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第四章 數據分析

4.2 變形機構分析

4.2.3.2 表面活化能

透過 (4-6a) 及 (4-6b) 兩式,可求得 450 ~ 550 oC 溫度區間之 Qa值。如圖 4-21 (a) 所示,在固定σ等於 10 MPa 的條件下,以ln

ε&

對 1000/RT 作圖,可得斜率約為 159.5,

如圖所示,即約為 159.5 kJ/mole;另外,在固定

ε& 等於 1x10

-3 s-1的條件下,以ln

σ

對 1000/RT 作圖,則可得斜率約為 70.2,如圖 4-21 (b) 所示,並將一大約之 ma值約為 0.45 帶入計算,則可求得 Qa值約為 156.0 kJ/mole。因此,透過 (4-6a) 及 (4-6b) 兩式所算 得之 Qa值是很接近的。

4.2.3.3 門檻應力值 (σth) 與真實應變速率敏感值 (mt)

如圖 4-22 所示,乃分別將 n 等於 1.5、1.8 及 2.0 別帶入

ε& ,並以

1n

ε& 對σ

1n 作圖,以 求取合理且最佳線性關係之 n 值。如表 4-7 所示,為各 n 值所得可能之門檻應力值及最

佳精確度 (r),由表上可看出,n 等於 1.8 時,是較合理的,也就是說,此溫度區間之 mt值約為 0.55 左右。而所求得 450、500 及 550 oC 之σth值為 4.49、1.85 及 0.39 MPa。

4.2.3.4 真實活化能 Qt

在求得各個溫度的初始應力值後,可將初始應力值帶入而求得有效應力值,並以

( σσ

th

)

ε& 作雙對數曲線圖,如圖 4-23 所示,透過 (4-9a) 及 (4-9b) 兩式,來求取

Qt值。在固定

( σσ

th

)

等於 5 MPa 的條件下,以ln

ε&

對 1000/RT 作圖,可得斜率約為 82.2,如圖 4-24 (a) 所示,即 Qt值約為 82.2 kJ/mole;若在固定

ε& 等於 2x10

-3 s-1的條件 下,以ln

σ

對 1000/RT 作圖,則可得斜率約為 49.5,如圖 4-24 (b) 所示,而將 mt值約 為 0.55 帶入計算,則可得 Qt值約為 90.1 kJ/mole。

同樣的,我們也考慮在此區間,溫度對彈性係數之影響,並以 (4-1) 式分別求算各 溫度之彈性係數值。而同樣透過 (4-9a) 及 (4-9b) 兩式來求算經彈性係數修正後之 Qt

值。在固定

E

σ

th

σ

等於 1x10-4的條件下,以ln

ε&

對 1000/RT 作圖,可得斜率約為 76.3,

如圖 4-25 (a) 所示,即 Qt值約為 76.3 kJ/mole;而在固定

ε& 等於 1x10

-3 s-1的條件下,以

 

 

 − E

σ

th

ln

σ

對 1000/RT 作圖,則得斜率約為 44.3,如圖 4-25 (b) 所示,並將 mt值約為

0.55 帶入計算,則所算得之 Qt值約為 80.5 kJ/mole。因此,以 (4-9a) 及 (4-9b) 兩式所 算得之 Qt值亦是很接近,平均約為 78 kJ/mole。故推測此溫度區間之應變速率控制之擴 散步驟為晶界擴散或差排管擴散。

因此,從上述所得結果,450 ~ 550 oC 之 mt值約為 0.55,且所求得之 Qt值約為 78 kJ/mole,且從 OM 照片所觀察之微結構,在此溫度區間所呈現的結構是小且等軸之晶 粒,在 3.3.2 節中,已知在 450 ~ 550 oC 時,平均有效晶粒尺寸約為 7.4 ~ 9.5 µm,故在 推測此溫度區間之主要變形機構為晶界滑移,並伴隨差排滑移與爬升為補償機構,而差 排爬升所需之擴散步驟似乎為鋁之晶界擴散。另外,比較表 3-2 中,TMT3 試片之 UTS 值又呈現遠比 ARA 試片小之現象,在 550 oC 時,ARA 試片之 UTS 值為 TMT3 試片之

3 ~ 4 倍,因其變形機構不相同,但仍可看出其有明顯之晶粒尺寸效應,此與 TMT3 試 片以晶界滑移為變形機構之推測是相符合的,因晶界滑移運作時,晶粒尺寸係數約為 2

~ 3,是有明顯之晶粒尺寸效應的。

4.2.4 探討 ARA 試片可能之變形機構

如表 4-8 所示,為 ARA 試片於 250、450、500 及 550 oC 時,及在 8x10-4 ~ 2x10-3 s-1 之條件下,所取真實應變為 0.3 之真實應力值。如圖 4-26 所示,為各溫度應變速率與流 應力之關係圖,其斜率即為各溫度之 ma值,從圖上可發現,250 oC 時之 ma值約只有 0.14 左右;而在高溫時,ARA 試片之 ma值則約為 0.3 左右,若在固定應力值為 15 MPa 的條件下,以ln

ε&

對 1000/RT 作圖,如圖 4-27 (a) 所示,則可得斜率約為 129.4,即所 求得之 Qa值約為 129.4 kJ/mole;而若在固定應變速率為 1x10-3 s-1的條件下,以ln

σ

對 1000/RT 作圖,如圖 4-27 (b) 所示,則得斜率約為 44.2,若除上 ma值,則可求得 Qa約 為 147.4 kJ/mole。由於所作實驗數據有限,故未求取 mt值及 Qt值,但從所得數據來看,

ARA 試片在低溫時之變形機構,推測應為 power law dislocation creep (即 n ~ 5);而在高 溫時,顯然是典型的溶質拖曳潛變 (即 n = 3),而控制應變速率之主要擴散步驟應為鎂 在鋁中之差排管擴散。因此,未經熱機處理之 ARA 試片,乃呈現與 TMT3 試片迥然不 同之結果,除了在低溫時,以 power law dislocation creep 為其主要變形機構,在高溫時,

仍主要以溶質拖曳潛變為主,此與 TMT3 試片中溫之結果相類似,同樣是因結構之不 均勻性而產生之變形行為。