【11】證書號數:I436415
【45】公告日: 中華民國 103 (2014) 年 05 月 01 日
【51】Int. Cl.: H01L21/30 (2006.01)
發明 全 7 頁
【54】名 稱:薄膜轉印方法
METHOD OF MEMBRANE TRANSLATION
【21】申請案號:100136157 【22】申請日: 中華民國 100 (2011) 年 10 月 05 日
【11】公開編號:201316387 【43】公開日期: 中華民國 102 (2013) 年 04 月 16 日
【72】發 明 人: 蘇炎坤 (TW) SU, UAN KUIN;莊明岳 (TW) CHUANG, MING YUEH;黃士 哲 (TW) HUANG, SHYH JER
【71】申 請 人: 國立成功大學 NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY
臺南市東區大學路 1 號
【74】代 理 人: 吳冠賜;蘇建太
【56】參考文獻:
TW 200609998 TW 200827934 審查人員:邱智強
[57]申請專利範圍
1. 一種薄膜轉印方法,包括:(A) 提供一基板及一固定單元,該固定單元係具有一表面,
且該基板係設置有一催化金屬層及一薄膜,其中,該催化金屬層係形成於該基板上,且 該薄膜係形成於該催化金屬層上;(B) 設置該固定單元於該薄膜上,其中,該固定單元 之該表面係面向該薄膜;(C) 蝕刻該催化金屬層,且該固定單元係施予該薄膜一壓力,
以將該薄膜轉印至該基板上;以及(D) 移除該固定單元。
2. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該壓力係一持續之壓力。
3. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,步驟(C)係為:(C) 蝕刻該催化金 屬層,且該固定單元係施予該薄膜一持續之壓力,以使該薄膜於該催化金屬層蝕刻過程 中,固定該薄膜與該基板之相對位置,並使該薄膜逐漸朝該基板之方向移動,以轉印該 薄膜至該基板上。
4. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該壓力係一持續之外界壓力。
5. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,步驟(C)係為:(C) 蝕刻該催化金 屬層,並提供一持續之外界壓力至該固定單元上,以使該薄膜於該催化金屬層蝕刻過程 中,固定該薄膜與該基板之相對位置,並使該薄膜逐漸朝該基板之方向移動,以轉印該 薄膜至該基板上。
6. 如申請專利範圍第 4 項所述之薄膜轉印方法,其中,該外界壓力係為一機械力、一重 力、或其組合。
7. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該基板之材料係至少一選自由:藍 寶石、氮化鎵、氮化鋁鎵、氮化銦鎵、磷化鋁銦鎵、矽晶圓、及玻璃所組成之群組。
8. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該薄膜係為一具可撓性之薄膜。
9. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該薄膜之材料係至少一選自由:石 墨烯、金屬材料、介電材料、半導體材料、及高分子材料所組成之群組。
10. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該薄膜係石墨烯。
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11. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該固定單元之該表面係為一經由表 面處理之表面。
12. 如申請專利範圍第 12 項所述之薄膜轉印方法,其中,該經由表面處理之表面,其表面處 理方法為表面電漿處理法、UV 光照射法、或鍍膜法。
13. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該固定單元係為一圖案化之固定單 元。
14. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該固定單元之材料係為一軟性材料。
15. 如申請專利範圍第 15 項所述之薄膜轉印方法,其中,該固定單元之材料係至少一選自 由:聚二甲基矽氧烷(Polydimethylsiloxane,PDMS)、聚對苯二甲酸乙二醇酯(Polyethylene terephthalate,PET)、矽膠、高分子材料、及金屬箔所組成之群組。
16. 如申請專利範圍第 15 項所述之薄膜轉印方法,其中,該固定單元之材料係為聚二甲基矽 氧烷(Polydimethylsiloxane,PDMS)。
17. 如申請專利範圍第 1 項所述之薄膜轉印方法,其中,該催化金屬層係以濕式蝕刻法進行 蝕刻。
圖式簡單說明
圖 1 係習知薄膜轉印流程圖。
圖 2 係本發明實施例 1 之薄膜轉印流程圖。
圖 3 係本發明實施例 1 之固定單元立體圖。
圖 4 係本發明實施例 2 之薄膜轉印流程圖。
圖 5 係本發明實施例 3 之薄膜轉印流程圖。
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