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次諧調式 泵 浦混波器(Subharmonically Pumped Mixer)…. 61

第四章 混波器

4.3 混波器的種類

4.3.4 次諧調式 泵 浦混波器(Subharmonically Pumped Mixer)…. 61

圖4.3.4 次諧調式泵浦混波器

在許多應用上,要產生一個基頻的 LO 訊號是非常不方便,也有可能需要花費非常高的 價位,甚至是不太可能。而應用在毫米波的混波器其轉換增益以及抗雜訊的效果往往被 LO 的 Power 或是雜訊所限制住,因此便有了次諧調式泵浦混波器(Subhamonically Pumped Mixer)的設計產生。其便是利用了 LO 一半的頻率,再透過 RF 的二次諧波頻率做混波,

所能得到的轉換增益非常的好,不過有時候會比一般的混波器差了 1 ~ 2 dB 左右;它在 LO Power 以及雜訊上的表現也都相當的好。

4.3.5 鏡像抑除混波器(Image Reject Mixer)

次諧調式 泵浦

決定於匹 配電路

決定於濾

波器 好 決定於濾

波器

鏡像抑除 好 好 好 好 好 好

種類 LO 雜訊抑制 LO 寄生訊號抑制 LO Power 需求

單端 無法 無法 低

單端平衡

(90º) 好 好 中等

單端平衡

(180º) 好 好 中等

雙端平衡 好 好 高

次諧調式

泵浦 好 好 中等

鏡像抑除 好 好 很高

表4.4.1 各式混波器功能比較表

第五章

IF寬頻放大器的設計和實驗

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5.1 傳輸線(Transmission Line)

傳輸線是微波電路設計中很重要的被動元件,在微波頻率需要小尺寸的電感性元件作為 匹配網路及共振腔使用,需要的電感值在幾百 pH 以下,用來傳輸準橫向電磁波

(Quasi-Transverse Electromagnetic, Quasi-TEM)。傳輸線的優點是可做成任何的長度與寬 度,能夠做出精確的電抗值。另外當使用傳輸線作連接時也可比較容易的模型化。另一個值 得注意的優點是使用傳輸線會有一個很好的回流接地面,可以隔絕與附近結構的耦合。在多 層結構中有很多種傳輸線,像帶狀線(Strip Lines)、微帶線(Microstrip Line)、溝槽線(Slot line)、共平面波導(Coplanar Waveguide)、共平面帶狀線(Coplanar Strip Line),下節將 討論微帶線。

圖5.1.1 分佈式 RLGC 有損傳輸線模型

任何準橫向電磁波傳輸線都可用頻率有關的分佈式 RLGC 電路模型所等效,如圖5.1.1 傳輸線可等效為下面四個參數:

C

Z L (5.1)

0 LC 2 ω

λ π (5.2)

R

QL ω0L (5.3)

G

QC ω0C (5.4)

其中 Z 為特徵阻抗,λ 為波長, QL 為電感性品質因數(Quality Factor), QC 為電 容性品質因數。傳輸線主要是儲存磁能,所以比起共振品質(Resonator Quality)、衰減常數

(Attenuation Constant),電感性品質因數 QL 在計算傳輸線損失時是最重要的參數。

5.1.1 微帶線(Microstrip Line)

微帶線是最廣泛使用的平面傳輸線之一,主要的原因是微帶線可以用照相蝕刻法製造,

也非常容易與其他的主動或被動微波電路連接且積體化。其幾何結構如圖5.1.2 所示,寬度為 W 的金屬線在厚度 d ,介質常數為 εr 的接地介質板上,電磁場分佈如圖5.1.3 所示。

圖5.1.2 微帶線結構剖面圖

圖5.1.3 微帶線電磁場分佈

如果沒有介質(εr = 1),我們可使用映射定理,將接地面移除,並於其下方取微帶線的 映射,整個結構成為一個雙導線傳輸線,其導體為金屬薄片,寬為 W ,線距為 2d 。顯然 此線為橫向電磁波傳輸線,vp= c,β = k0

兩導體之間的介質與上方的空氣區(y > d)構成非均勻介質,使微帶線的波導性質及分 析變得很複雜。在夾心帶線中,所有的電磁場都在均勻介質中;而微帶線則視覺大部分的電 力線和磁力線集中在微帶線金屬與接地面之間的介質區,一部份的電力線和磁力線則在上方 的空氣區。因為橫向電磁波在介質區的相位速度為c/ εr,在空氣區為 c ;所以只要 εr > 1,

兩者就不相同,在介質介面上,兩區電磁場的相位就無法完全匹配,所以純橫向電磁波不能 存在於微帶線上。

實際上,存在於微帶線的是一種橫向磁波-橫向電波(Transverse Magnetic - Transverse Electric, TM-TE)的混合波,需要比較深的分析技巧。絕大部分的微帶線中,介質基板的電 氣厚度都很小(d << λ),所以電磁場分佈很接近橫向電磁波,稱為準橫向電磁波(Quasi - Transverse Electromagnetic, Quasi-TEM)。換句話說,電力線和磁力線的分佈很接近靜電磁場。

