「瞭解類別」

第四章 資料分析與討論

為瞭解不同受試者於進行微處理機介面電路系統問題解決時所出現 之各類行為，於進行有聲思考錄音及錄影後，將原案轉譯為文字，並進行 事後之晤談，以了解受試者於實驗時之原意，進而完成有聲思考原案內容。

本研究於德霖技術學院介面技術實驗室進行，擇定日間部及進修部學 生為受試者；共分四組每組 13 人，共計有 52 人，一、日間部高先備知識 組，以 DH 為代碼。二、日間部低先備知識組，以 DL 為代碼。三、進修部 高先備知識組，以 NH 為代碼。四、進修部低先備知識組，以 NL 為代碼；

實施進行期間為 94 年 1 月至 3 月中旬。

為確保編碼者之信度，於實施有聲思考後，隨機擇定 15 份原案內容加 以試編碼，經整理分析後，獲得編碼者一致性信度為 88.38%，一致性相當高。

於有聲思考實施過程中，同步進行受試者問題解決成就評分，為免評 分過於主觀，由研究者與另一位資深教師各自評分，並求得平均數加以紀 錄，詳見附錄八。而後研究者將 52 位受試者之原案內容一一進行編碼，

並依已建構之「微處理機介面電路系統問題解決行為架構分類表」之代碼 系統依序進行編碼。由於受試者人數眾多，編碼步驟非常耗時，內容亦頗 多需再三確認；經一個多月之編碼與確認終將原案內容完整呈現，詳見附 錄十。

於有聲思考實施過程中，同步進行受試者問題解決成就評分，為免評 分過於主觀，由研究者與另一位資深教師各自評分，並求得平均數加以紀 錄，詳見附錄八。

原案內容經編碼完成後，隨即進行行為次數之統計與分析，以統計軟 體就本研究之研究目的進行分析與討論，並以質性描素進行歸納與討論。

第一節 受試者問題解決行為原案內容與編碼之分析與討論

本研究於進行有聲思考錄音、錄影實施前，為避免受試者因不瞭解本 研究實施之目的與程序，產生無法順利進行的情況發生，因此於實驗前先 行對所有受試者進行有聲思考指導後，再進行本研究之實驗，有聲思考指 導語詳見附錄十。

本研究之實驗部份完成後，經轉譯為原案內容後再行編碼；首先依據

「微處理機介面電路系統問題解決行為架構分類表」之各項行為分類，經 編碼者一致性信度考驗後，再加以逐一編碼。除根據錄音及錄影轉譯之原 案內容外，如有無法明確分辨之內容，另再進行個別受試者事後晤談，以 釐清受試者之原意。

本研究編碼程序及內容，詳見表 4-1 原案分析範例中所示，表中共有 3 個欄位，「原案資料」、「問題解決行為」與「解題時間」，其中「原案資 料」欄位是詳實記載錄音的文字內容，其內之號碼為行為分類之編號，可 參見表 3-9 中之編號。「問題解決行為」欄位是由研究者依據「微處理機 介面電路系統問題解決行為架構分類表」所定義之問題解決行為代碼，逐 一編碼所得。「解題時間」欄位則是每位受試者參與實驗所花費的解題時 間，經研究者於實驗過程中逐一記載獲得。

為免耗時太久，經隨機選取 3 位受試者，先行進行本研究有聲思考實施後，

大致上能順利的將問題解決所需之時間約於 30 分鐘之內，因此經考量各項 因素後，本研究限制受試者每人最多給予 30 分鐘時間進行問題解決；受試 者若於 30 分鐘內獲得正確的輸出結果，研究者將其記載為通過組，並於 原案分析事例表之「解題時間」欄加以記錄，以供日後進一步探討之需；

如受試者於 30 分鐘內無法獲得正確的輸出結果，研究者則將其記載為未 通過組，並於原案分析事例之「解題時間」欄位中，記錄為 30 分鐘。

表 4-1 原案分析事例表

原案資料 問題解決行為 解題時間

T:開始!

M:我現在先來測試這是不是好的，我先來打程式 SEVENSEG 800 它沒有動(23)，所以我先來檢查它 是哪裡出問題了，我先檢查 IC 看是不是好的！

T:你先檢查哪個 IC?

M:我先檢查 74688，來測量 74688 它是好的(11)，把 它插回去再來檢查 74138，看它是不是好的？

74138 它有問題，我換個新的(19)，所以我換個 74138 先作測量(11)，它是好的，我把它插回去。

T:你裝好了嗎?

M:還沒!它接腳歪掉了…我插好了(17)!我測出 74244 看它是不是好的？我把它拆下來測量，它是 好的，(11)所以我把它插回去，我再重新測一次 看是不是好的？(11)它還是出現問題，所以我現 在要檢查解碼器看有沒有問題(9)？它的解碼電 路接 8255 的是 741383，有一條線要接到 8255，

那條是？

T:你現在檢查哪裡？

M:我現在檢查解碼電路解碼電路，它要從 74138 的 15 隻腳接到 8255 的第 7 隻腳(14)，然後指撥開關 它要調 74688 接到要把它調成 ON(12)。

M:我用電腦除錯解碼電路看是否正確(15)！解碼器 沒問題，再來我檢查七段顯示器，它從 74244 的 第 18 隻腳接到七段顯示器(14)。

T:你現在是拆掉重接嗎?

M:對~74244 的第 16 支腳接到第 2 隻(20)，74244 的 第 14 隻腳(20)，再來是 74244 的第 12 隻腳(20)，

再來是 74244 的第 9 隻腳(20)，再來是 74244 的 第 5 隻腳(20)，再來是 74244 的第 3 隻腳(20)，

再來是最後一支(20)，再來檢查另一個七段顯示 器看是否錯誤？

M:發現錯誤！它顛倒了！把它拔起來再插回去 (18)，再檢查第 3 隻腳第 4、5、6、7..8 沒有錯 誤(14)？現在檢查七段顯示器的跳線沒有錯誤 (14)，再插回去(12)！然後它的指撥開關扳錯 了，要接到 8255 的是開 ON，要接到七段顯示器，

現在接回電腦看是否正確？SEVENSEG 800 正確 (23)。

T:結束了成功~!

