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顯示科技研究所碩士班
碩士論文
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低溫複
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低溫複晶矽薄膜電晶體
晶矽薄膜電晶體
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晶矽薄膜電晶體藉由直流偏壓
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製造缺陷態之光漏電
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製造缺陷態之光漏電
製造缺陷態之光漏電特性
特性
特性分析
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分析
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Study on the Photo Leakage Current of
LTPS TFTs by Extra Defect Creation
with DC Stress
研 研 研 研 究究究究 生生生生 : 李允翔李允翔李允翔 Yun-Hsiang Lee 李允翔 指導教授 指導教授 指導教授 指導教授 : 戴亞翔戴亞翔戴亞翔 博士戴亞翔 博士博士 Dr. Ya-Hsiang Tai 博士中華民國 九十七 年 六 月
低溫多晶矽薄膜電晶體藉由直流偏 低溫多晶矽薄膜電晶體藉由直流偏低溫多晶矽薄膜電晶體藉由直流偏 低溫多晶矽薄膜電晶體藉由直流偏壓製造缺陷壓製造缺陷壓製造缺陷壓製造缺陷 態之光漏電特性分析 態之光漏電特性分析態之光漏電特性分析 態之光漏電特性分析
Study on the Photo Leakage Current of LTPS TFTs by Extra Defect Creation with DC stress
研 究 生 : 李允翔 Student : Yun-Hsiang Lee
指導教授 : 戴亞翔 博士 Advisor : Dr. Ya-Hsiang Tai
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Submitted to Department of Display Insititute College of Electrical Engineering and Computer Science
National Chiao Tung University in Partial Fulfillment of the Requirements
for the Degree of Master
in
Display
June 2008
Hsinchu, Taiwan, Republic of China
