第二章 文獻探討
第二節 書目計量分析
書目計量學(Bibliometrics)最早是由 Pritchard(1969)年提出,將書目計 量學定義為「應用數學和統計方法,藉由計算與分析文字資訊的不同層面來顯示 文字資訊的處理過程,以及某一學科發展的趨勢與性質」。Norton(2001)則將 書目計量分析定義為「透過衡量文獻的數量、引用等特徵,擷取文獻內含的資訊 和模式」。另一方面,科學計量學(Scientometrics)和資訊計量學(Informetrics)
則是與書目計量學有密切關係的兩門學科。科學計量學強調的是對科學發展的參 數進行分析,例如論文、專利、期刊的總數,科學資訊的分散與老化,科學文獻 流的結構,以及引文的處理等;資訊計量學則是與資訊相關之科學化活動(蔡明 月,1997)。
一般而言,書目計量學包含了兩種主要的分析方法(Gauthier, 1998),即描 述性(Descriptive)和關聯性(Relational):
(一)描述性分析方法
年(year) 部門(sector) 學科(discipline)
微觀(micro)
中觀(meso)
巨觀(macro)
資料來源:Gauthier(1998)
‧ 國
立 政 治 大 學
‧
N a tio na
l C h engchi U ni ve rs it y
在表 2-3 的概念性架構中,微觀代表的是作者的層次,中觀代表機構組織的 層次,而巨觀則代表國家城市的層次。藉由此架構,就可以觀察諸如某作者所在 的學科為何,某學科的累計論文篇數如何隨著時間變化等資訊,並進一步分析背 後的意義。
二、 書目計量分析在研發管理的應用
書目計量分析在過去主要被用來衡量作者、機構和國家的科學研究績效,但 現在則被用來瞭解科技過去的發展,甚至是用來預測科技的未來(Morris, DeYong, Salman, & Yemenu, 2002; Narin, Olivastro, & Stevens, 1994)。
舉例來說,Watts & Porter(1997)就提出一套使用書目計量分析衡量研發活 動的指標:
1. 文獻計數分析:利用文獻的數量作為研發創新活動的指標。
2. 文獻引用分析:分析文獻之間相互引用的情況,以偵測相關機構、作者、
研發主題之間的互動情形,甚至預測新興的研發領域。
3. 關聯分析:分析文獻中哪些組織發表了哪些論文、申請了哪些專利,哪 些學科領域常一貣出現等等。
4. 共引用分析:分析哪些文獻常被後來的文獻一貣引用,藉以找出哪些文 獻有意義上的關聯。
5. 專利分析:利用專利來分析企業的研發領域與研發趨勢。
在使用書目計量分析技術的發展時,不同的資料來源適合用來觀察不同的技 術發展階段(Watts & Porter, 1997),以確認技術所處生命週期。不同資料來源與 技術生命週期之間的關係可以分類如表 2-4:
表 2-4:技術生命週期預測與合適的資料來源 技術生命週期 資訊來源
基礎研究 Science Citation Index 應用研究 Engineering Index 發展 U.S. Patent
應用 Newspaper Abstracts Daily
社會影響 Business and Popular Press Abstracts 資料來源:Watts & Porter(1997)
‧ 國
立 政 治 大 學
‧
N a tio na
l C h engchi U ni ve rs it y
然而,使用 Watts & Porter(1997)的架構去分析技術的發展時,必頇注意 到並不是每個科技的文獻資料都會循著同樣的模式發展。Järvenpää, Mäkinen, &
Seppänen(2011)指出,可能只有當科學是技術發展的概念來源時,文獻資料才 會循著假定的模式發展。
同時,在運用書目計量法分析技術趨勢時,必頇注意到幾個限制(Watts &
Porter, 1997):
1. 書目計量法得到的數量資訊,不能完全代表文獻所含資訊的品質。
2. 不是所有技術發展資訊都有被文獻記載,同時在時效上也未必即時。
3. 不同領域學門的文獻資訊差異極大。
近年來,國內外逐漸有研究者將書目計量分析法與其它方法結合,用來提高 預測技術生命週期及分析技術發展趨勢的成效:
表 2-5:使用書目計量法分析技術趨勢的相關論文 作者(年代) 研究議題
Daim &
Suntharasaj
(2006)
利用書目計量分析法預測新興科技的生命週期,將書目計量分 析結合情境分析法、成長曲線法、類比法等技術預測方法,預 測燃料電池、食物安全和光學儲存器的技術趨勢。
蘇紘立(2009) 使用書目計量法探討臺灣蔬果保鮮技術的發展軌跡,了解技術 的現況並預測技術的未來趨勢。
邱鳯姿(2010) 以書目計量法預測雲端運算技術之生命週期,發現雲端運算計 算約在 2012 年會達進入成熟期,並在 2016 年進入衰退期。
Wu, Hsu, Lee,
& Su(2011)
利用書目計量法分析蝕刻技術的生命週期,並比較分析專利所 得之技術生命週期和分析學術論文之技術生命週期的關係,以 及文字探勘法和書目計量法所代表的觀點。
資料來源:本研究整理
‧
依據『世界智慧財產權組織』(World Intellectual Property Organization, WIPO)
對「專利」的說明:專利是對發明授予的一種專有權利;而發明是指提供新的做