接近理想的功效,例如眼睛(eye),但在某些組織上的應用 還是會被限制,例如在上皮組織(epithelial tissues)的研究。上皮組織 的研究是大部分人很感興趣的,因為人類有大多數的癌症都發生在表 面的組織層,例如線狀的中空臟器(lines hollow organs)和上皮組織 (epithelial tissues),線狀的中空臟器有結腸(colon)、食道(esophagus)、
乳腺(breast ducts)等,在上皮組織(epithelial tissues)有高密度的細胞器 (cellular organelles),例如線粒體(mitochondria)、細胞核(nuclei)、細胞 膜(cellular membranes)等,這些高散射介質會限制短波長光的穿透深 度,而頻域光學同調斷層攝影術(Spectral domain OCT,SD-OCT)使用 的是短波長範圍(小於 1000nm)的光源,因為 SD-OCT 偵測端是使用 矽(silicon-based)的 CCD 偵測器,這些偵測器無法操作在波長高於 1000nm 的範圍,因此 SD-OCT 在某些組織上的應用會被限制。要使 用OCT 成像於上皮組織(epithelial tissues)或一些非生物樣品,就需要 將 波 長 操 作 在 1000~ 1300nm 才能得到我們想要的高穿透深度 1~3mm。
另一種使用傅利葉偵測(Fourier domain detection)方式的掃瞄式
光源之光學同調斷層攝影系統(Swept source OCT systems),使用的光 源為快速頻率掃瞄的雷射光源(rapid frequency-swept laser source),偵 測端使用的是 GaAs 光偵測器,光源波長操作在 1000~1300nm,因 此掃瞄式光源之光學同調斷層攝影系統(Swept source OCT systems) 能成像在SD-OCT 不能成像的上皮組織(epithelial tissues)或一些非生 物樣品,且達到1~3mm 的高穿透深度。
掃 瞄 式 光 源 之 光 學 同 調 斷 層 攝 影 系 統 (Swept source OCT systems,SS-OCT)的架構與頻域光學同調斷層攝影術(SD-OCT)的架 構相似,主要的不同處有兩個地方,第一在於光源的不同,SS-OCT 使用的的是掃瞄式的雷射光源(Swept Laser Source),光源波長會隨著 時間變化,第二在於接收端偵測器的不同,SS-OCT 使用的是單一個 光偵測器,其架構如圖2.8 所示。
Computer : - Fourier transform - Image generation
A/D converter
BS Swept Laser Source
Mirror (static)
sample Z X
Photo-detector
A B C
A B C sample arm
reference arm
Z=0
Z=0
Fourier transform
圖2.8 SS-OCT 系統架構
第三章 實驗架構、原理與方法
本章將介紹實驗中所使用到的儀器、並簡介SS-OCT 系統,另外 說明實驗方法,如:量測生物樣品時所需要之準備。
3.1 實驗儀器與系統架構 3.1.1 光源
本實驗所使用的是掃瞄式光源之光學同調斷層攝影系統(Swept Source Optical Coherence Tomography,SS-OCT),而此系統使用的光 源為寬頻掃瞄式光源(Broadband Swept Laser Source),其規格如表3.1 所示。
表3.1 光源規格
此寬頻掃瞄式光源(Broadband Swept Laser Source)是用很快的速 度掃出一個很寬的波長範圍,其波長掃瞄速率大約為 20kHz,掃瞄寬 度為100nm,這使得 SS-OCT 系統有著 12μm(在空氣裡)的高縱向解 析度,其光源功率頻譜如圖3.1 所示。
Output spectrum of the laser.
The Broadband Swept Laser Source supports 20 kHz
wavelength sweeping rate with a 3 dB spectral bandwidth up to 100 nm, centered at 1325nm.
100nm
圖3.1 寬頻掃瞄式光源(Broadband Swept Laser Source)頻譜圖
3.1.2 SS-OCT 系統架構
本實驗所使用的是掃瞄式光源之光學同調斷層攝影系統(Swept Source Optical Coherence Tomography,SS-OCT),實驗架構大部分為 光纖結構,光源(Swept Laser Source,SLS)出來之後由光纖分光器 (Fiber coupler)分成兩條光纖(Fiber),光源有一小部分從其中一條光纖 進入到馬赫-詹德干涉儀記錄器(Mach-Zehnder Interferometer clock,
MZI clock),此部分最後會得到 MZI clock signal(MZI SIG.)進入平衡 式偵測器(balanced detector,BD)再進入 DAQ 的 CH1。光源的主要部
分則進入另外一條光纖到一個光纖式的麥克森干涉儀(Michelson interferometer),由其中分光比為 50/50 的寬頻光纖分光器(Fiber coupler)將光源分為兩部分,一部份進入到參考端(Reference arm),參 考端的光源先進到自由空間(free space)再打到靜止的反射鏡,再將光 源打回接收端的平衡式偵測器(balanced detector,BD),另一部份進 入到樣品端(Sample arm),樣品端的光源進到自由空間(free space)之 後經由雙軸 XY galvo 掃瞄鏡子打在樣品(Sample)上,最後將樣品的 反射光打回接收端的平衡式偵測器(balanced detector,BD),參考端 與樣品端的光源會在接收端產生干涉訊號,即 OCT signal(OCT SIG.),此主要 OCT 訊號進入 DAQ 的 CH2,因為光源為掃瞄式光源 (Swept Laser Source,SLS)所掃瞄的光源頻譜會有間距不一樣的情 形,所以最後得到的OCT signal(OCT SIG.)必須在頻譜上作校正,這
分則進入另外一條光纖到一個光纖式的麥克森干涉儀(Michelson interferometer),由其中分光比為 50/50 的寬頻光纖分光器(Fiber coupler)將光源分為兩部分,一部份進入到參考端(Reference arm),參 考端的光源先進到自由空間(free space)再打到靜止的反射鏡,再將光 源打回接收端的平衡式偵測器(balanced detector,BD),另一部份進 入到樣品端(Sample arm),樣品端的光源進到自由空間(free space)之 後經由雙軸 XY galvo 掃瞄鏡子打在樣品(Sample)上,最後將樣品的 反射光打回接收端的平衡式偵測器(balanced detector,BD),參考端 與樣品端的光源會在接收端產生干涉訊號,即 OCT signal(OCT SIG.),此主要 OCT 訊號進入 DAQ 的 CH2,因為光源為掃瞄式光源 (Swept Laser Source,SLS)所掃瞄的光源頻譜會有間距不一樣的情 形,所以最後得到的OCT signal(OCT SIG.)必須在頻譜上作校正,這