• 沒有找到結果。

循環伏安計量(Cyclic voltammetry)

為了探討發光材料於電激發光過程中,電子和電洞的注入情形,

乃利用循環伏安計量(CV)以分析材料之 HOMO 與 LUMO 能帶分佈以 及光學能階差。實驗方式如下所述:

以0.1 M 之(n-Bu4)NBF4 (tetra-n-butylammonium tetrafluoroborate) 的 CH2Cl2溶液為電解液,將待測物溶在電解液內,以 Ag/AgCl 為參 考電極,ferrocene/ferrocenium (Fc/Fc+)為內參考電位,白金片作為工 作電極,白金絲為對應電極。量測時以 50 mV/sec 的速率掃描記錄其 氧化還原曲線。對於發光材料之游離能(ionization potential, IP)與電子 親和力(electronic affinity, EA)數據的取得,最簡單的方法就是以 CV 數據配合 UV-visible 光譜之吸收波長數據來計算。一般發光材料 IP、

由於高分子材料在量測 CV 所表現出的還原曲線會因為水或其它 物質的出現而變得非常雜亂,導致材料本身的還原曲線並不明顯,

因而無法直接得到 EA 值,故對於高分子能隙的取得一般藉由

UV-visible 光譜中的吸收峰的起始波長(λonset )來間接的計算:

Eg = 1240 / λonset

其中λonset單位為nm,所得 Eg的單位為 eV。

依據上述方法,分別將各個聚芴高分子透過ferrocene 標準品校正 及薄膜態的 UV-vis 光譜來求得氧化電位(Eox,onset)與能階差(Eg),而經 計算後的 HOMO 與 LUMO 能階的數據列於表 3-3,其綜合的能帶圖 見圖 3-6,個別的 CV 圖見第 6 章附圖 11~16。相較於直鏈型的聚芴高 分子(PFO)的同元聚合物來說 (Eox = 1.4 V, IP = 5.8 eV)[59],我們合成得 到的聚芴高分子與之有著類似的電化學性質。

由表 3-3 所示,當 TBADN 佔高分子鏈中的比例為 50 % 時,其 HOMO 能階約為-5.9 eV,而 LUMO 能階則約為-3.04 eV。但是其中 TAZ-T50 與 DPF-T25 卻與其它四種共聚物在 HOMO 能階上有較大的

差異,明顯偏高一些,其 HOMO 能階值約為-5.81 eV。DPF-T25 中 TBADN 的含量佔 25 %,但是其整體高分子鏈在空間結構的安排是屬 於 隨 機(random type,即-AABBABBBA-…)的排列,與 F-T50 及 DPF-T50 這種屬於交替式(alternate type,即-A-B-A-B-…)排列的共聚 物是不大相同的,故也許是因為這種高分子排列結構上的差異,所以 造成 HOMO 能階往上抬升的現象,而我們也在 TAZ-T50 發現類似的 情況。TAZ5-DPF-T45 其混摻 TAZ 的比例也是會造成隨機的排列,但 是 畢 竟 所 加 入 TAZ 的 量 也 有 限 , 僅 5% , 所 以 整 體 來 看 , TAZ5-DPF-T45 結構中還是以 Fluorene 與 TBADN 的交替式排列為 主,故其HOMO 與 LUMO 能階的表現上與 F-T50 或 DPF-T50 是相似 的。至於 DPF-T5 其混摻 TBADN 的比例也僅佔 5 %,雖然空間上亦 有可能是隨機排列,但 Fluorene 旁緊鄰 Fluorene 的機率頗高,也可將 其視為是 Fluorene 的同元聚合物,故其 HOMO 能階與一般文獻上的 結果差異並不大。TAZ-T50 中 TAZ 的含量較高,約佔整體含量的 50

%,其 HOMO 及 LUMO 能階值與類似結構的聚芴高分子相似。

表3-3 含蒽聚芴高分子的電化學性質。 (a) from the edge of UV spectrum in thin film state

(b) from the onset of oxidation potential (c) from the equation HOMO = -4.4 + Eox,onset (d) from the equation LUMO= Eg + HOMO

圖3-6 含蒽聚芴高分子之能帶關係圖。

相關文件