4.8

3.3

4.4 3.3 4.2

3.3 3.3 3.1

3.6 3.4 3.7 3.6

4.5 4.5、4.5

4.5 4.5、4.5

4.5

4.3 3.6 3.6 3.4 4.8

9 分 49 秒

第二節 不同受試者問題解決行為之分析與討論

本節旨在分析與討論 52 位受試者於進行微處理機介面電路系統問題 解決時，各類行為出現的次數與統計狀況，詳細說明如下：

為瞭解受試者於進行微處理機介面電路系統問題解決之各項行為，採 用本研究所歸納整理「微處理機介面電路系統問題解決行為架構分類表」

之分類，來進行歸納與分析，詳見表 3-7。

表 4-3 顯示，受試者於進行微處理機介面電路系統問題解決時，各項 行為出現的情況，說明如下：

一、「瞭解類別」：佔百分比 4.6%（包括 1.1、1.2、1.3、1.4 共四項 行為項目）

二、「計畫類別」：佔百分比 8.3%（包括 2.1、2.2、2.3、2.4 共四項 行為項目）

三、「檢視類別」：佔百分比 41.6%（包括 3.1、3.2、3.3、3.4、3.5、

3.6、3.7 共七項行為項目）

四、「執行類別」：佔百分比 39.2%（包括 4.1、4.2、4.3、4.4、4.5、

4.6、4.7、4.8 共八項行為項目）

其中「檢視類別」之行為項目出現次數最多(佔 41.6%)，顯示受試者 對於問題的檢視較為重視，且認為是問題能否順利解決的主要關鍵。

另為進一步瞭解在不同專業領域之研究中，是否獲致有不同的結果，

本研究就下列相類似之研究加以比較與進一步分析。詳見表 4-2。

表 4-2 不同專業領域之行為分析比較表 編

號

專業

領域 研究論文 出現次數最多

行為類別 出現次數最多之行為項目

一 數學

劉錫麒(民 78)「國小高年 級學生數學解題歷程及其 相關因素的研究」

「瞭解類別」

39%

「逐步執行或運用」

28.54%

二 工程視圖

鍾瑞國(民 88)「提升五專 學生解決工程製圖中正投 影視圖問題能力之研究」

「執行類別」

57.48%

「繪各視圖的外形線及投影線」

40.76%

三 機電整合 電路系統

顏晴榮(民 90)「機電整合 電路系統故障檢修行為之 分析研究」

「搜尋故障點類別」

62.21%

「目視」

37.32%

四

微處理機介 面電路系統 (本研究)

林清芳(民 94)「技術學院 學生學習微處理機介面電 路系統之問題解決行為分 析研究」

「檢視類別」

41.6%

「目視檢視」

13.7%

資料來源：本研究整理

於劉錫麒(民 78)數學解題研究中發現，歸類於「瞭解類別」之行為項 目出現次數最多(佔百分比 39%)，行為項目則以「逐步執行或運算」次數 出現最多，佔總次數之 28.54%；而於鍾瑞國(民 88)工程正投影視圖研究 中發現，歸類於「執行類別」之行為項目出現次數最多(佔百分比 57.48%)，

行為項目則以「繪各視圖的外形線及投影線」出現次數最多，佔總次數之 40.76%；另於顏晴榮(民 90)機電整合電路系統研究中發現，歸類於「搜尋 故障點類別」之行為項目出現次數最多(佔百分比 62.21%)，行為項目則以

「目視」出現次數最多，佔總次數之 37.32%。本研究所進行之微處理機介 面電路系統之問題解決行為分析探討，經實施與整理得知，其中以「檢視 類別」之行為項目次數出現最多 (佔百分比 41.6%)，行為項目則以「目視 檢視」出現次數最多，佔總次數之 13.7%。

由表 4-2 可觀察出不同專業領域的問題解決者於問題解決時，所採取

的行為有其差異性；數學領域的問題解決者常將重心投注在「瞭解類別」

行為中，並於實施過程遭遇到困難時，重新去嘗試瞭解題目的原意，看是 否能從題目中找出解決的策略，以求得正確答案。工程視圖領域的問題解 決者則將注意力集中在「執行類別」行為中，此點顯示可能與工程視圖方 面較強調描繪能力有關。機電整合電路系統領域則可能較為強調問題發生 原因的搜尋與解決，倘若無法快速的搜尋出問題，可能無法進行下一步的 整修行為，因此較為重視問題的搜尋能力。本研究經實施後，發現有關微 處理機介面電路系統領域的問題解決行為，其所出現的統計資料與機電整 合電路系統領域頗為類似，可能與同屬電子、電機等工程領域有關，經比 較後甚至發現受試者皆採「目視檢視」(兩者出現次數百分比皆佔總次數 之第一位)來進行問題搜尋，顯示電子、電機等工程領域於問題決時，除 需要各類不同的儀器檢測之外，能否以目視檢視先期搜尋出問題徵候，亦 是至為重要之關鍵。

表 4-3 受試者微處理機介面電路系統問題解決行為次數與百分比統計表

行為

類別 編號 問題解決行為

分類代碼 累計次數 佔總次數的百 分比(%)

分類 百分比%

1 1.1 10 0.6 2 1.2 8 0.5 3 1.3 60 3.5

瞭解

4 1.4 8 0.5

4.6

5 2.1 17 1.0 6 2.2 38 2.2 7 2.3 60 3.5

計畫

8 2.4 19 1.1

8.3

9 3.1 237 13.7 10 3.2 13 0.7 11 3.3 173 10.1 12 3.4 79 4.6 13 3.5 24 1.4 14 3.6 193 11.1

檢視

15 3.7 115 6.6

41.6

16 4.1 54 3.1 17 4.2 7 0.4 18 4.3 10 0.6 19 4.4 60 3.5 20 4.5 224 12.9 21 4.6 56 3.2 22 4.7 69 4.0 23 4.8 199 11.5

39.2

執行

總計 1733 次 資料來源：本研究整理

本研究受試者於進行微處理機介面電路系統問題解決時，限制受試者 於規定的實施時間內(30分 鐘)必須將問題解決，因此通過測試之受試者(實 驗結果輸出正確)，不論其實施的策略如何，經研究者實際觀察與查閱原 案記錄可知，通過測試之受試者花費的解題時間較短，且所出現的各類行

為次數平均亦較少，且所出現之問題解決行為次數較屬常態分配。而未通 過測試之受試者(實驗結果輸出不正確)於規定的時間內無法完成，依據研 究者實際觀察整個實驗過程發現，未通過之受試者因不明原因(可能是於 瞭解、計畫、檢視或執行等類別)，重覆出現若干特定行為，研究者判斷 未通過之受試者發生走入死巷的狀況，而致使若干行為出現的次數暴增，

因此於行為次數統計上發現其標準差之數值許多皆較平均數為高，故其行 為次數之分佈屬偏態情形。本研究原設計以變異數分析探討受試者之行為 差異，以區別分析探討影響學習成效的各項原因，並以逐步多元迴歸分析 來瞭解各變項對微處理機介面電路系統問題解決成效的影響。但於有聲思 考實施完成後，經原案產生並加以編碼後發現，實驗結果數據偏態情形頗 為嚴重，原設計之統計推論無法繼續進行；經指導教授指導與建議後，修 正本研究分析與討論的方式，改以次數分配與百分比來進行差異性探討，

