【19】中華民國 【12】專利公報 (B)
【11】證書號數:I612317 【45】公告日: 中華民國 107 (2018) 年 01 月 21 日 【51】Int. Cl.: G01R31/303 H03M7/30 (2006.01) (2006.01) G01R31/3183(2006.01) 發明 全 3 頁 【54】名 稱:一種測試資料之解壓縮器及其測試方法A DECOMPRESSOR FOR TESTING DATA AND METHOD THEREOF 【21】申請案號:105135393 【22】申請日: 中華民國 105 (2016) 年 11 月 01 日 【72】發 明 人: 李昆忠 (TW) LEE, KUEN JONG;陳鎮宗 (TW) CHEN, JHEN ZONG 【71】申 請 人: 國立成功大學 NATIONAL CHENG KUNG
UNIVERSITY 臺南市東區大學路 1 號 【74】代 理 人: 陳豐裕 【56】參考文獻: TW 200823476A CN 101778293A JP 2011-89833A US 2003/0131298A1 TW 200842383A CN 101821641B US 2002/0112199A1 US 2014/0372820A1 審查人員:黃是衡 【57】申請專利範圍 1. 一種測試資料之解壓縮器,係將一測試輸入之一原始輸入資料轉換為一測試向量以測試 一待測電路,該測試資料之解壓縮器係包括: 一測試資料散佈器,係具有一反相器與一 正反器串列,其中該反相器與該正反器串列分別接收該原始輸入資料,並將其轉換為複 數個測試資料,其中正反器串列可提供正相或反相之輸出; 一測試結構切換器,係電性 連接該測試資料散佈器以及該測試輸入,其包含有複數個多工器,其中該測試結構切換 器係接收該原始輸入資料與該複數個測試資料,並挑選出複數個掃描組需要的測試資 料,作為該測試向量傳送至該待測電路;以及 一測試控制器,係接收該原始輸入資料, 並輸出一選擇訊號至該測試結構切換器以使該複數個多工器切換至另一需要的測試結構。 2. 如申請專利範圍第 1 項所述測試資料之解壓縮器,其中該正反器串列係由 L 個正反器組 成,則該測試結構切換器係接收該原始輸入資料、該反相器之輸出以及 2*L 該正反器串 列之輸出,共最多 2+2*L 個輸入。 3. 如申請專利範圍第 1 項所述之測試資料之解壓縮器,其中該複數個多工器藉由邏輯簡化 方法,簡化成整合式切換邏輯電路。 4. 如申請專利範圍第 1 項所述之測試資料之解壓縮器,其中該待測電路之所有掃描鏈係劃 分成該複數個掃描組,相同之掃描組內的複數個掃描鏈共用並接收相同之該測試向量。 5. 如申請專利範圍第 1 項所述之測試資料之解壓縮器,其中該測試控制器在測試開始前, 係接收一測試致能訊號(Test Enable),告知該測試控制器是否開始進行測試程序。 6. 一種解壓縮器測試方法,該解壓縮器包含一測試資料散佈器、一含有複數個多工器之測 試結構切換器,以及一測試控制器,該測試方法係包括: 步驟一:一控制資料藉由一測 試輸入傳送至測試控制器,該控制資料為複數個測試向量之數量; 步驟二:一測試輸入 傳輸一原始輸入資料至該測試資料散佈器,將其轉換為複數個測試資料; 步驟三:該測 5010
-試結構切換器接收該原始輸入資料與複數個測試資料,並挑選出一待測電路之複數個掃 描組需要的測試資料,以作為一測試向量; 步驟四:該控制資料指示該測試結構切換器 之一測試結構將該測試向量輸出至該待測電路;以及 步驟五:該步驟二至該步驟四係反 覆執行,直至需由目前之測試結構傳入之該測試向量均傳送至該待測電路,完成後再由 該測試控制器輸出一選擇訊號至該測試結構切換器以切換目前的該測試結構至另一測試 結構。 7. 如申請專利範圍第 6 項所述之解壓縮器測試方法,其中該步驟一至步驟五係反覆地執 行,直至所有測試結構所需之測試資料均傳送至待測電路。 8. 如申請專利範圍第 6 項所述之解壓縮器測試方法,其中該測試資料散佈器具有一反相器 與一正反器串列,該正反器串列可提供正相及反相之輸出,則該測試結構切換器係接收 該原始輸入資料、該反相器之輸出以及 2*L 該正反器串列之輸出,共最多 2+2*L 個輸 入。 9. 如申請專利範圍第 6 項所述之解壓縮器測試方法,在該解壓縮器測試方法開始前,測試 控制器係進一步接收一測試致能訊號(Test Enable),告知該測試控制器是否開始進行測試 程序。 圖式簡單說明 第一圖:本發明其較佳實施例之解壓縮器整體架構圖 第二圖:本發明其較佳實施例之解壓縮器部分放大圖(一) 第三圖:本發明其較佳實施例之解壓縮器部分放大圖(二) (2) 5011
-(3)