國立交通大學
電子工程學系 電子研究所碩士班
碩士論文
利用一種新穎結構進行複晶矽薄膜電晶體之熱
載子可靠性分析
A Study of Hot-Carrier Reliability for Poly-Si Thin-Film
Transistors Using a Novel Test Structure
研 究 生:張凱翔
指導教授:林鴻志 博士
黃調元 博士
利用一種新穎結構進行複晶矽薄膜電晶體之熱
載子可靠性分析
A Study of Hot-Carrier Reliability for Poly-Si Thin-Film
Transistors Using a Novel Test Structure
研 究 生:張凱翔 Student: Kai-Hsiang Chang 指導教授:林鴻志 博士 Advisors: Dr. Horng-Chih Lin 黃調元 博士 Dr. Tiao-Yuan Huang
國立交通大學
電子工程學系 電子研究所碩士班
碩士論文
A Thesis
Submitted to Department of Electronics Engineering & Institute of Electronics College of Electrical and Computer Engineering
National Chiao-Tung University in Partial Fulfillment of the Requirements
for the Degree of Master in
Electronic Engineering July 2008
Hsinchu, Taiwan, Republic of China
