低溫多晶矽薄膜電晶體變動性之可靠度的研究
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(2) 低溫多晶矽薄膜電晶體變動性 之可靠度研究 Study of Reliability Variation for Low Temperature Polysilicon Thin Film Transistors. 研 究 生：余承和. Student：Cheng-Ho Yu. 指導教授：戴亞翔教授. Advisor：Ya-Hsiang Tai. 國 立 交 通 大 學 光電工程學系 光電研究所碩士班 碩 士 論 文 A Thesis Submitted to Institute of Electro-Optical Engineering College of Electrical Engineering and Computer Science National Chiao Tung University In partial Fulfillment of the Requirements for the Degree of Master of Secience In Electro-Optical Engineering June 2005 Hsinchu, Taiwan, Republic of China. 中 華 民 國 九 十 四 年 六 月.
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