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第三章 結果與討論

3.3 顯微結構的變化

3.3.1 析出物

將 TMT3 試片分別置於 250 oC、300 oC、400 oC 作退火一小時,以及在 500 oC、550

oC 及 570 oC 作固溶處理 1 小時後,淬火,並作 TEM 觀察。在 250 oC 之試片,從 EDS

之分析,可發現 Al-Mg 之析出物,如圖 3-29 所示,根據 Al-Mg 二元相圖 [92], Mg 在 Al 的溶解度約為 4.4 wt%,而 5083 鋁合金含鎂量約 4.5 wt%,故此時之 Al-Mg 析出 物應為β相 (Al8Mg5),其大小約為 0.3 µm,而隨著溫度的上升,Mg 在 Al 的溶解度逐漸 增加,在 300 oC 時,鎂在鋁的溶解度約為 6.4 wt%,故此時的鎂將溶入鋁的母材中。而 另一明顯之析出物為 Al-Mn 之組成,由於錳 5083 Al 中所佔比例約為 0.7 wt%,而根據 Al-Mn 之二元相圖 [93],約在 600 oC 時,錳在鋁的溶解度尚不到 1 wt%,故在所有偵 測溫度中,均將發現 Al-Mn 之析出物,其組成為 Al6Mn,且不管退火或固溶處理溫度 為何,其大小幾乎很固定,約 0.1 到 0.3

µ

m 左右,如圖 3-30 所示,即使材料以升溫至 550 oC,Al6Mn 之大小及顆粒間距依然無明顯之變化,而其顆粒的間距約為 0.3 到 1 µm。

Al8Mg5及 Al6Mn 對於晶粒結構的穩定,在某一溫度下有其功用,但超過該溫度,Al8Mg5

將溶入母材中,特別是在 300 oC 時,鎂的溶解度已超過 5083 鋁合金含鎂量,故β相將 完全消失,而 Al6Mn 亦無法有效抑制晶粒的成長。從 270 oC 之拉伸測試數據可看出,

低溫超塑性受溫度之影響已趨於明顯,特別是慢速拉伸時。因此,當溫度高於 250 oC 時,Al8Mg5及 Al6Mn 對於晶粒結構之穩定作用將逐漸消失。

3.3.2 超塑拉伸前的微組織變化

從光學顯微鏡的觀察可得知 AR 試片的晶粒尺寸為 500x80x8 µm,為明顯的熱軋延 結構,如圖 3-1 (a) ~ 3-1 (c),並有部分之再結晶晶粒,在粗大晶粒之晶界形成,而 AR 材料再於 500 oC 做 1 小時的固溶處理後,ARA 試片之晶粒尺寸以 2D 線性截距 (linear intercept) 分別在三截面測量之,所量得知晶粒尺寸約為 32x25x20 µm 左右,如圖3-31 (a)

~ 3-31 (c) 所示,晶粒結構雖較清楚,但晶粒尺寸明顯大小不均勻,且沿著厚度方向觀 察,仍為扁平狀之晶粒,並非等軸晶粒,較不利於晶界滑移,如此之晶界結構很可能是 造成高溫延展性不佳之主要因素。經過 TMT3 處理後,沿著軋延平面做 TEM 觀察,晶 粒結構呈現出次晶粒結構,次晶粒尺寸平均約為 0.3 到 1 µm 左右,如圖 3-32 (a) 所示。

在做電子繞射圖之檢測時,在相同的倍率下,選用相同的選區孔徑 (selected area aperture),即約 10

µm 直徑大小之區域。從繞射圖上可看出,試片平面的法線方向

(specimen normal direction) 大致上是靠近 [110] 與[112] 之間,另外也有一些 [100]、

[113] 或 [123] 方向,對此 10 µm 直徑之區域,相鄰兩晶粒或次晶粒的總取向差異常常 最多是 10 度左右,如圖 3-32 (b)-(d)。

將 TMT3 試片加熱至 250 oC (花了約 50 分鐘),則晶粒結構呈現較清楚的輪廓,晶 粒尺寸約為 0.5 µm,如圖 3-33 (a) 所示,因此,當拉伸試驗開始時,此時的晶粒結構尚 屬於小角度的次晶粒結構;另外,將 TMT3 試片同樣加熱至 250 oC,然後再分別維持 10、20、30、40、50 及 60 分鐘,以觀察靜態退火對晶粒結構的影響。隨著靜置時間的 增長,晶粒結構逐漸轉換為較清楚的結構及晶界,晶粒亦逐漸成長,但經過 60 分鐘的 靜置後,平均晶粒尺寸仍低於 2.0

