國 立 交 通 大 學
光電工程學系 顯示科技研究所
碩 士 論 文
複晶矽薄膜電晶體之晶粒結構與光漏電
之分析
Grain Size Effect and the Photo Leakage
Current of Poly-Si TFTs
研 究 生 : 魏 全 生
指導教授：冉曉雯 博士
複晶矽薄膜電晶體之晶粒結構與光漏電之分析
Grain Size Effect and the Photo Leakage Current of Poly-Si
TFTs
研究生：魏全生 Student: Chung-Sheng Wei
指導教授：冉曉雯 博士 Advisor: Dr. Hsiao-Wen Zan
國 立 交 通 大 學
光電工程學系 顯示科技研究所
碩 士 論 文
A Thesis
Submitted to Department of Photonics Institute of Display
College of Electrical Engineering and Computer Science National Chiao Tung University
in partial Fulfillment of the Requirements for the Degree of
Master in
Electro-Optical Engrineering June 2006
Hsinchu, Tawian, Republic of China
