應用於CMOS電路測試之內建熱加速自我測試電路
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(2) 應用於 CMOS 電路測試之內建熱加速 自我測試電路 BIST Burn-in Methodology for the CMOS Circuit. 研究生 ：劉 坪. Student: Ping Liu. 指導教授：李崇仁 教授. Adviser: Prof. Chung Len Lee. 國 立 交 通 大 學 電子工程學系 電子研究所碩士班 碩 士 論 文 A Thesis Submitted to Institute of Electronics College of Electrical Engineering and Computer Science National Chiao Tung University in partial Fulfillment of the Requirements for the Degree of Master of Science in Electronic Engineering December 2005 Hsinchu, Taiwan, Republic of China. 中華民國. 九十四. 年. 十二. 月.
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