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臺灣科技大學機構典藏 NTUSTR:Item 987654321/51976

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(1)

【11】證書號數:I488123

【45】公告日: 中華民國 104 (2015) 年 06 月 11 日

【51】Int. Cl.: G06K19/07 (2006.01)

發明     全 8 頁 

【54】名  稱:射頻電子標籤、射頻傳輸方法以及射頻辨識系統

RFID TAGS、RFID TRANSMISSION METHODS AND RFID SYSTEMS

【21】申請案號:098145471 【22】申請日: 中華民國 98 (2009) 年 12 月 29 日

【11】公開編號:201123018 【43】公開日期: 中華民國 100 (2011) 年 07 月 01 日

【72】發 明 人: 劉馨勤 (TW) LIU, HSIN CHIN;林旺旗 (TW) LIN, WANG CHI

【71】申 請 人: 國立臺灣科技大學 NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY

臺北市大安區基隆路 4 段 43 號

【74】代 理 人: 洪澄文;顏錦順

【56】參考文獻:

TW 200919992A US 2007/0167139A1

US 2007/0152830A1 WO 2008/027619A2 審查人員:李惟任

[57]申請專利範圍

1. 一種射頻電子標籤,其係適用於多重路徑傳輸下,其包括有:複數個天線,其等係分別 接收一讀取器所發送之一無線訊號,並分別產生一天線信號,以及回傳只有兩種反射狀 態之一已編碼和已調變之回傳訊號至上述讀取器,其中上述天線之極化方向係彼此正 交;一解調變器,其會將上述天線信號加以解調變,以產生對應之複數解調變訊號;一 訊號處理器,其會根據上述解調變訊號之特徵,來選擇上述解調變訊號中之一者,或是 結合上述解調變訊號來進行訊號處理,以讀取資料並產生一回傳訊號;以及一空時碼編 碼調變器,其會根據一空時碼而將上述回傳訊號加以編碼和調變,以產生上述只有兩種 反射狀態之已編碼和已調變之回傳訊號。

2. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中上述空時碼係為一空時區塊碼(Space- Time Block Code,STBC)。

3. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中上述空時碼係為一空時籬笆碼(Space- Time Trellis Code,STTC)。

4. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中上述解調變訊號之特徵,包括有信號 能量大小以及訊號品質。

5. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中 上述解調變器係用以將上述天線訊號 降頻為基頻訊號。

6. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中上述解調變器更可用以將上述天線訊 號由類比訊號轉為數位訊號。

7. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中上述天線包括一第一天線以及一第二 天線,且上述第一天線和上述第二天線之極化方向係相互正交。

8. 如申請專利範圍第 7 項所述之射頻電子標籤,其中上述第一天線係為一水平極化天線,

且上述第二天線係為一垂直極化天線。

(2)

9. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中上述解調變器包括有一第一子解調變 器以及一第二子解調變器,且上述第一子解調變器以及上述第二子解調變器,可以將上 述天線信號加以解調變,以產生對應之上述解調變訊號。

10. 如申請專利範圍第 1 項所述之射頻電子標籤,其中上述空時碼編碼調變器,係利用反向 散射技術來調變上述回傳訊號。

11. 一種射頻傳輸方法,其係適用於一射頻辨識系統,上述射頻傳送方法包括有:透過複數 個天線來分別接收一讀取器所發送之一無線訊號,並分別產生一天線信號,其中上述天 線之極化方向係彼此正交;分別將上述天線信號加以解調變,以產生複數個解調變訊 號; 根據上述解調變訊號之特徵,來選擇上述解調變訊號中之一者,或是結合上述解調 變訊號來進行訊號處理,以讀取資料並產生一回傳訊號;根據一空時碼將上述回傳訊號 加以編碼和調變,以產生只有兩種反射狀態之一已編碼和已調變之回傳訊號;以及透過 上述天線而分別將上述只有兩種反射狀態之已編碼和已調變之回傳訊號回傳至上述讀取 器中。

