二極體原理
1. 二極體之基本結構---pn 接面
2. 二極體的電流電壓特性---
−
= T 1
D
V v
S e I
I η
1. 二極體之基本結構---pn 接面
A. 接面與空乏區(Junction and depletion region)
p型半導體 n型半導體 電洞
電子
接面
能帶圖(電中性)
E
CE
V游離之施體 游離之受體
由於電子與電洞之分布不均勻產生擴散,
擴散後電中性被破壞,產生電場。
E
CE
V復合 電場
p型半導體 n型半導體
空乏區(depletion region)
空間電荷區(space charge region) logp & logn
x p=NA
A
i N
n n= 2/
n=ND
D
i N
n p= 2/ xn
-xp 0
ρ(x) charge density
xn -xp
+qND
-qNA
E(x) electric field
xn -xp
x
x
dx
Sid
ε
= ρ E
V(x) electric potential
xn -xp
x
− E dx =
-|Emax|
dV
由全域之電中性 xnND=xpNA 即
Si Si
max ε ε
p n A
Dx qN x
E = qN =
Si 2
2 1
ε
n Dx qN
Si 2
2 1
ε
p Ax qN
p n d
d D A
D p
d D A
A n
x x x
N x N x N
N x N x N
+
=
= +
= +
xd 空乏區寬度
對電子而言,電位能 E= -qV E V
E(x) electric potential energy
xn
-xp x
( )
2 Si
2 2 2
2
Si
2 2
Si
Si 2
Si 2
2 1 2 1 2 1
2 1 2
1
d D A
D A
d D
A A D
d D
A D A
n D p
A
n p D
A bi
N x N
N N q
N x N
N N N x
N N N q
x N x
q N
x x qN
V qN
= +
+ +
= +
+
=
+
=
ε ε ε
ε ε
qVbi(x)
Vbi built-in potential 內建電位 xd
+
=
D A
D A
bi
d
N N
N N
q x 2 ε
SiV
對one-sided abrupt junction:
n+-p (ND>>NA) xd~xp
n-p+ (NA>>ND) xd~xn
Si 2
2 1
ε
d A bi
x V = qN
Si 2
2 1
ε
d D bi
x
V = qN
+
=
D A
D A bi
d N N
N N
q x 2εSiV 求內建電位 Vbi
這裡我們用到在平衡時電洞(電子)流為零,即擴 散電流和漂移電流底消。
dx dV pdx
D dp
dx qD dp qp
J
p p
p p
p
−
=
=
=
−
= µ
µ E
E 0
=kT/q Einstein Relationship
p dp q
dV = − kT
積分範圍由空乏區的一端 -xp 積分到另一端xn
−
−
=
−
=
− −
=
−
=
= ∫
−∫
−A D
i A
D i
p x n
p x p x
bi x
N N n q
kT N
N p n
q kT
x p
x p p
q kT p
dp q
dV kT
V
np n
p
ln / ln
ln
) (
) ln (
2 2
) (
) (
+
=
=
i D i
A i
D A
bi
n
N n
N q
kT n
N N q
V kT ln
2ln ln
給定 NA及ND
計算內建電位 Vbi
計算空乏區寬度 xd
ln 2 i
D A
bi n
N N q V = kT
例題
300K的Si,ni=1.45×1010 cm-3 (A) NA=ND=1019 cm-3
( )
1.05V mV
1050
10 45 . 1
10 ln 10
mV 8 . 25
ln
210 19 19
2
=
=
×
= ×
=
i D A
bi
n
N N q
V kT
( ) ( )
nm 6 . 16 cm 10
66 . 1
10 cm 10
10 10
C 10 6 . 1
V 05 . 1 F/cm 10
05 . 1 2 2
6
3 19
19
19 19
19 12 Si
=
×
=
× +
×
×
= ×
+
=
−
−
− D A
D A
bi
d
N N
N N
q x ε V
(B) NA=1017 cm-3 ,ND= 1019 cm-3
( )
V 93 . 0 31mV 9
10 45 . 1
10 ln 10
mV 8 . 25
ln
210 19 17
2
=
=
×
= ×
=
i D A
bi
n
N N q
V kT
( ) ( )
nm 111 cm
10 11 . 1
10 cm 10
10 10
C 10 6 . 1
.93V 0
F/cm 10
05 . 1 2 2
5
3 19
17
19 17
19 12 Si
=
×
=
× +
×
×
= ×
+
=
−
−
− D A
D A
bi
d
N N
N N
q
x ε V
平衡時之能帶圖
E
CE
V游離之施體 游離之受體
qVbi
Eg xd
電洞 電子
電子所見到之位能分布及電子分布示意圖
qVbi 電子力學能
能量愈高,分 布機率愈低 擴散電子流
漂移電子流
電子濃度
n
p0= n
n0e
−qVbi/kT nn0=ND qVkT qV n
e n V
n ( ) =
0 − /電洞所見到之位能分布及電洞分布示意圖
qVbi 電洞力學能
能量愈高,分 布機率愈低
擴散電洞流 漂移電洞流
電洞濃度 pp0=NA
p
n0= p
p0e
−qVbi/kTkT qV p
e p V
p ( ) =
0 − /中性區 中性區 空乏區
qV
B. 加偏壓後之pn接面
上節所討論的接面,p及n兩極並沒有加電壓,即
p型半導體 n型半導體
1 2
Short, V1=V2
假如有加電壓,即V1-V2 = Va ≠0,結果如何?
