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低溫多晶矽薄膜電晶體的均勻度統計性研究

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Academic year: 2021

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(1)國 立 交 通 大 學 光電工程系 光電工程所碩士班 碩 士 論 文 低溫多晶矽薄膜電晶體的均勻度統計性 研究 Statistical Study on the Uniformity Issue of Low Temperature Polycrystalline Silicon Thin Film Transistor. 研. 究. 生 : 黃士哲. 指 導 教 授 : 戴亞翔 博士. 中. 華. 民. 國. 九. 十. 四. 年. 六. 月.

(2) 低溫多晶矽薄膜電晶體的均勻度 統計性研究 Statistical Study on the Uniformity Issue of Low Temperature Polycrystalline Silicon Thin Film Transistor 研 究 生:黃士哲 指導教授:戴亞翔 博士. Student : Shi-Zhe Huang Advisor : Dr. Ya-Hsiang Tai. 國 立 交 通 大 學. 光電工程系 光電工程所碩士班 碩 士 論 文 A Thesis Submitted to Institute of Electro-Optical Engineering College of Electrical Engineering and Computer Science National Chiao Tung University in Partial Fulfillment of the Requirements for the Degree of Master of Science in Electro-Optical Engineering June 2005 Hsinchu, Taiwan, Republic of China. 中華民國 九十四 年 六 月.

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