因此,若用靜電場或準靜電場的分析微帶線,應該也可以得到很好的相位速度、傳波常數、

及特性阻抗近似值。此時相位速度與傳播常數可表示為

乘上此修正項的目的,是因為有部份的場在(無損的)空氣中,部份在(有損的)介質 中。導體損耗的衰減常數可由下式近似:

W Z

RS

c 0

α = Np / m (5.16)

其中RS = ωμ0/2σ 為金屬的表面電阻,除了一些半導體材質的基板外,絕大部分微帶 線的導體損耗會比介質損耗高出許多。

5.2 元件選擇

本論文使用的電晶體是 Avago 的 N-channel FET,型號為 ATF-33143,製程為擬高速 電子遷移率電晶體(pHEMT,pseudomorphic High ElectronMobility Transistor),有低雜訊指 數與高增益的優點。典型操作頻率為 1.9 GHz,雜訊指數為 0.5 dB,增益為 15 dB,操作偏 壓為 Vds= 4 V, Id = 80 mA,P1dB 為 22 dBm,OIP3 為 33.5 dBm。使用 SOT-343 封裝,

電晶體外型如下圖,有四隻針腳。

(a) (b)

圖5.2.1 ATF-33143 外型圖(a)俯視圖 (b)底視圖

電晶體模型如下圖,傳輸線為針腳,電容為傳輸線間寄生電容,電感為晶片到針腳的鎊

線,另外還有針腳穿出封裝的貫孔效應。

圖5.2.2 ATF-33143 非線性模型

Parameter Q1 Parameter Q1 Parameter Q1 VTO -0.95 Rd 0.125 Gdrev 0

Beta 0.48 Rg 1 Vrj 1

Lambda 0.09 Rs 0.0625 Is 1 nA Alpha 4 Ld 0.00375 nH Ir 1 nA B 0.8 Lg 0.00375 nH IMax 0.1 Tnom 27 Ls 0.00125 nH Taumd1 No

Vbi 0.7 Cds 0.08 pF Fnc 1000000

Delta1 0.2 Crf 0.1 R 0.17

Gscap 3 Rc 62.5 C 0.2

Cgs 1.6 pF Gsfwd 1 P 0.65

Gdcap 3 Gsrev 0

Cgd 0.32 pF Gdfwd 1

表5.2.1 ATF-33143 非線性參數(Series IV Libra TOM Model)

電晶體散射參數如下圖所示,曲線頻率從 100 MHz 到 3 GHz,標示點為 3 GHz

圖5.2.3 ATF-33143 的散射參數

5.3 FR-4(Flame Resistant 4)

FR-4 為 Flame Resistant 4 的縮寫,是一種製作印刷電路板的材料,本身沒有金屬銅覆 蓋在上面,顏色為黃色或綠色,材質為多層環氧玻璃纖維再加入合成樹脂壓製而成,易燃燒,

後來加入抑制燃燒劑,成為防火材料(FR)。板材兩面電鍍 1 盎司到 2 盎司的銅,再以曝 光顯像蝕刻技術,將需要的佈局留下,其他的洗去,成為設計的電路一部分,再焊接上離散 的元件,成為完整的電路。板材還有其他許多材質,但 FR-4 在耐壓、耐熱、頻率響應、使 用年限、價位的考慮下,已成為很多電路板製作廠商最佳的選擇。表5.3.1 為 FR-4 的性質 參數。板厚 1.6 mm 的 FR-4 板 50 Ω 特徵阻抗的線寬約為 3 mm。

(a) (b)

圖5.3.1 FR-4 板實體圖(a)覆銅箔 (b)無覆銅箔

性質 數值

介電常數

(Dielectric constant,Relative permittivity)

4.7(最大)

4.35(500 MHz)

4.34(1 GHz)

3.9(10 GHz)

導磁係數

(Relative Permeability) 1 正切損失

(Loss tangent, Dissipation factor)

0.02(1 GHz)

0.025(10 GHz)

介質強度

(Dielectric Strength) 20 MV/m(500 V/mil)

最小表面電阻率

(0.008 ~ 0.062)inches 硬度

(Stiffness) 17 Gpa(2.5 × 106 2 PSI)

玻璃轉移溫度 Tg

(Glass transition temperature) 110 ~ 200 ºC 密度

括上述配件的損耗及相位的影響。在方塊圖5.4.1 中,實際量測的參考面及雙埠待測物參考面 for Device Port 1 Measurement

Plane for Port 1

Reference Plane for Device Port 2

Measurement

我們可用信號流程圖,推導出整個 TRL 校正手續中所需的聯立方程式,已解出的「誤

圖5.4.4 所示為傳輸線段接法的方塊圖及對應的信號流程圖。利用與穿透接法類似的方

Error Box

[S]

Error Box

[S]

Reference Plane for Device Port 1 Measurement

Plane for Port 1

Reference Plane for Device Port 2

Measurement Plane for Port 2

圖5.4.2 穿透接法的方塊圖及信號流程圖

圖5.4.3 穿透接法的方塊圖及信號流程圖

圖5.4.4 穿透接法的方塊圖及信號流程圖

如圖5.4.5 為 TRL 校正的實做照片,由(a)到(d)依序分別是穿透、反射、傳輸線段、

量測用,量測用接法中間的空隙是為了焊接欲量測的 SMD 元件所留,誤差校正盒包括 SMA 接頭、傳輸線、還有兩者間的銲錫,在三種連接方式中需完全相等,以確保校正的正確性。