12. 如申請專利範圍第 11 項所述之射頻傳輸方法,其中上述空時碼係為一空時區塊碼(Space- Time Block Code,STBC)。

13. 如申請專利範圍第 11 項所述之射頻傳輸方法,其中上述空時碼係為一空時籬笆碼(Space- Time Trellis Code,STTC)。

14. 如申請專利範圍第 11 項所述之射頻傳輸方法,其中上述解調變訊號之特徵,包括有信號 能量大小以及訊號品質。

15. 如申請專利範圍第 11 項所述之射頻傳輸方法,其中該解調變步驟係將上述天線信號降頻 為基頻訊號。

16. 如申請專利範圍第 11 項所述之射頻傳輸方法,其中該解調變步驟係進一步將上述天線信 號由類比訊號轉為數位訊號。

17. 如申請專利範圍第 11 項所述之射頻傳輸方法,其中其中上述天線包括有一第一天線以及 一第二天線,且上述第一天線和上述第二天線之極化方向係相互正交。

18. 如申請專利範圍第 17 項所述之射頻傳輸方法,其中上述第一天線係為一水平極化天線,

且上述第二天線係為一垂直極化天線。

19. 如申請專利範圍第 11 項所述之射頻傳輸方法,其中上述編碼調變步驟包括有利用反向散 射技術,來調變上述回傳訊號。

20. 一種射頻辨識系統,其係適用於順向連結中,其包括有:一讀取器,其會發送一無線訊 號;以及一射頻電子標籤,其包括有:複數個天線,其等會分別接收上述無線訊號,並 分別產生一天線信號,其中上述天線之極化方向係彼此正交,並產生只有兩種反射狀態 之一已編碼和已調變之回傳信號;一解調變器,其會將上述天線信號加以解調變,以產 生對應之複數解調變訊號;以及一訊號處理器,其會根據上述解調變訊號之特徵,來選 擇上述解調變訊號中之一者,或結合上述解調變訊號來進行訊號處理,以讀取上述讀取 器所發送的上述無線訊號中的資料。

21. 如申請專利範圍第 20 項所述之射頻辨識系統,其中上述解調變訊號之特徵,包括有信號 能量大小以及訊號品質。

22. 如申請專利範圍第 20 項所述之射頻辨識系統,其中上述解調變器係用以將上述天線信號

(3)

24. 如申請專利範圍第 20 項所述之射頻辨識系統,其中上述天線包括一第一天線以及一第二 天線,且上述第一天線和上述第二天線之極化方向係相互正交。

25. 如申請專利範圍第 24 項所述之射頻辨識系統,其中上述第一天線係為一水平極化天線,

且上述第二天線係為一垂直極化天線。

26. 如申請專利範圍第 20 項所述之射頻辨識系統,其中上述解調變器包括一第一子解調變器 以及一第二子解調變器,且上述第一子解調變器以及上述第二子解調變器,會將上述天 線信號加以解調變,以產生對應之上述解調變訊號。

27. 一種射頻辨識系統,其係適用於反向連結中,其包括有:一射頻電子標籤,其包括:一 訊號處理器,其會根據複數個解調變訊號之特徵,來選擇上述解調變訊號中之一者,或 結合上述解調變訊號來進行訊號處理,以讀取資料且產生一回傳訊號;以及一空時碼編 碼調變器,其會根據一空時碼來將上述回傳訊號加以編碼和調變,以產生只有兩種反射 狀態之一已編碼和已調變之回傳訊號;以及複數個天線,其等會分別傳送上述只有兩種 反射狀態之已編碼和已調變回傳訊號,其中上述天線之極化方向係 彼此正交;以及一讀 取器,其包括有:一第三天線,其會接收上述天線所分別傳送的上述已編碼和已調變之 回傳訊號;一通道估測器,其會根據上述已編碼和已調變之回傳訊號來估測複數通道資 訊;以及一最大比合併裝置,其會根據上述已編碼和已調變回傳訊號以及上述通道資 訊,來處理上述已編碼和已調變之回傳訊號。

28. 如申請專利範圍第 27 項所述之射頻辨識系統,其中上述空時碼係為一空時區塊碼(Space- Time Block Code,STBC)。

29. 如申請專利範圍第 27 項所述之射頻辨識系統,其中上述空時碼係為一空時籬笆碼(Space- Time Trellis Code,STTC)。

30. 如申請專利範圍第 27 項所述之射頻辨識系統,其中上述解調變訊號之特徵,包括有信號 能量大小以及訊號品質。

31. 如申請專利範圍第 27 項所述之射頻辨識系統,其中上述天線包括一第一天線以及一第二 天線,且上述第一天線和上述第二天線之極化方向係相互正交。

32. 如申請專利範圍第 31 項所述之射頻辨識系統,其中上述第一天線係為一水平極化天線,

且上述第二天線係為一垂直極化天線。

33. 如申請專利範圍第 27 項所述之射頻辨識系統,其 中上述空時碼編碼調變器係利用反向 散射技術,來調變上述回傳訊號。

圖式簡單說明

第 1 圖係根據本發明的實施例所述之一射頻電子標籤 10 的方塊圖。

第 2 圖係根據本發明的實施例所述之一射頻傳輸方法 20 之流程圖。

第 3 圖係根據本發明的實施例所述之一射頻辨識系統 3,其中射頻辨識系統 3 包括了一讀 取器 30 以及一射頻電子標籤 31。

第 4-1、4-2 圖係根據本發明的實施例所述之空時區塊編碼之範例。

第 5 圖係根據本發明的實施例所述之查詢表格 5-1~5-4。

第 6-1 圖係為根據本發明的實施例所述之理想的反向散射訊號星座圖。

第 6-2 圖係為根據本發明的實施例所述之相對於表格 5-1~5-4 的所要送的反向散射訊號。

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參考文獻

相關文件

三、本規範乙、丙二級技術士技能檢定,其分別如下:

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