問題解決成效之相關性探討

本研究為達到研究目的，以德霖技術學院電子工程科學生為受試樣 本，將其區分有不同之部別(日間部與進修部)、微處理機介面電路系統先 備知識和學習態度。受試者於實施微處理機介面電路系統所出現之各項問 題解決行為，則區分有四大類：一、瞭解類別行為；二、計畫類別行為；

三、檢視類別行為；四、執行類別行為。本研究所指問題解決成效包括受 試者於進行微處理機電路系統問題解決時所得的結果，包括下列：

一、通過與否：指受試者能使電路獲得正確輸出結果(通過)，未能使 電路獲得正確輸出結果(未通過)。

二、成就分數：指受試者於實驗過程中，研究者以基本技能、搜尋故 障問題點、完成問題解決與解題時間等五個向度，進 行評量所獲得的分數。

本研究為瞭解於進行微處理機介面電路系統問題解決時，不同部別受 試者所具有的微處理機介面電路系統先備知識、學習態度與微處理機介面 電路系統問題解決成效間之相關性，於實施前先行對受試者以「微處理機 介面電路系統先備知識測驗卷」進行測驗，獲得受試者先備知識的程度，

並以「微處理機介面電路系統學習態度問卷」對受試者進行施測，以瞭解 其學習態度，最後再進行有聲思考實驗，併記錄其問題解決之成效(通過與 否、成就分數)。

本研究運用的統計分析方法抱括：ψ相關、點二系列相關、皮爾遜積 差相關等，分述如下：

一、ψ相關：

探討於進行微處理機介面電路系統問題解決時，不同部別(日間部 /進修部)之受試者，問題解決成效(通過與否)之相關情形。

二、點二系列相關：

1.探討於進行微處理機介面電路系統問題解決時，受試者所具有

的先備知識、學習態度與問題解決成效(通過與否)之相關情形。

2.探討於進行微處理機介面電路系統問題解決時，不同部別之受 試者與問題解決成效(成就分數)之相關情形。

三、皮爾遜積差相關：

探討於進行微處理機介面電路系統問題解決時，受試者所具有之 先備知識、學習態度與問題解決成就分數之相關情形。

為瞭解問題解決成效(通過與否、成就分數)與「部別」、「先備知識」、

「學習態度」間之相關情形，以下就不同的統計分析方法來進行探討，分 述如下：

壹、「通過與否」與「部別」之相關性

本研究以ψ相關驗証方法，來瞭解不同部別(日間部/進修部)受試者，

在進行微處理機介面電路系統問題解決時，是否能順利通過之相關情形。

經驗証得(r = -.047)，P>.05)，顯示兩者間具負相關(統計分析時，日間部以 正值為代碼，進修部以負值為代碼)，但未達顯著水準，亦即於進行微處理 機介面電路系統時，進修部受試者比日間部受試者通過的可能性較高。

貳、「通過與否」與「先備知識」之相關性

本研究以點二系列相關驗証方法，來瞭解不同先備知識之受試者，在 進行微處理機介面電路系統問題解決時，是否能順利通過之相關情形。經 驗証得(r = .354*，P<.05)，兩者間具正相關，且達顯著水準，因此於進行 微處理機介面電路系統介面電路系統問題解決時，受試者先備知識愈高，

其通過的可能性愈高，先備知識愈低時，其通過的可能性就愈低。

參、「通過與否」與「學習態度」之相關性

本研究以點二系列相關驗証方法，來瞭解不同學習態度之受試者，在

進行微處理機介面電路系統問題解決時，是否能順利通過之相關情形。經 驗証得(r = .047，P>.05)，兩者間具正相關，但未達顯著水準，顯示於進行 微處理機介面電路系統介面電路系統問題解決時，學習態度較佳之受試 者，其通過之可能性較高，反之若受試者學習態度較差時，其通過之可能 性則較低。

肆、「成就分數」與「部別」之相關性

本研究以點二系列相關驗証方法，來瞭解不同部別(日間部/進修部)之 受試者，在進行微處理機介面電路系統問題解決時，其獲得成就分數之相 關情形。經驗証得(r = .231，P>.05)，兩者間具正相關，但未達顯著水準，

顯示於進行微處理機介面電路系統問題解決時，日間部受試者所獲得的成 就分數較進修部受試者高。

伍、「成就分數」與「先備知識」之相關性

本研究以皮爾遜積差相關驗証方法，來瞭解具不同先備知識之受試 者，於進行微處理機介面電路系統問題解決時，其所獲得成就分數之相關 情形。經驗証得(r = .465*，P<.05)，兩者間具正相關，且達顯著水準，顯 示於進行微處理機介面電路系統問題解決時，受試者具備的先備知識愈 高，其所獲得的成就分數就愈高，而先備知識愈低之受試者，其所獲得的 成就分數就愈低。

陸、「成就分數」與「學習態度」之相關性

本研究以皮爾遜積差相關驗証方法，來瞭解不同學習態度之受試者，

於進行微處理機介面電路系統問題解決時，其所獲得成就分數之相關情 形。經驗証得(r = .174，P>.05)，兩者間具正相關，但未達顯著水準，顯示 於進行微處理機介面電路系統問題解決時，學習態度較佳之受試者，其所

獲得之成就分數就較高，學習態度較差之受試者，其所獲得之成就分數則 較低。

綜合以上可知，於進行微處理機介面電路系統問題解決時，其問題解 決成效(通過與否、成就分數)與「部別」、「先備知識」、「學習態度」之相 關情形，歸結如下：

一、受試者不論來自日間部或進修部，其是否通過測試，皆未達顯著 水準，顯示其無顯著之差異性，惟由相關係數可知，日間部受試 者成就分數較進修部受試者高，而進修部受試者則較日間部受試 者通過的可能性高。

二、受試者不論來自日間部或進修部，先備知識與成就分數之相關係 數，皆達顯著水準，顯示其具有顯著之差異性，因此受試者所具 備之先備知識愈高時，其通過的可能性愈高，若其先備知識愈 低，則其通過的可能性愈低。

三、受試者不論來自日間部或進修部，其學習態度與成就分數之相關 係數，皆未達顯著水準，顯示其無顯著之差異性，惟由ψ相關係 數可知，受試者學習態度愈佳時，其所獲得之成就分數就愈高，

若其學習態度愈差時，其所獲得之成就分數就愈低。