µm,如圖 3-33 (b)-(g) 所示,分別為經過 10 ~ 60 分

鐘的靜置後之顯微組織及繞射圖,而此時之晶粒應是趨近於等軸晶粒,其晶粒尺寸以 3D 線性截距法來表示,分別為 0.65、0.75、0.75、0.95、1.55 及 1.7 µm,如此顯示著,

該材料於 250 oC,在未施任何荷重的情況下,晶粒結構可以說是相當穩定的,圖 3-34 為晶粒尺寸隨著靜置時間而變化的情形。而隨著升溫至 250 oC 及靜置時間的增長,雖 然晶粒結構逐漸清晰,且晶界也越來越明顯,然而試片法線方向仍然趨近於 [110] 方 向,且晶粒取向差異也沒有多大的改變,如此顯示著,在靜置退火時的回復過程中,雖 然次晶粒與晶界結構逐漸轉變為較清晰、較完整的結構,但主要晶粒取向並沒有明顯的 改變。

從上述看來,5083 鋁合金若在適當的溫度,如 250 oC,及未施應力情況下,其晶 粒結構似乎對時間不是很敏感。然而,該合金對溫度卻是相當的敏感。TMT3 試片同樣 的花了約 50 分鐘升溫至 270、300、350、400、450、500 及 550 oC,並利用 OM 來觀 察其靜態狀況下之微結構。當升溫至 270 oC 時,晶粒結構仍屬於次晶粒結構,故腐蝕 液無法將次晶界顯明出來,如圖 3-35 (a) ~ 3-35 (c) 所示,分別為軋延面、橫截面及縱 截面之 OM 照片,並以 2D 線性截距方法來測量其晶粒尺寸,在軋延面上發現少數之再

結晶晶粒,約 3 µm 左右,若沿著厚度方向觀察,明顯為軋延結構,且在厚度中心處,

偶而可發現有較粗大之帶狀晶粒,如此更是說明壓延試片之表面與中心位置,將呈現不 同之微結構,可見得,當軋延厚度為 2 mm 時,試片表面與中心位置之差異性將更大因 此。而當溫度升至 300 oC 時,晶界結構將更為清晰,如圖 3-36 (a) ~ 3-36 (c) 所示,但 乃呈現應變之帶狀晶粒結構,其尺寸約為 8x7x4

µ

m,且可發現細小之再結晶晶粒,約 為 3 µm 左右。隨著溫度上升至 350、400、450、500 及 550 oC,晶粒結構逐漸轉為等軸 之晶粒,且細小之再結晶晶粒亦逐漸成長,並再結晶將逐漸取代原應變帶狀之區域,如 圖 3-37、3-38、3-39、3-40 及 3-41 所示,分別為 350、400、450、500 及 550 oC 之照片,

從照片上量測各溫度之平均晶粒尺寸,分別約為 7.5x7x5 µm、8.1x7.1x5.5 µm、9.6x7.7x6.5

µm、8.7x7.8x6 µ

m、11.1x10x7.8 µm,若將各溫度之平均晶粒尺寸轉換為有效平均晶粒 尺寸 (equivalent average grain size, dave),即在三截面分別所量取之尺寸相乘後,再開立 方根而得之值,則 300 ~ 550 oC 之有效平均晶粒尺寸分別為 6.0、6.4、6.8、7.8、7.4、

9.5

µm,如圖 3-42 所示,乃 TMT3 試片之有效平均晶粒尺寸所受溫度影響之情況,當

溫度高於 270 oC 時,晶粒明顯成長迅速,但隨後溫度之提高,晶粒成長趨於和緩,此 乃由於試片經熱機處理後,整個試片之微結構可說是相當的均勻,隨著溫度之提高,再 結晶及晶粒成長之發生,最後乃呈現小且等軸之穩定晶粒結構,明顯有別於 ARA 試片 之結構。而從拉伸測試數據顯示,在 250 oC 及 1x10-3 s-1時,可得 443%的伸長量,但升 溫至 270 oC 時,在同樣應變速率下,伸長量降為 232%,在 300 oC 時,更是降至 153%,