以ψ相關、點二系列相關與皮爾森積差相關，進行相關情形之分析與討 論；並以χ²卡方檢定，瞭解不同受試者於先備知識、學習態度不同時所出 現之類別行為是否有顯著的差異性，最後就影響問題解決成效之類別，以 質性描素做進一步的探討。

第三節 不同部別受試者問題解決行為之分析與討論

本研究為瞭解不同部別受試者於微處理機介面電路系統問題解決 時，其所出現的行為是否有不同？並依受試者來源之不同，予以區分為日 間部與進修部，並將行為項目區分為四大類（瞭解、計畫、檢視與執行）

來加以探討。

表 4-4 顯示不同部別(日間部與進修部)受試者行為差異的情形，詳細 討論如下：

一、日間部受試者出現之行為項目百分比較高之前三項為：

1. 4.5 接線調整，佔百分比 16.4%。

2. 3.1 目視檢視，佔百分比 12.9%。

3. 3.6 接線分析檢視，佔百分比 11.7%。

由以上可知，日間部受試者於問題解決時，出現較多次數的為 4.5 接 線調整行為項目；而於檢視類別中，又以 3.1 目視檢視行為項目為主，3.6 接線分析檢視行為項目為輔。

二、進修部受試者出現之行為次數較高之前三項為：

1. 3.1 目視檢視，佔百分比 14.5%。

2. 4.8 驗証結果，佔百分比 14.3%。

3. 3.6 接線分析檢視，佔百分比 10.6%。

由以上可知，進修部受試者於問題解決時，出現較多次的為 3.1 目視 檢視行為項目，「檢視類別」以 3.1 目視檢視行為項目為主，而以 3.6 接 線分析檢視行為項目為輔。至於在「執行類別」中則以 4.8 驗証結果為主 要之行為項目。

表 4-4 不同部別受試者微處理機介面電路系統問題解決行為分類統計表[四大類]

部別

日間部 進修部

行為

分類 問題解決行為

次數 % 次數 %

次數 百分比 (%)

分類百分 比(%)

1.1 瞭解題意 6 0.7 4 0.5 ^{10 0.6}

1.2 分析題意 7 0.8 1 0.1 ^{8 0.5}

1.3 質疑或發問 41 4.6 19 2.3 ^{60 3.5}

瞭解

1.4 重新解釋條件或目標 7 0.8 1 0.1 ^{8 0.5}

4.6

2.1 運用替換法 6 0.7 11 1.3 ^{17 1.0}

2.2 運用二分法 20 2.2 18 2.1 ^{38 2.2}

2.3 運用嘗試錯誤法 28 3.1 32 3.8 ^{60 3.5}

計畫

2.4 回憶相關原理、程序或方法 11 1.2 8 1.0 ^{19 1.1}

8.3

3.1 目視檢視 115 12.9 122 14.5 ^{237 13.7}

3.2 三用電表視 2 0.2 11 1.3 ^{13 0.7}

3.3 IC 測試器檢視 91 10.2 82 9.7 ^{173 10.1}

3.4 電路分析檢視 30 3.4 49 5.8 ^{79 4.6}

3.5 元件分析檢視 7 0.8 17 2.0 ^{24 1.4}

3.6 接線分析檢視 104 11.7 89 10.6 ^{193 11.1}

檢視

3.7 除錯程式檢視 50 5.6 65 7.7 ^{115 6.6}

41.6

4.1 元件接腳壓 41 4.6 13 1.5 ^{54 3.1}

4.2 元件接腳正 5 0.6 2 0.2 ^{7 0.4}

4.3 元件腳位換 6 0.7 4 0.5 ^{10 0.6}

4.4 元件更換 23 2.6 37 4.4 ^{60 3.5}

4.5 接線調整 146 16.4 78 9.3 ^{224 12.9}

4.6 接線重接 44 4.9 12 1.4 ^{56 3.2}

4.7 指撥開關撥正 22 2.5 47 5.6 ^{69 4.0}

執行

4.8 驗証結果 79 8.9 120 14.3 ^{199 11.5}

39.2

總計 累計次數 891 51.4 842 48.6 ^{1733 次}

資料來源：本研究整理

壹、不同部別受試者問題解決行為探討－「瞭解類別」

由表 4-5 為[瞭解類別]之行為統計表中可觀察出；

一、日間部受試者中，1.3 質疑或發問(67.2%)百分比為最高，1.2 分 析題意(11.5%)及 1.4 重新解釋條件或目標(11.5%)百分比為第 二、三順位，而 1.1 瞭解題意(9.8%)百分比則為最少。

二、進修部受試者中，1.3 質疑或發問(76%)百分比為最高，1.1 瞭解 題意(16.0%)百分比佔第二順位，其餘 1.2 分析題意(4%)及 1.4 重新解釋條件或目標(4%)百分比則為最少。

綜合以上可得知，不論日間部或進修部之受試者，於遭遇問題時，對 題目所發出之質疑皆為百分比最高，顯見質疑或發問於問題解決行為中是 一般較常見的行為，不論日間部或進修部之受試者皆為較常採取的措施；

而進修部受試者於分析題意及重新解釋條件或目標上所佔的比重和日間 部受試者則有若干差異，顯示日間部受試者對於題意較常分析並將其重新 解釋，以協助能較快速的將問題解決。

資料來源：本研究整理

表 4-5 不同部別受試者問題解決行為統計表[瞭解類別]

日間部 進修部

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 1.1 瞭解題意 6 9.8 4 16.0 1.2 分析題意 7 11.5 1 4.0 1.3 質疑或發問 41 67.2 19 76.0

瞭解

1.4 重新解釋條

件或目標 ^{7 11.5 1 4.0} 合計 61 ¹⁰⁰ 25 ¹⁰⁰

貳、不同部別受試者問題解決行為探討－「計畫類別」

由表 4-6[計畫類別]之行為統計表中可知：

一、日間部受試者中，2.3 運用嘗試錯誤法(43.1%)佔百分比為最高，2.2 運用二分法(30.8%)百分比為第二順位，2.4 回憶相關原理、程序或方 法(16.9%)百分比為第三順位，而 2.1 運用替換法(9.2%)為最少之百分 比。

二、進修部受試者中，2.3 運用嘗試錯誤法(46.4%)百分比為最高，2.2 運 用二分法(26.1%)百分比為第二順位，2.1 運用替換法(15.9%)百分比 為第三順位，而 2.4 回憶相關原理、程序或方法(11.6%)百分比則為最少。

