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Panel 單根檢定

在文檔中 中 華 大 學 碩 士 論 文 (頁 36-39)

第三章 研究方法

第一節 Panel 單根檢定

追蹤資料包含時間序列,而在時間序列的分析上最重要的先決條件就是資料必頇 為定態序列,若不滿足此一條件,即使廻歸結果顯著也可能存在假性廻歸之問題。為 檢定追蹤資料是否為定態,則需進行 Panel 單根檢定。在 Eviews 上可根據是否所有 截面序列具有相同單根過程,或所有截面序列不具相同之單根過程,而將檢驗單根方 法分為同質單根檢驗法與異質單根檢驗法兩大類,以下分別介紹這兩種檢驗法:

一、同質單根檢驗

同質單根是指假設各截面單元序列具有相同的單根過程情況下,對截面序列進行 單根檢驗。表 9 列出各種不同情況所做的檢驗。

28

表 9 同質單根檢驗

檢驗方法 檢驗統計量

檢驗方程外 生廻歸量的

型式

自相關修正 方法 虛無假設:各截面序列均有一個單根

對立假設:各截面序列平穩

LLC t 統計量 N, F, FT Lags, Kernel Breitung t 統計量 FT Lags 虛無假設:各截面序列不含單根

對立假設:各截面序列含單根

Hadri

Z 統計量 異 方 差 一 致 Z 統計量

F, FT Kernel

資料來源:「數據分析與 Eviews 應用」,易丹輝,2008,北京:中國人民大學出版社,

頁 316。

其中,模型的表達式可分為三個種類:N 表示沒有個體固定效應和趨勢(即無外 生變量),F 表示固定效應,FT 表示既包含固定效應,又包含趨勢。檢定統計量則分 為三種,分別是 t 統計量、Z 統計量及異方差一致之 Z 統計量;處理自相關的方式有:

以落後期方式調整,或調整核型式(Kernel)。不同檢定方法亦有不同之虛無假設。LLC 及 Breitung 單根檢定之虛無假設為各截面序列均存在單根;而 Hadri 單根檢定則假設 各截面序列不含單根。

二、異質單根檢驗

異質單根是在各截面單元序列可能具有不同單根過程之假設下進行。在這種情況 下,做法是分別對每個截面序列進行單根檢驗,再綜合各個截面檢驗結果,以計算檢 驗統計量,做為判斷之依據。以下是對這類情況所做之檢驗方式(見表 10)。

29

表 10 異質單根檢驗

檢驗方法 檢驗統計量 檢驗方程外生廻 歸量型式

自相關修正 方法 虛無假設:各截面序列都含有單根

對立假設:某些截面序列不含單根 IPS W 統計量

t-bar 統計量 F, FT Lags Fisher-ADF

Fisher 卡方統 計量 Choi-Z 統計量

N, F, FT Lags

Fisher-PP

Fisher 卡方統 計量 Choi-Z 統計量

N, F, FT Kernel

資料來源:「數據分析與 Eviews 應用」,易丹輝,2008,北京:中國人民大學出版社,

頁 316。

這三種異質單根檢定方法之虛無假設皆相同,假設各截面序列都含有單根,但是 其檢驗統計量則不同,其中 IPS 為 W 及 t-bar 統計量,而 Fisher-ADF 及 Fisher-PP 單 根檢定為 Fisher 卡方統計量及 Choi-Z 統計量。檢驗方程之型式及自相關修正方法,

除了 Fisher-PP 檢定為核型式外,另外兩種單根檢定方法則是以落後期方式調整。在 此不做各個不同單根檢驗法之比較,僅就可能採用之 LLC 單根檢驗進行說明。

三、LLC 單根檢驗

假設有 N 個不同截面單元,且每個變數都有 T 筆時間序列之資料。則第 i 個變數 之 ADF 單根檢定可表示如下:

, 1 1 , 1 2 , 2 .... 1 , 0 2 ,

i t i t i t i t p i t p i i i t

yy

y

y

y

  t

           

(3-1) 其中,

i

1, 2,....,

N

, p 則為落後期數, p 的選擇則視具體情況而選定,通常選 擇使

i t, 為白噪音之最小之落後期數。一般常依據序列

y

i t, 性質的不同,有以下形式可 供檢驗時選擇:

無固定效應及線性趨勢項(N):

30

1

, 1 , 1 ,

1 p

i t i t L i t L i t

L

yy

y

 

     

(3-2) 有固定效應,無線性趨勢項(F):

1

, 0 1 , 1 ,

1 p

i t i i t L i t L i t

L

y   y

y

 

      

(3-3) 包含固定效應及線性趨勢項(FT):

1

, 0 2 1 , 1 ,

1 p

i t i i i t L i t L i t

L

y   ty

y

 

       

(3-4) LLC 單根檢定之虛無假設為

0: 1= 2=...= N 0

H    

檢定統計量:

*

*

2

ˆ

ˆ

ˆ ˆ

( ) ( )

(0,1)

N mT

mT

t NT S se

t

   N

  

(3-5)

其中,

t

為使 ˆ

 

0的 t 統計量,

ˆ2為殘差之估計變異數,se( )

ˆ 是 ˆ

之估計標準 差,

S

N則定義為長期標準差與個別截面單元標準差之比率,

mTˆ*

mTˆ*分別為調整 後的平均值及標準差,N 為截面單元個數,T 定義如下:

( ) 1

i i

p T T

   N

(3-6) 當

調整後之 t 值將漸進於 N(0,1)之常態分配。

假如未能通過單根檢定,則資料之時間序列可能存在單根問題,亦即資料非穩定 時間序列,使用此序列進行分析會導致假性廻歸之問題,此時可透過差分的方式以使 資料的時間序列達到穩定。

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