1 2
V
a直覺圖像
假如V1-V2 = Va >0,外加電場方向和內建電場相反,結果電場變小
1 2
V
a>0
假如V1-V2 = Va <0,外加電場方向和內建電場相同,結果電場變大
1 2
V
a<0
順向偏壓(forward bias)
逆向偏壓(reversed bias)
iD
vD 順向偏壓 (forward bias)
逆向偏壓 (reversed bias)
0
( − 1 )
=
SD
I e
i
具整流效應 (rectifying effect)
加偏壓對空乏區之影響
E
CE
VqVbi
Eg
中性區 中性區 空乏區
vD iD
xd xd’
xd’
q(Vbi-vD) vD >0
vD =0 vD <0
空乏區之寬度
+
=
D A
D A
bi
d
N N
N N
q x 2 ε
SiV
+
= −
′
D A
D A
D bi
d
N N
N N
q
v
x 2 ε
Si( V )
C. 接面電容(Junction Capacitance)
p n
v
D+dV +Q +dQ
-dQ-Q
xd’
偏壓改變dV時,xd改變,同時產生儲存電荷的改變±dQ。
dV ±dQ 電容的效應 電容有多大?
d
j
x
C = ε
Si 電容/單位面積(和平行板電容相同) xd是偏壓vD的函數,接面電容Cj也是vD的函數。
2 / 1 Si
Si
) (
2
+
= −
=
D A
D A D
bi d
j
N N
N N v
V q
C ε x ε
Only for abrupt junction!!
假如只考慮one-sided abrupt junction,例如n+-p,
ND>>NA
2 / 1 Si
Si
) (
2
≈ −
=
D bi
A d
j
V v
N q
C ε x ε
)
( −
∝
bi Dj
V v
C
A D bi
j
q N
v V
C
2 Si) (
2 1
ε
≈ −
取1/Cj2對-vD作圖
1/Cj2
-vD -Vbi 0
Slope ∝ 1/NA
逆向偏壓的pn接面可用作偏壓調變的可變電容。
2. 二極體的電流電壓特性---
−
= T 1
D
V v
S e I
I η
qVbi 電子力學能
能量愈高,分 布機率愈低 擴散電子流
漂移電子流
nn0=ND
kT qV n p
e
bin
n
0=
0 − /kT qv p p
p kT v V q n D
D D
bi
n x n e
e n v
n ( ) =
0 − ( − )/= ( − ′ ) =
0 /q(Vbi-vD)
-xp’ x
順向偏壓時多出電子在-xp’處注入(injection) p型半 導體中,並向p型半導體中擴散,同時和電洞復合。
qVbi 電洞力學能
能量愈高,分 布機率愈低 擴散電洞流 漂移電洞流
pp0=NA qV kT
p n
e
bip
p
0=
0 − /q(Vbi-vD)
kT qv n n
n kT
v V q p D
D D
bi
p x p e
e p v
p ( ) =
0 − ( − )/= ( ′ ) =
0 /x xn’
順向偏壓時多出電洞在xn’處注入(injection) n型半 導體中,並向n型半導體中擴散,同時和電子復合。
以電洞為例:
xn’
Lp
( )
( )
( )
( 1 ) ( 1 )
) (
) 1 (
1 )
( )
(
1 )
( )
( ) (
/ 2
0 / ,
0 / ,
/ 0
/ 0 0
/ 0 /
) ( 0
−
=
−
′ =
−
∂ =
∆
− ∂
=
−
′ =
∆
=
∆
−
=
′ −
′ =
∆
=
′ =
− ′
−
′
− −
′
− −
−
−
kT qv D
p i kT p
qv p
n p n
p D
L x x kT
qv p
n n p
p p
D
L x x kT
qv n L
x x n n n
kT qv n n