綜合以上可知，不論日間部或進修部之受試者，於「計畫類別」之行 為項目中皆以運用嘗試錯誤法作為問題解決策略，顯示不分部別之受試者 在以往的經驗中，都認為以嘗試錯誤的策略，比較能快速的將問題解決。

而日間部受試者則較常採用回憶相關原理、程序或方法來解決問題，顯示 其對問題的瞭解，嘗試藉助先前的先備知識來解決問題，進修部受試者則 較懷疑元件是否損壞，而時時將元件進行替換。

表 4-6 不同部別受試者問題解決行為統計表[計畫類別]

日間部 進修部

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 2.1 運用替換法 6 9.2 11 15.9 2.2 運用二分法 20 30.8 18 26.1 2.3 運用嘗試錯

誤法 28 43.1 32 46.4

計畫

2.4 回憶相關原 理、程序或 方法

11 16.9 8 11.6

合計 65 100 69 100

參、不同部別受試者問題解決行為探討－「檢視類別」

由表 4-7[檢視類別]之行為統計表中可觀察出：

一、日間部受試者中，(一)、3.1 目視檢視佔(28.8%)百分比為最高，

(二)、3.6 接線分析檢視(26.1%)百分比為第二順位，(三)、3.3 IC 測試器檢視(22.8%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、3.7 除 錯程式檢視(12.5%)，(五)、3.4 電路分析檢視(7.5%)，(六)、3.5 元件分析檢視(1.8%)，(七)、3.2 三用電表檢視(0.5%)。

二、進修部受試者中，(一)、3.1 目視檢視佔(28.0%)百分比為最高，

(二)、3.6 接線分析檢視(20.5%)百分比為第二順位，(三)、3.3 IC 測試器檢視(18.9%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、3.7 除 錯程式檢視(14.9%)，(五)、3.4 電路分析檢視(11.3%)，(六)、

3.5 元件分析檢視(3.9%)，(七)、3.2 三用電表檢視(2.5%)。

表 4-7 不同部別受試者問題解決行為統計表[檢視類別]

日間部 進修部

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 3.1 目視檢視 115 28.8 122 28.0 3.2 三用電表檢視 2 0.5 11 2.5 3.3 IC 測試器檢視 91 22.8 82 18.9 3.4 電路分析檢視 30 7.5 49 11.3 3.5 元件分析檢視 7 1.8 17 3.9 3.6 接線分析檢視 104 26.1 89 20.5

檢視

3.7 除錯程式檢視 50 12.5 65 14.9 合計 399 100 435 100 資料來源：本研究整理

由以上數據可知，不論日夜間部受試者於[檢視類別]行為中，都較常

採取用眼睛觀察的方式，嘗試找出故障問題點；兩者並無顯著不同；而兩 者百分比前三項皆相同，顯示於[檢視類別]行為中，不同部別之受試者所 出現之問題解決行為大致相同。

肆、不同部別受試者問題解決行為探討－「執行類別」

由表 4-8[執行類別]之行為統計表中可觀察出：

一、日間部受試者中，(一)、4.5 接線調整(28.8%)百分比為最高，

(二)、4.8 驗証結果(26.1%)百分比為第二順位，(三)、4.6 接線 重接(22.8%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、4.1 元件接腳 緊壓(12.5%)，(五)、4.4 元件更換(7.5%)，(六)、4.7 指撥開關 撥正(1.8%)，(七)、4.3 元件腳位置換(0.5%)，(八)4.2 元件接 腳矯正(1.4%)。

二、進修部受試者中，(一)、4.8 驗証結果(38.3%)百分比為最高，

(二)、4.5 接線調整(24.9%)百分比為第二順位，(三)、4.7 指撥 開關撥正 (15.0%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、4.4 元 件更換(11.8%)，(五)、4.1 元件接腳緊壓(4.2%)，(六)、4.6 接 線重接(3.8%)，(七)、4.3 元件腳位置換(1.3%)，(八)、4.2 元 件接腳矯正(0.6%)。

綜合以上可知，日間部受試者於問題解決時較為關注接線問題，而進 修部受試者則較常對每次處理的結果加以驗証。除此之外日間部受試者較 無耐心，當一時無法找出問題時，則將線路重接，如此可能解題時間較長，

而導致無法於規定時間內完成，進修部受試者則較懷疑接線是否有錯誤，

而經常將接線進行調整，並且懷疑指撥開關會有錯撥的情形發生，屢將其 重撥，經研究者現場觀察的結果顯示，不論是否有錯撥的情形，受試者一 律將其按線路圖重新撥正，由此顯示進修部受試者對此元件較不放心。

表 4-8 不同部別受試者問題解決行為統計表[執行類別]

日間部 進修部

類

別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 4.1 元件接腳緊壓 41 11.2 13 4.2 4.2 元件接腳矯正 5 1.4 2 0.6 4.3 元件腳位置換 6 1.6 4 1.3 4.4 元件更換 23 6.3 37 11.8 4.5 接線調整 146 39.9 78 24.9 4.6 接線重接 44 12.0 12 3.8 4.7 指撥開關撥正 22 6.0 47 15.0

執行

4.8 驗証結果 79 21.6 120 38.3 合計 366 100 313 100 資料來源：本研究整理

伍、不同部別受試者卡方檢定探討

為瞭解不同部別(日間部與進修部)受試者，問題解決行為各類別之差 異性，依其百分比進行卡方檢定，整理詳見表 4-9，其中「瞭解類別」之 χ

²

且日間部受試者出現「瞭解類別」之比例明顯高於進修部受試者。「檢視 類別」之χ

²

另「計畫類別」與「執行類別」則無顯著之差異。

表 4-9 不同部別受試者卡方檢定統計表

資料來源：本研究整理

陸、綜合討論

一、由表 4-4 可知，日間部受試者出現次數較多的行為項目為 4.5 接 線調整，進修部受試者出現次數最多的行為項目為 3.1 目視檢 視，顯示日間部受試者於問題解決時較忙於處理有關接線問題，

而進修部受試者則使用較多的時間於用眼睛觀察來檢查問題出 現的徵候情形。

二、不論日間部或進修部受試者，於進行問題檢視時，所採用的「檢 視類別」項目行為，依序為(1)目視檢視(2)接線分析檢視；兩者 在「檢視類別」項目行為上，相當一致並無不同。

三、進修部受試者於出現次數較高之前三項中，出現有 4.8 驗証結果，

而日間部受試者並未出現此行為項目，顯見進修部受試者於進行 問題解決行為項目中，對驗証問題點是否已排除，較日間部受試 者來得重視。

四、「瞭解類別」之χ

²

五、「檢視類別」之χ

²

部別

日間部 進修部

分類

次數 百分比(%) 次數 百分比

卡方值

瞭解 61 6.85 25 2.97 13.11*

計畫 65 7.30 69 8.19 0.45*

檢視 399 44.78 435 51.66 4.26*

執行 366 41.08 313 37.17 1.68*

第四節 不同先備知識受試者問題解決行為之分析與討論

本研究為瞭解不同先備知識受試者，於微處理機介面電路系統問題解 決時其出現的行為是否有所不同？依實施「微處理機介面電路先備知識測 驗卷」測驗所得之測驗成績高低，將受試者予以區分為高分組與低分組，