可見得,升溫至 270 oC 或 300 oC 時,靜態再結晶的發生,將對 5083 鋁合金低溫超塑性 造成嚴重之影響,由於在 270 oC 或 300 oC 時,再結晶才逐漸發生,故晶粒尺寸不均勻,

此時的結構,是與 ARA 試片類似的,只是晶粒尺寸差異較小,但同樣已對低溫超塑性 造成明顯影響,而隨著溫度之上升,晶粒結構逐漸轉為小且等軸之穩定晶粒結構,且又 在更高之高溫,故是有利於晶界滑移之進行。

3.3.3 超塑拉伸後的微結構變化

將 TMT3 試片,於 250 oC 與 1x10-3 s-1的條件下,分別拉伸至 10% (真實應變約等

於 0.1)、20% (真實應變約等於 0.2)、42% (真實應變量約等於 0.4)、108% (真實應變約 等於 0.7)、153% (真實應變約等於 0.9) 及 216% (真實應變約等於 1.2) 後,停止拉伸並 取出試片做軋延面之 TEM 觀察,試片取樣位置為局部最大真實應變 (

ε′

) 的位置,分 別是 0.1、0.25、0.42、0.97、1.31 以及 2.21,如表 3-8 所列之對照。隨著應變量的增加,

晶粒結構與晶粒取向也隨著改變。拉伸起始的晶粒結構如圖 3-33 (a) 所示,晶粒尺寸約 0.5 µm,而拉伸至 10% (

ε′∼

0.1) 後,晶粒則成長至約 0.9 µm,如圖 3-43 (a) 所示;當 拉伸至 20% (

ε′∼

0.25) 後,晶粒則成長至約 1.4 µm,如圖 3-43 (b) 所示;拉伸至 108%

(

ε′∼

0.97) 後,晶粒成長至 1.8 µm,如圖 3-43 (c)所示;而拉伸至 153% (

ε′∼

1.31) 後,

則晶粒成長至約 2 µm,如圖 3-43 (d) 所示;又如圖 3-43 (e) 所示,拉伸至 216% (

ε′∼

2.21) 後,晶粒成長至約 2.5

µm。從圖 3-43 (a) 與 (b) 中可看出在晶粒內部有明顯的差排活

動的痕跡,且差排密度也很高,如此顯示著在應變起始 (

ε′

= 0 ~ 0.3) 時,材料的變形 與差排的活動有著密切的關係。而當

ε′

等於或超過 0.97 時,晶粒內部的差排密度明顯 減少許多,因此也意味著,當拉伸試驗進行到該階段時,晶界滑移將成為主要的變形機 構。當拉伸至 216 %後,晶粒已呈現穩定的結構狀態,晶粒內的差排更是很少了。圖 3-44 (a) 為晶粒尺寸與局部真實應變的關係,圖 3-44 (b) 為晶粒尺寸與拉伸時間的關係圖,

其圖也比較,晶粒尺寸在 250 oC 靜態退火與動態拉伸時之相對關係。因此,在 250 oC 與 1x10-3 s-1的條件下,拉伸至 216%的伸長量,大約需花 20 分鐘的時間,晶粒尺寸約 為 2.5 µm,因此我們將與在 250 oC 靜置 20 分鐘的試片 (晶粒尺寸約 0.75 µm) 做比較,

很明顯的可以看到,在拉伸過程中,動態晶粒成長的速率比靜態晶粒成長還來得快。

隨著伸長量的增加,晶粒取向也逐漸的改變。從繞射圖來看,當局部真實應變約等 於 0.1 時,很明顯的,從原本的 [110] 及 [112] 織構組織 (如圖 3-33 (a) 所示) 轉換成 較散亂分布的晶粒取向 (如圖 3-43 (c) 所示),當局部真實應變達 0.97 時,原始的織構 組織已很難再看到。

另外,在局部真實應變 (

ε′

) 等於 1.31 及 2.21 的試片裡,發現到有微裂孔 (micro-cavitation) 的存在,尤其是在晶界或晶粒的三接點 (grain triple point)。而這些微

裂孔的長度大多為 0.5 到 1.5 µm 左右,當這些微裂孔串聯在一起後,將導致試片斷裂。