n n n
n
kT qv n kT
v V q p n
n
D D
p n D
p n p D
n
D D D
bi
N e L
n e AqD
L p x AqD
i
e L e
p AqD x
x AqD p
i
e e
p e
x p x
p
e p p
x p x
p
e p e
p x
p
x
) (
nn
x p ′
∆
) (x p
n∆
在n型區之多出電洞之總電荷為
( )
( ) ( )
p kT p
qv p
n kT p
qv p
n p n
p D
p p p
p p p
kT qv n p
p n x n
L x x n
x n n p
e Q p e AqL
L p x AqD
i
D L
D L
e p AqL
L x p Aq dx
e x
p Aq dx
x p Aq
Q
D D
D
n p
n
n
τ τ
τ τ
=
−
=
−
′ =
=
⇒
=
−
=
∆ ′
′ =
∆
=
∆
= ∫ ∫
∞′− ′
∞ −
′
1 1
) (
1
) ( )
( )
(
0 / 0 /
,
2 / 0
τp為在n型區之多出電洞之生命期 Qp
同理可得電子之擴散電流
( )
( ) ( )
n kT n
qv n
p kT n
qv n
p n p
n D
n n n
n n n
kT qv p n
n p x p
L x x p
p x
p n
e Q n
e AqL L
n x AqD
i
D L
D L
e n AqL
L x n Aq dx
e x
n Aq dx
x n Aq
Q
D D
D
n n
p p
τ τ
τ τ
=
−
=
−
′ =
−
=
⇒
=
−
=
− ′
∆
′ =
−
∆
=
∆
= ∫ ∫
∞′+ ′
− ′
∞
−
1 1
) (
1
) ( )
( )
(
0 / 0 /
,
2 / 0
( )
( )
( 1 ) ( 1 )
) (
) 1 (
1 )
( )
(
/ 2
0 / ,
0 / ,
/ 0
−
=
−
′ =
−
−
∂ =
∆
= ∂
−
′ =
−
∆
=
∆
′ +
′ +
′ +
kT qv A
n i kT n
qv n
p n p
n D
kT qv n
p n p
n n
D
L x x kT
qv p L
x x p p p
D D
Ln xp x D
n p D
n p
N e L
n e AqD
L n x AqD
i
e L e
n AqD x
x AqD n
i
e e
n e
x n x
n
結論
E
CE
V中性區 中性區
空乏區
q(Vbi-vD) 電子流
電洞流
p n
和注入之電洞復合 注入p型區之電子流
和注入之電子復合
注入p型區之電洞流
i
pi
ni
D=i
n+ i
p電流
-x
p’ x
n’ i
D,n(x
n’)
i
D,p(-x
p’)
p n
n p D p
n D
D
i x i x
i =
,( − ′ ) +
,( ′ ) = τ + τ
(
/1 )
2 2
−
+
=
qv kTI
D p
i p A
n i n D
D
S
N e L
n AqD N
L n i AqD
4 4
4 3
4 4
4 2
1
(
/− 1 )
=
S qv kTD
e
DI
i
理想二極體方程式IS :反向飽和電流,是溫度的函數。
我們假設了:
•空乏區中沒有產生和復合
•低注入
實際二極體方程式 D
=
S(
qv / kT− 1 )
e
DI
i
ηη:理想因子(ideality factor) emission coefficient 有些人用n表示
η 在1與2之間 和空乏區或邊界 之復合有關 實如何測量η及IS?
在順向偏壓時,假如
e
qvD/ηkT>> 1
kT e I qv
i e
I
i
D S qvD/ kTlog
Dlog
S Dlog η
η
⇒ = +
≈
log iD
vD log IS
斜率為