並將行為項目區分為四大類（瞭解、計畫、檢視與執行）來加以探討。

以下就不同先備知識(高分組與低分組)受試者行為差異的情形進行 討論，詳見表 4-10。

一、先備知識高分組受試者出現之行為項目百分比較高之前三項為：

1. 4.8 驗証結果，佔百分比 13.9%。

2. 3.1 目視檢視，佔百分比 13.6%。

3. 3.6 接線分析檢視，佔百分比 12.6%。

由以上可知，先備知識高分組受試者於問題解決時，出現較多次數的 為 4.8 驗証結果行為項目；而於「檢視類別」中，又以 3.1 目視檢視行為 項目為主，3.6 接線分析檢視行為項目為輔。

二、先備知識低分組受試者出現之行為項目百分比較高之前三項為：

1. 4.5 接線調整，佔百分比 13.9%。

2. 3.1 目視檢視，佔百分比 13.8%。

3. 3.3 IC 測試器檢視，佔百分比 10.3%。

由以上統計數字可知，先備知識低分組受試者於問題解決時，出現較 多次數的為 4.5 接線調整，在「檢視類別」中以 3.1 目視檢視行為項目為 主，而以 3.3 IC 測試器檢視行為項目為輔。而於「執行類別」中則以 4.5 接線調整為主要之行為項目。

表 4-10 不同先備知識受試者微處理機介面電路系統問題解決行為分類統計表[四大類]

先備知識

高分組 低分組

行為

分類 問題解決行為

次數 % 次數 %

次數 百分比 (%)

分類百分 比(%)

1.1 瞭解題意 6 0.8 4 0.4 10 0.6

1.2 分析題意 6 0.8 2 0.2 8 0.5

1.3 質疑或發問 16 2.2 44 4.4 60 3.5

瞭解

1.4 重新解釋條件或目標 3 0.4 5 0.5 8 0.5

5.0

2.1 運用替換法 3 0.4 14 1.4 17 1.0

2.2 運用二分法 16 2.2 22 2.2 38 2.2

2.3 運用嘗試錯誤法 27 3.7 33 3.3 60 3.5

計畫

2.4 回憶相關原理、程序或方法 13 1.8 6 0.6 19 1.1

7.7

3.1 目視檢視 100 13.6 137 13.8 237 13.7

3.2 三用電表視 9 1.2 4 0.4 13 0.8

3.3 IC 測試器檢視 70 9.5 103 10.3 173 10.0

3.4 電路分析檢視 33 4.5 46 4.6 79 4.6

3.5 元件分析檢視 14 1.9 10 1.0 24 1.4

3.6 接線分析檢視 93 12.6 100 10.0 193 11.1

檢視

3.7 除錯程式檢視 43 5.8 72 7.2 115 6.6

48.1

4.1 元件接腳壓 20 2.7 34 3.4 54 3.1

4.2 元件接腳正 1 0.1 6 0.6 7 0.4

4.3 元件腳位換 6 0.8 4 0.4 10 0.6

4.4 元件更換 22 3.0 38 3.8 60 3.5

4.5 接線調整 86 11.7 138 13.9 224 12.9

4.6 接線重接 23 3.1 33 3.3 56 3.2

4.7 指撥開關撥正 26 3.5 43 4.3 69 4.0

執行

4.8 驗証結果 101 13.7 98 9.8 199 11.5

39.2

總計 累計次數 0.4 0.4 0.4 0.4 ^{1733 次}

資料來源：本研究整理

壹、不同先備知識受試者問題解決行為探討－「瞭解類別」

由表 4-11 [瞭解類別]之行為統計表中可觀察出；

一、先備知識高分組受試者中，1.3 質疑或發問(51.6%)百分比為最 高，1.1 瞭解題意(19.4%)及 1.2 分析題意(19.4%)百分比為第二、

三順位，而 1.4 重新解釋條件或目標(9.7%)百分比則為最少。

二、先備知識低分組受試者中，1.3 質疑或發問(80.0%)百分比為最 高，1.4 重新解釋條件或目標(9.1%)百分比為第二順位，1.1 瞭解 題意(7.3%)百分比為第三順位，而 1.2 分析題意(3.6%)百分比則 為最少。

綜合以上可知，不論先備知識高或低的受試者，於進行微處理機介面 電路系統問題解決時，對題意的質疑或發問百分比皆為最高，顯見一般受 試者於遭遇問題時，常會懷疑是否題目有疑問或是對題意概念較模糊，而 經常提出問題，以進一步確認題目的原意。而先備知識高分組受試者於題 意上若有不清時，除提出質疑或發問外，經研究者實際觀察過程中得知，

受試者為確認題意，多次翻閱線路圖和佈線圖進行核對，無形中可減少犯 錯機率，對順利的將問題解決助益相當的大。先備知識低分組在問題一時 無法瞭解時，則傾向自我重新解釋，因此過於依賴自我先備知識，太過於 主觀的加以判斷與解釋，無形中對於順利完成解決問題，添加更多的不利 因素。

資料來源：本研究整理

貳、不同先備知識受試者問題解決行為探討－「計畫類別」

由表 4-12[計畫類別]之行為統計表中可知：

一、先備知識高分組受試者中，2.3 運用嘗試錯誤法(45.8%)百分比為 最高，2.2 運用二分法(27.1%)百分比為第二順位，2.4 回憶相關 原理、程序或方法(22.0%)百分比為第三順位，而 2.1 運用替換法 (5.1%)則為最少之百分比。

二、先備知識低分組受試者中，2.3 運用嘗試錯誤法(44.0%)百分比為 最高，2.2 運用二分法(29.3%)百分比為第二順位，2.1 運用替換 法(18.7%)百分比為第三順位，而 2.4 回憶相關原理、程序或方法 (8.0%)則為百分比最少。

綜合以上可知，不論先備知識高低之受試者，於「計畫類別」中，皆 較常運用嘗試錯誤法與二分法來進行問題解決，顯示本研究受試者於舊有 的經驗中，認為嘗試錯誤與二分法是較快速搜尋出問題的最佳策略，不論 先備知識之高低，在認知上並無太大差異。

表 4-11 不同先備知識受試者問題解決行為統計表[瞭解類別]

高分組 低分組

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 1.1 瞭解題意 6 19.4 4 7.3 1.2 分析題意 6 19.4 2 3.6 1.3 質疑或發問 16 51.6 44 80.0

