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第三章 陣列式鋅鋁合金奈米線氣體感測元件設計與製作

3.1 陣列式陽極氧化鋁奈米模板製作

3.1.1 實驗方法與流程

AAO 製備的方法為下列所述:

一、退火 : 使用 99.7%鋁板,厚度為 0.3mm 進行退火處理,條件為 570℃,時間 3 小時。

二、機械拋光 : 機械研磨拋光,砂紙號數由 80 至 4000。

三、電化學拋光 : 電解拋光,時間為 10 分鐘。

四、陽極處理 : 一次陽極處理,時間為 1 小時。

五、蝕刻處理 : 使用鉻酸移除氧化層,時間為 40 分鐘。

六、陽極處理 : 二次陽極處理,時間為 6 小時。

七、去背 : 使用氯化銅將鋁基材完全蝕刻。

八、通孔 : 最後使用磷酸將阻障層移除,經過以上流程可得到上下通孔、規則排列且具 有高深寬比的陽極氧化鋁薄膜。

3.1.2 電解拋光(Electropolishing)

本研究於製備 AAO 前所需的前製動作,必須使鋁材的表面達到完全平整,才能製 作出使後端能加以應用之陣列式且具高深寬比 AAO,實驗則依序下列步驟進行:

一、基材(Substrate)使用 99.7%鋁片(世井材料),經過 570℃退火以後,再以 80 號至 4000 號砂紙機械研磨拋光,圖 3.2 所示。

圖 3.2 99.7%鋁片經 4000 號砂紙機械研磨後(a)實體圖,(b)OM 圖

(a)

(b)

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二、電解液(Electrolyte)以體積濃度為度量單位,比例為:

無水酒精:C2H5OH,70%;過氯酸:HClO4,15%;單丁醚乙二醇:C6H14O2,15%

(第一化工)

三、經機械研磨拋光之表面為反應面,夾持於自主開發的模具中,僅露出反應面,模具 可保護反應面除外之基材不受電解液之影響。

四、電源供應器之正極銜接模具,負極銜接鈦片,工作電壓為 40V,為了控制反應溫度,

反應槽將置入冰水機中,條件溫度為 25℃,其示意圖如圖 3.3 所示;拋光至表面呈 現鏡面效果,電解拋光時間為 10 分鐘,如圖 3.4 所示。

圖 3.3 電解拋光平台實體圖

圖 3.4 經機械研磨後電解拋光鋁片(a)實體圖,(b)OM 圖

(a)

(b)

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3.1.3 一次陽極化處理

經電解拋光後的鋁片,在其拋光面上要生成陣列式 Al2O3薄膜,需經過兩次陽極處 理,第一次陽極處理步驟為:

一、經過電解拋光後的鋁片以去離子水洗淨後,並以常溫氮氣吹至乾燥。

二、使用自製模具夾持鋁片,露出經電解拋光之表面,放置於電解液中。

三、電解液為濃度 0.3wt%的草酸(第一化工)溶液,目的為了讓管徑達 80nm。

四、負極使用鈦片置於電解液中。

五、可程式電源供應器之正極端連接模具,鈦片連接電源供應器負極端,電壓設定為 40V,電子將由電源供應器負極端出發經鈦片透過草酸電解液撞擊鋁片,再由模具 回到電源供應器正極端,第一次陽極處理時間為 1 小時。

六、反應期間為了使電解環境維持於室溫,電解槽將置於冰水機中,溫度條件固定為 25℃。

七、當陽極處理反應進行中,試片表面將會出現熱應力並出現因反應所產生的沉積物,

為解決上述問題,可在反應槽正上方架設旋轉馬達攪拌,一方面藉由攪拌電解液將 熱能傳遞至冰水機,另一方面因攪拌時能保持電解液濃度不會因長時間反應上下層 有所差異,同時能避免沉積物覆蓋於反應面上使反應效率下降,其示意圖如圖 3.5 所示。

圖 3.5 陽極處理平台實體圖

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3.1.4 鉻酸蝕刻

第一次陽極處理後,以去離子水將試片洗淨並使用酒精潤濕,再以室溫氮氣吹至乾 燥,待其完全乾燥後反應表面會形成一層米黃色薄膜(Al2O3),為了讓 AAO 薄膜具有高 度陣列性質,需先將其上層 Al2O3蝕刻移除,圖 3.6 所示,蝕刻溶液使用濃度 3%鉻酸 (CrO3)+60%磷酸(H3PO4),蝕刻溫度保持 60℃,維持 40 分鐘。

:Aluminum :Alumina 圖 3.6 鉻酸蝕刻示意圖

3.1.5 二次陽極化處理

經鉻酸蝕刻的鋁片,在其形成凹洞面上的鋁片要再次生成陣列式 Al2O3薄膜,需經 過第二次陽極處理,第二次陽極處理步驟為:

一、經過鉻酸蝕刻後的鋁片用去離子水洗淨後,並以常溫氮氣吹至乾燥。

二、使用自製模具夾持鋁片,裸露經電解拋光之表面,放置於電解液中。

三、電解液為濃度 0.3wt%的草酸(第一化工)溶液,目的為了讓管徑達 80nm。

四、負極使用鈦片置於電解液中。

五、電源供應器之正極端連接模具,鈦片連接至電源供應器負極端,電壓設定為 40V,

電子將由電源供應器負極端出發經鈦板透過草酸電解液撞擊鋁片,再由模具回到電 源供應器正極端,第二次陽極處理時間為 6 小時,目的為了讓管長達 50μm。

六、反應期間為了使電解環境維持於室溫,電解槽將置於冰水機中,溫度條件固定為 25℃。

七、當陽極處理反應進行中,試片表面將會出現熱應力並出現因反應所產生的沉積物,

為解決上述問題,可在反應槽正上方架設旋轉馬達攪拌,一方面藉由攪拌電解液將 熱能傳遞至冰水機,另一方面因攪拌時能保持電解液濃度不會因長時間反應上下層 有所差異,同時能避免沉積物覆蓋於反應面上使反應效率下降,實驗平台同一次陽

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極處理,經二次陽極處理試片如圖 3.7 所示。

圖 3.7 二次陽極處理 AAO 實體圖

3.1.6 去背蝕刻與薄膜通孔

經陽極處理過後,多孔性 AAO 模板已經達到本實驗的規格要求,孔徑為 80nm、模 厚 50μm 且具有高度陣列性排列,但此時 AAO 薄膜仍與未反應的鋁片仍結合再一起,

為了取得通孔之 AAO 薄膜,仍需依序下列步驟操作:

一、使用自製模具夾持鋁片,經二次陽極處理之背面裸露,置於蝕刻液中。

二、蝕刻液為 10%鹽酸(HCl)+氯化銅(CuCl2) (第一化工)溶液,直至 AAO 透明薄膜完整 裸露即可,如圖 3.8 所示。

圖 3.8 經去背的 AAO 試片實體圖

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三、不需將 AAO 試片從模具取出,連同模具以去離子水清洗,以酒精潤濕後待其陰乾 不宜用氣體吹乾,因為薄膜與鋁片僅剩周圍連接非常脆弱,故不須將 AAO 取出需 連同模具一起做清潔動作。

四、蔭乾後連同模具至於濃度 5%磷酸(H3PO4)蝕刻液中,溫度為 25℃,時間 60 分鐘,

即可將 AAO 薄膜底部阻障層完全移除。

五、最後使用自製模具,將 AAO 上下夾持,施一瞬間力迫使 AAO 薄膜延外圍銜接處 脫離鋁材,則完成奈米模板之製作,如圖 3.9 所示。

圖 3.9 AAO 薄膜實體圖

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