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偏壓和幾何結構對矽鍺異質接面雙載子電晶體等效電路參數萃取的影響

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Academic year: 2021

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國立交通大學

電子工程學系 電子研究所碩士班

碩士論文

偏壓與幾何結構對矽鍺異質接面雙載子電晶體 等效電路參數萃取的影響

Bias Dependence and Geometry Effect of SiGe HBTs Equivalent Circuit Elements Using Direct

Parameter-Extraction Method

研究生:余 昱 穎 指導教授:張 俊 彥 教授

參考文獻

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