瞭解

1.4 重新解釋條

件或目標 ^{3 9.7 5 9.1} 合計 31 100 55 100

表 4-12 不同先備知識受試者問題解決行為統計表[計畫類別]

高分組 低分組

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 2.1 運用替換法 3 5.1 14 18.7 2.2 運用二分法 16 27.1 22 29.3 2.3 運用嘗試錯

誤法 ^{27 45.8 33 44.0}

計畫

2.4 回憶相關原 理、程序或 方法

13 22.0 6 8.0

合計 59 100 75 100 資料來源：本研究整理

參、不同先備知識受試者問題解決行為探討－「檢視類別」

由表 4-13[檢視類別]之行為統計表中可觀察出：

一、先備知識高分組受試者中，(一)、3.1 目視檢視佔(27.6%)百分比 為最高，(二)、3.6 接線分析檢視(25.7%)百分比為第二順位，

(三)、3.3 IC 測試器檢視(19.3%)百分比為第三順位，其他依續 為(四)、3.7 除錯程式檢視(11.9%)，(五)、3.4 電路分析檢視 (9.1%)，(六)、3.5 元件分析檢視(3.9%)，(七)、3.2 三用電表 檢視(2.5%)。

二、先備知識低分組受試者中，(一)、3.1 目視檢視佔(29.0%)百分比 為最高，(二)、3.3 IC 測試器檢視(21.8%)百分比為第二順位，

(三)、3.6 接線分析檢視(21.2%)百分比為第三順位，其他依續為 (四)、3.7 除錯程式檢視(15.3%)，(五)、3.4 電路分析檢視 (9.7%)，(六)、3.5 元件分析檢視(2.1%)，(七)、3.2 三用電表 檢視(0.8%)。

綜合以上統計資料顯示可知 不論先備知識的高低，受試者於「檢視 類別」的行為項目中，「目視檢視」行為項目百分比皆為最高，顯示受試 者依經驗法則皆採取目視檢視，藉由眼睛觀察問題徵候後，再擬定後續處 理的策略。而先備知識高分組受試者可能因為先備知識較為充分，當搜尋 出問題後，選擇檢測接線是否有依線路圖所示進行接線，而對接線進行核 對，先備知識低分組則於發現問題後，直覺判斷是元件問題，而使用 IC 測試器加以檢測，顯見不同分組受試者在進一步檢視的步驟上有其差異 性。

表 4-13 不同先備知識受試者問題解決行為統計表[檢視類別]

高分組 低分組

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 3.1 目視檢視 100 27.6 137 29.0 3.2 三用電表檢視 9 2.5 4 0.8 3.3 IC 測試器檢視 70 19.3 103 21.8 3.4 電路分析檢視 33 9.1 46 9.7 3.5 元件分析檢視 14 3.9 10 2.1 3.6 接線分析檢視 93 25.7 100 21.2

檢視

3.7 除錯程式檢視 43 11.9 72 15.3

合計 362 100 472 100

資料來源：本研究整理

肆、不同先備知識受試者問題解決行為探討－「執行類別」

由表 4-14[執行類別]之行為統計表中可觀察出：

一、先備知識高分組受試者中，(一)、4.8 驗証結果(35.4%)百分比為最高，

(二)、4.5 接線調整(30.2%)百分比為第二順位，(三)、4.7 指撥開關 撥正(9.1%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、4.6 接線重接 (8.1%)，(五)、4.4 元件更換(7.7%)，(六)、4.1 元件接腳緊壓(7.0%)，

(七)、4.3 元件腳位置換(2.1%)，(八)4.2 元件接腳矯正(0.4%)。

二、先備知識低分組受試者中，(一)、4.5 接線調整(35.0%)百分比為最高，

(二)、4.8 驗証結果(24.9%)百分比為第二順位，(三)、4.7 指撥開關 撥正(10.9%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、4.4 元件更換 (9.6%)，(五)、4.1 元件接腳緊壓(8.6%)，(六)、4.6 接線重接(8.4%)，

(七)、4.2 元件接腳矯正(1.5%)，(八)、4.3 元件腳位置換(1.0%)。

綜合以上可知，不論先備知識高或低受試者於進行解決問題時，所採 取的行為項目百分比最高之前二項為 4.5 接線調整、4.8 驗証結果，兩者 在問題解決行為大致上一致。但其中先備知識高分組受試者較常以驗証結 果來確認問題是否解決，而先備知識低分組受試者則以執行接線調整來進 行問題解決。

表 4-14 不同先備知識受試者問題解決行為統計表[執行類別]

高分組 低分組

類

別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 4.1 元件接腳緊壓 20 7.0 34 8.6 4.2 元件接腳矯正 1 0.4 6 1.5 4.3 元件腳位置換 6 2.1 4 1.0 4.4 元件更換 22 7.7 38 9.6 4.5 接線調整 86 30.2 138 35.0 4.6 接線重接 23 8.1 33 8.4 4.7 指撥開關撥正 26 9.1 43 10.9

執行

4.8 驗証結果 101 35.4 98 24.9

合計 285 100 394 100

資料來源：本研究整理

伍、不同先備知識受試者卡方檢定探討

為瞭解不同先備知識受試者問題解決行為各類別之差異性，依其百分 比進行卡方檢定，整理詳見表 4-15，由表中可知，四種類別之卡方值皆未 達顯著水準，顯示不同先備知識受試者，在此四種類別行為之表現，並無 顯著之差異性。

表 4-15 不同先備知識受試者卡方檢定統計表

資料來源：本研究整理

陸、綜合討論

一、由表 4-10 可知，先備知識高分組受試者出現次數較多的行為項 目為 4.8 驗証結果，先備知識低分組受試者出現次數最多的行為 項目為 4.5 接線調整，顯示先備知識高分組受試者於問題解決時 較重視將處理的結果加以驗証，並時時確認每個階段的問題是否 已順利解決，再進行下一步動作；而先備知識低分組受試者則使 用較多的時間於處理接線的調整。

二、不論先備知識高分組或低分組受試者，於進行問題檢視時，所採 用的「檢視類別」項目行為，依序為(1)目視檢視(2)接線分析檢 視；兩者在「檢視類別」項目行為上，相當一致並無不同。

三、先備知識高分組受試者於出現次數較高之前三項中，出現有 4.8 先備知識

高分組 低分組

分類

次數 百分比(%) 次數 百分比

卡方值 瞭解 31 4.21 55 5.52 1.48 計畫 59 8.01 75 7.53 0.12 檢視 362 49.12 472 47.39 0.26 執行 285 38.67 394 39.56 0.09