(a) (b)

(c) (d)

圖5.4.5 TRL 校正電路實做相片(a)穿透(b)反射(c)傳輸線段(d)量測用

圖5.4.6 為 SMD 電阻外型與等效電路模型,除了原本的電阻以外還並聯一個寄生的電 容,圖5.4.7 為 110Ω 的理想電阻與 SMD 電阻 S 參數比較圖, 4 GHz 後寄生效應影響變 大。

圖5.4.6 SMD 電阻外型與等效電路模型

(a)

(b)

圖5.4.7 110 Ω 的理想電阻與 SMD 電阻 S 參數比較圖

圖5.4.8 為 SMD 電容外型與等效電路模型,除了原本的電容以外還串連一個寄生的電

感,圖5.4.9 為 1pF 的理想電容與 SMD 電容 S 參數比較圖,圖5.4.10 為使用校正後 SMD 1pF 電容資料計算出來的電容值,可看出高頻的寄生效應影響越來越大,共振頻率在 5.7 GHz。

圖5.4.8 SMD 電容外型與等效電路模型

(a)

(b)

圖5.4.9 1pF 理想電容與 SMD 電容 S 參數比較圖(a)回饋損失(b)插入損失

圖5.4.10 SMD 1pF 電容值

5.5 量測儀器

我們利用 Agilent(E8364A)網路分析儀量測 S 參數,如圖5.5.1 所示,網路分析儀的 頻率範圍為從 300 kHz 到 8.5 GHz。

圖5.5.1 量測小訊號增益、回饋損失儀器連接圖

5.6 IF寬頻放大器

5.6.1 電路設計

由於測試的高畫質電視訊號,其主要的訊號頻譜就在於 0 ~ 1.5 GHz,因此針對此而設計 了運用在 0 ~ 1.5 GHz 的放大器,增益也必須要很平滑,最高值和最低值不得超過 5 dB,才 有可能將電視的訊號還原並且放大。本論文的 IF 寬頻放大器是使用 Avago 的 ATF-33143

所設計的放大器,圖5.6.1 為電路設計架構圖,此電路設計利用了負回授放大器的架構,利用 此方法可以達到寬頻放大器的效果,而使用微帶線(Microstrip Line)作匹配,以及使用有損 匹配(Lossy Match)增加電路穩定性。汲級(Drain)偏壓為 4 V,閘級(Gate)偏壓為 - 0.5 V,電流 IDS 為 36 mA,電感為貫孔等效電感。C1、C2 為不同容值的電容,以用來設計旁路

圖5.6.2 IF 寬頻放大器電路實作相片

5.6.2 模擬與量測

此電路是使用 Agilent 的 Advanced Design System(ADS)模擬軟體進行模擬,模擬結 果如圖5.6.3 到圖5.6.4 所示,使用頻率為 0 ~ 1.5 GHz,增益模擬為 21 ± 2 dB,量測為 ± dB;輸出輸入回饋損失小於 -9 dB,由於此放大器只要能夠使訊號傳輸,增加無線電視訊號 傳輸的距離即可,因此在輸入和輸出的回饋損失上,要求比較不會太過嚴苛;至於穩定度方 面均是大於一,這和匹配的電路以及電晶體本身有關。

0.0 0.5 1.0 1.5 2.0

0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 -40

-35 -30 -25 -20 -15 -10 -5 0

|S22| (dB)

Frequency (GHz)

Simulation Measurement

圖5.6.5 IF 寬頻放大器輸出回饋損失的模擬和量測結果

0.0 0.5 1.0 1.5 2.0

0 2 4 6 8 10

Stability

Frequency (GHz)

圖5.6.6 IF 寬頻放大器的穩定度模擬結果

Frequency(GHz) Gain(dB) | S11 |(dB) | S22 |(dB)

Simulation 0 ~ 1.5 16 ± 1 < - 10 dB < - 9 dB Measurement 0 ~ 1.5 15 ± 1 < - 10 dB < - 9 dB

表5.6.2 IF 放大器特性整理表

5.7 介面與寄生問題

在本章中,集總元件(Surface Mount Device, SMD)對電路之影響甚嚴重,由於 SMD 元 件與金屬線電路之連接存在介面不連續。如圖5.7.1 所示為 SMD 元件與 SMA 接頭與微帶 線之介面示意圖,圖5.7.2 為 SMD 元件與微帶線介面示意圖。微帶線為準橫向電磁波已經 是一近似的推論,而集總元件與接頭以呈現垂直的彎角,銲錫介面的電感與電容不連續效應,

與銲錫內部材料的材質產生的電阻、電感與電容性,銲錫與元件金屬部份、銲錫與接頭在焊

與銲錫內部材料的材質產生的電阻、電感與電容性,銲錫與元件金屬部份、銲錫與接頭在焊