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紋理參數研擬方法

第三章 實驗計畫

3.4 紋理參數研擬方法

由於紋理的性質可以波長和振幅做為分類標準,因此以下將介紹紋理波長和 紋理高度參數的研擬方法,以及使用方法的流程。

3.4.1 紋理波長參數

鋪面剖面可視為由不同的波長、振幅以及相位的正弦波所組合成的剖面,為 了解剖面中的波長組合,常使用傅立葉轉換分析之,而功率頻譜密度即是以傅立 葉轉換為基礎,探討剖面中不同波長正弦波之波形相對振幅高低。傅立葉轉換是 一種將訊號分解為多個不同波長(頻率)之正弦與餘弦波之訊號處理方式,其結 果可將一時間域(Time Domain)或距離域(Distance Domain)之波形訊號轉換至 頻率域(Frequency Domain)中進行分析,其定義如下式所示,分析概念圖如圖 3.19 所示

[33]

其中,

F(ω):經傅立葉分析轉換為頻率域之訊號;

F(t):原始時域之訊號;

t:時間;

ω:頻率。

圖 3.19 傅立葉轉換示意圖[33]

功率頻譜密度是以頻率(波長)做為函數定量表示訊號在單位頻率(波長)

的功率,其中,功率可視為傅立葉級數分量利用傅立葉頻譜的有效帶寬區分後的 平方值。因此,鋪面表面剖面進行頻譜分析後,功率頻譜密度會是空間頻率或是 紋理波長的函數,使用的單位分別為 m2/m-1或是 m2/mm [34]。

本研究使用 ProVal 軟體

[35]將紋理剖面分解成不同波長的能量,輸出不同波

長的能量值,將不同波長範圍下的能量值與 BPN 和 DFT 動態摩擦數進行相關性分 析,找出影響抗滑值之紋理波長。以下為使用 PSD 分析的方法與流程:

1. 加速度值經高通低通濾波處理後,二次積分轉垂直距離值。

2. 雷射電壓經轉換式轉換為高程值。

3. 輪速計讀取之脈衝(Pulse)數轉換為實際水平行進距離。

4. 將加速度轉換得的垂直距離值和雷射轉換之高程值相加後,配合實際水平行進 距離求得真實剖面。

5. 將真實剖面經高通濾波除去坡度的影響。

6. 設定輸出之水平間距為 0.05 mm。

7. 切出欲分析的長度。

8. 使用 ProVal 軟體進行紋理剖面之 PSD 分析,如圖 3.20 所示。使用 ProVal 軟體 進行剖面的 PSD 分析時需先輸入剖面資料,並且選擇輸出高程(Elevation)頻 譜密度、一倍的八度音程(octave),其中,八度音程是指輸出的相臨兩波長(頻 譜帶之中央波長),後者為前者之 2 倍,如 0.4 mm、0.8 mm、1.6 mm、3.2 mm…

等。由於 ISO13473-4 中提到若取樣間距誤差若大於 5%,需選擇一倍的八度音 程輸出。

圖 3.20 ProVal 軟體之 PSD 分析

ProVal 分析剖面的 PSD 後,會輸出不同波長下的能量,將這些不同波長的能 量做為影響抗滑值的紋理波長參數,進行後續的相關性分析,得知不同波長紋理 參數與抗滑值的影響程度。

3.4.2 紋理高度參數

由於鋪面的抗滑能力與紋理的高度(深度)有關,在 ISO 13565-2“Geometrical Product Specifications (GPS) –Surface texture: Profile method; Surfaces having stratified functional properties –Part2: Height characterization using the linear material ratio curve"[36]規範中介紹利用紋理剖面轉換線性材料比例曲線(linear material ratio curve)描述紋理的高度特性,並定義幾個在線性材料比例曲線中的高度參數,

以用來評估剖面的高峰、主要的部分以及剖面的低凹處。因此本研究擬利用這些 高度參數和抗滑值相互比較,找到影響抗滑值之高度參數。

高度分析的結果主要可分為三個部分,第一部分為鋪面剖面的高峰處(peaks), 這是最直接和輪胎接觸的地方,也是最快被磨耗的地方;第二部分為核心部分

(core),大多數的紋理屬於這部分,因此用來描述紋理的壽命;第三部分為最低 的區域(valleys),也就是剖面的低凹處,通常輪胎不會接觸到剖面的低凹處,但 是會有利於排水功能。要算出這三個部分的高度,首先要先轉換紋理剖面至高度 線性比例曲線(紋理高度的累積分佈),轉換後的曲線再分成三個區塊,算出折減 峰值高度(reduced peak height, Rpk)、核心粗糙深度(core roughness depth, Rk)以及折 減凹處深度(reduced valley depths, Rvk),如圖 3.21 所示

[9]。

圖 3.21 紋理剖面轉換線性材料比例曲線之示意圖[9]

ISO 13565-2 描述計算 Rpk、Rk、Rvk 的方法如下:

1. 將紋理剖面資料點高程值從大至小排列做為縱軸,橫軸為資料點之百分比,繪 出材料線性比例曲線,如圖 3.22 所示。

2. 找出曲線中占資料點百分比為 40 %且斜率最小的切線,繪製至曲線上。

3. 切線中對應到 x 軸 0 %和 100 %相交的點分別為 y1、y2,兩點間的距離即為 Rk。

4. 將 y1、y2畫水平線相交材料線性比例曲線的點分別對應的 x 值即為 Mr1、 Mr2。

5. 圖 3.22 中的斜線面積為 A1、A2,將 A1 除以 Mr1 即為 Rpk;相同地,將 A2 除以(100-Mr2)即為 Rvk,如圖 3.23 所示。

圖 3.22 Rk, Mr1, Mr2 的計算方法示意圖[36]

圖 3.23 Rpk, Rvk 的計算方法示意圖[36]

由於 Rpk、Rk、Rvk 分別代表的是鋪面的高峰處、核心部分以及低凹的部分,

另外 A1、A2 則是分別代表鋪面高峰處以及低凹處所涵蓋的範圍,因此本研究將 會使用 Rpk、Rk、Rvk 以及 A1、A2 五個紋理高度參數,以及使用兩種或兩種以 上的紋理高度參數和鋪面抗滑值進行相關性分析,找出紋理高度參數與抗滑值的 相關性。

y2

y1

A1

A2