驗証結果，而先備知識低分組受試者並未出現此行為項目，顯見 先備知識高分組受試者於進行問題解決時，對問題點是否已排 除，較先備知識低分組受試者來得重視。

四、先備知識低分組受試者，於出現次數較高之前三項中，出現有 4.5 接線調整，而先備知識高分組受試者並未出現此行為項目，顯見 先備知識低分組對於執行接線調整，相對來說比較積極。

五、經卡方檢定後，四種類別行為之卡方值皆未達顯著水準，顯示不 同先備知識受試者，在此四種類別行為之表現，並無顯著之差異 性。

第五節 不同學習態度受試者問題解決行為之分析與討論

本研究為瞭解不同學習態度受試者，於微處理機介面電路系統問題解 決時其出現的行為是否有不同？以自編之「微處理機介面電路系統學習態 度問卷」，對受試者進行問卷調查，並將調查所得之資料，以中位數加以 區分為學習態度高分組與學習態度低分組(以下簡稱高分組與低分組)，並 就其於進行微處理機介面電路系統問題解決時，所出現之各項行為項目區 分為四大類（瞭解、計畫、檢視與執行）加以討論，由表 4-16 所顯示，

不同學習態度(高分組與低分組)受試者行為差異情形如下說明：

一、高分組受試者所出現之行為項目百分比較高之前三項為：

1. 3.1 目視檢視，佔百分比 14.3%。

2. 4.5 接線調整，佔百分比 13.0%。

3. 3.6 接線分析檢視，佔百分比 12.5%。

由以上可知，高分組受試者於問題解決時於「檢視類別」中，以 3.1 目視檢視行為項目為主，3.6 接線分析檢視行為項目為輔。而於「執行類 別」中，則以 4.5 接線調整行為項目為主。

二、低分組受試者所出現之行為項目百分比數較高之前三項為：

1. 3.1 目視檢視，佔百分比 12.8%。

2. 4.5 接線調整，佔百分比 12.8%。

3. 4.8 驗証結果，佔百分比 12.7%。

由以上可知，低分組受試者於問題解決時，所出現較多次數的行為項 目為 3.1 目視檢視行為，於「執行類別」中以 4.5 接線調整行為項目為主，

而以 4.8 驗証結果行為項目為輔。

表 4-16 不同學習態度受試者微處理機介面電路系統問題解決行為分類統計表[四大類]

學習態度

高分組 低分組

行為

分類 問題解決行為

次數 % 次數 %

次數 百分比 (%)

分類百分 比(%)

1.1 瞭解題意 4 0.4 6 0.8 ^{10 0.6}

1.2 分析題意 2 0.2 6 0.8 ^{8 0.5}

1.3 質疑或發問 38 3.9 22 2.9 ^{60 3.5}

瞭解

1.4 重新解釋條件或目標 5 0.5 3 0.4 ^{8 0.5}

4.6

2.1 運用替換法 11 1.1 6 0.8 ^{17 1.0}

2.2 運用二分法 28 2.8 10 1.3 ^{38 2.2}

2.3 運用嘗試錯誤法 33 3.4 27 3.6 ^{60 3.5}

計畫

2.4 回憶相關原理、程序或方法 5 0.5 14 1.9 ^{19 1.1}

8.3

3.1 目視檢視 141 14.3 96 12.8 ^{237 13.7}

3.2 三用電表視 7 0.7 6 0.8 ^{13 0.7}

3.3 IC 測試器檢視 88 8.9 85 11.4 ^{173 10.1}

3.4 電路分析檢視 30 3.0 49 6.6 ^{79 4.6}

3.5 元件分析檢視 16 1.6 8 1.1 ^{24 1.4}

3.6 接線分析檢視 123 12.5 70 9.4 ^{193 11.1}

檢視

3.7 除錯程式檢視 61 6.2 54 7.2 ^{115 6.6}

41.6

4.1 元件接腳壓 39 4.0 15 2.0 ^{54 3.1}

4.2 元件接腳正 6 0.6 1 0.1 ^{7 0.4}

4.3 元件腳位換 7 0.7 3 0.4 ^{10 0.6}

4.4 元件更換 38 3.9 22 2.9 ^{60 3.5}

4.5 接線調整 128 13.0 96 12.8 ^{224 12.9}

4.6 接線重接 32 3.2 24 3.2 ^{56 3.2}

4.7 指撥開關撥正 39 4.0 30 4.0 ^{69 4.0}

執行

4.8 驗証結果 104 10.6 95 12.7 ^{199 11.5}

39.2

總計 累計次數 985 56.8 748 43.2 ^{1733 次}

資料來源：本研究整理

壹、不同學習態度受試者問題解決行為探討－「瞭解類別」

由表 4-17 [瞭解類別]之行為統計表中可觀察出；

一、高分組受試者中，1.3 質疑或發問(77.6%)百分比為最高，1.4 重新解 釋條件或目標(10.2%)百分比為第二順位，1.1 瞭解題意(8.2%)百分比 為第三順位，而 1.2 分析題意(4.1%)百分比為最少。

二、低分組受試者中，1.3 質疑或發問(59.5%)百分比為最高，1.1 瞭解題 意(16.2)及 1.2 分析題意(16.2%)百分比為第二、三順位，而 1.4 重新 解釋條件或目標(8.1%)百分比則為最少。

綜合以上數據可知，不論受試者學習態度如何，於「瞭解類別」行為 項目上，皆以 3.1 質疑或發問行為項目所佔百分比為最高，顯示不同學習 態度之受試者於「瞭解類別」項目中，問題解決之態度大致相同。此外高 分組較偏重於將題意重新解釋，低分組則偏重於將問題進行自我瞭解與分 析。

資料來源：本研究整理

表 4-17 不同學習態度受試者問題解決行為統計表[瞭解類別]

高分組 低分組

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 1.1 瞭解題意 4 8.2 6 16.2 1.2 分析題意 2 4.1 6 16.2 1.3 質疑或發問 38 77.6 22 59.5

瞭解

1.4 重新解釋條

件或目標 5 10.2 3 8.1 合計 49 100 37 100

貳、不同學習態度受試者問題解決行為探討－「計畫類別」

由表 4-18[計畫類別]之行為統計表中可知：

一、高分組受試者中，2.3 運用嘗試錯誤法(42.9%)百分比為最高，2.2 運 用二分法(36.4%)百分比為第二順位，2.1 運用替換法(14.3%)百分比為 第三順位，而 2.4 回憶相關原理、程序或方法(6.5%)百分比則為最少。

二、低分組受試者中，2.3 運用嘗試錯誤法(47.4%)百分比為最高，2.4 回憶 相關原理、程序或方法(24.6%)百分比為第二順位，2.2 運用二分法 (17.5%)百分比為第三順位，而 2.1 運用替換法(10.5%)百分比則為最少。

綜合以上數據可知，不論學習態度如何，於「計畫類別」之行為項目 中，皆以 2.3 運用嘗試錯誤法行為項目出現之次數最多，顯示受試者就以 往之經驗判斷運用嘗試錯誤法來進行問題搜尋，可以更加快速搜尋出問題 點。而高分組另偏重使用二分法來搜尋問題，低分組則較重視使用回憶的 方式來進行問題搜尋。

表 4-18 不同學習態度受試者問題解決行為統計表[計畫類別]

高分組 低分組

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 2.1 運用替換法 11 14.3 6 10.5 2.2 運用二分法 28 36.4 10 17.5 2.3 運用嘗試錯

誤法 33 42.9 27 47.4

計畫

2.4 回憶相關原 理、程序或 方法

5 6.5 14 24.6

合計 77 100 57 100 資料來源：本研究整理

參、不同學習態度受試者問題解決行為探討－「檢視類別」

由表 4-19[檢視類別]之行為統計表中可觀察出：

一、高分組受試者中，(一)、3.1 目視檢視佔(30.3%)百分比為最高，(二)、

3.6 接線分析檢視(26.4%)百分比為第二順位，(三)、3.3 IC 測試器 檢視(18.9%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、3.7 除錯程式檢視 (13.1%)，(五)、3.4 電路分析檢視(6.4%)，(六)、3.5 元件分析檢視 (3.4%)，(七)、3.2 三用電表檢視(1.5%)。

二、低分組受試者中，(一)、3.1 目視檢視佔(26.1%)百分比為最高，(二)、

3.3 IC 測試器檢視(23.1%)百分比為第二順位，(三)、3.6 接線分析 檢視(19.0%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、3.7 除錯程式檢視 (14.7%)，(五)、3.4 電路分析檢視(13.3%)，(六)、3.5 元件分析檢 視(2.2%)，(七)、3.2 三用電表檢視(1.6%)。

綜合以上可知，不論學習態度如何，於「檢視類別」中，3.1 目視檢 視行為項目百分比皆為最高，顯示受試者皆選擇先以眼睛觀察後，再決定 選用其他檢視工具。經研究者於實際觀察中得知，高分組受試者於無法以 目視觀察出問題時，通常選擇核對線路圖來進行接線分析，低分組則偏好 選擇以 IC 測試器檢視元件是否損壞，此和資料顯示大致相同。

表 4-19 不同學習態度受試者問題解決行為統計表[檢視類別]

高分組 低分組

類別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 3.1 目視檢視 141 30.3 96 26.1 3.2 三用電表檢視 7 1.5 6 1.6 3.3 IC 測試器檢視 88 18.9 85 23.1 3.4 電路分析檢視 30 6.4 49 13.3 3.5 元件分析檢視 16 3.4 8 2.2 3.6 接線分析檢視 123 26.4 70 19.0

檢視

3.7 除錯程式檢視 61 13.1 54 14.7 合計 466 100 368 100 資料來源：本研究整理

肆、不同學習態度受試者問題解決行為探討－「執行類別」

由表 4-20[執行類別]之行為統計表中可觀察出：

一、高分組受試者中，(一)、4.5 接線調整(32.6%)百分比為最高，(二)、

4.8 驗証結果(26.5%)百分比為第二順位，(三)、4.1 元件接腳緊壓 (9.9%)及(四)、4.7 指撥開關撥正(9.9%)百分比為第三、四順位，其 他依續為(五)、4.4 元件更換(9.7%)，(六)、4.6 接線重接(8.1%)，

(七)、4.3 元件腳位置換(1.8%)，(八)4.2 元件接腳矯正(1.5%)。

二、低分組受試者中，(一)、4.5 接線調整(33.6%)百分比為最高，(二)、

4.8 驗証結果(33.2%)百分比為第二順位，(三)、4.7 指撥開關撥正 (10.5%)百分比為第三順位，其他依續為(四)、4.6 接線重接(8.4%)，

(五)、4.4 元件更換(7.7%)，(六)、4.1 元件接腳緊壓(5.2%)，(七)、

4.3 元件腳位置換(1.0%)，(八)、4.2 元件接腳矯正(0.3%)。

綜合以上可知，不論學習態度如何，於「執行類別」中，4.5 接線調

整行為項目百分比皆為最高，而 4.8 驗証結果行為項目百分比皆為第二順 位，顯示不論受試者之學習態度如何，其於進行微處理機介面電路系統問 題解決所出現的行為上，相當一致並無太大差異。

資料來源：本研究整理

伍、不同學習態度受試者卡方檢定探討

為瞭解不同學習態度受試者問題解決行為各類別之差異性，依其百分 比進行卡方檢定，整理詳見表 4-21，由表中可知，四種類別之卡方值皆未 達顯著水準，顯示不同學習態度之受試者，在此四種類別行為之表現，並 無顯著之差異性。

表 4-20 不同學習態度受試者問題解決行為統計表[執行類別]

高分組 低分組

類

別 問題解決行為

次數 百分比(%) 次數 百分比(%) 4.1 元件接腳緊壓 39 9.9 15 5.2 4.2 元件接腳矯正 6 1.5 1 0.3 4.3 元件腳位置換 7 1.8 3 1.0 4.4 元件更換 38 9.7 22 7.7 4.5 接線調整 128 32.6 96 33.6 4.6 接線重接 32 8.1 24 8.4 4.7 指撥開關撥正 39 9.9 30 10.5

執行

4.8 驗証結果 104 26.5 95 33.2 合計 393 100 286 100

表 4-21 不同學習態度受試者卡方檢定統計表

資料來源：本研究整理

陸、綜合討論

一、由表 4-16 可知，不論學習態度如何，所採用的行為項目皆以 3.1 目視檢視行為項目所佔百分比為最高，因此兩組於問題解決行為 項目上並無太大差異。

二、高分組受試者於「檢視類別」中，百分比為第二順位之 3.6 接線 分析檢視，較低分組受試者來得高，經研究者於實際觀察得知，

高分組在問題解決態度上對接線分析較有耐心處理。而低分組受 試於「執行類別」中，出現 4.8 驗証結果行為項目，可能是與其 對處理此類問題較不放心有關。

三、經由卡方檢定後，可以得知，四種類別行為之卡方值皆未達顯著 水準，顯示不同學習態度之受試者，在此四種類別之行為表現，

並無顯著之差異性。

學習態度

高分組 低分組

分類

次數 百分比(%) 次數 百分比

卡方值 瞭解 49 4.97 37 4.95 0.00 計畫 77 7.82 57 7.62 0.02 檢視 466 47.31 368 49.20 0.31 執行 393 39.90 286 38.24 0.30