國
立 交 通 大 學
材
料 科 學 與 工 程 學 系
碩
士 論 文
從
TiN鋁化、Ti
3Al氮化及TiN/Ti
3Al界面反應探討AlN/Ti
界面生成機構
Formation Mechanisms of the AlN/Ti Interface Based
upon Nitrided Ti
3Al, Aluminized TiN and the
Interfacial Reaction of TiN/Ti3Al
研
究 生:顏寧瑤
指導教授:林健正
博士
從TiN鋁化、Ti3Al氮化及TiN/Ti3Al界面反應探討AlN/Ti界面生成機構 研究生:顏寧瑤 指導教授:林健正 國立交通大學材料科學與工程研究所 摘要 AlN/α-Ti 的界面反應在經過 1000℃/3 h 熱處理,其生成相依序為 δ-TiN/τ1-Ti3AlN/(τ1-Ti3AlN + α2-Ti3Al)兩相區/α2-Ti3Al。由 AlN/α-Ti 標記
實驗可知原始界面位於 AlN/δ-TiN。反應機制為 AlN 分解為 Al 與 N 往
α-Ti 往擴散,先生成 δ-TiN 與 α2-Ti3Al,隨著反應時間增加,後續生成
物皆在δ-TiN 與 α2-Ti3Al 界面處發生。為了進一步了解 Al、N 與 Ti 原子
在 AlN/α-Ti 界面的擴散情況,設計 δ-TiN/α2-Ti3Al 界面反應與 α2-Ti3Al
氮化、δ-TiN 鋁化實驗。δ-TiN/α2-Ti3Al 界面反應中經過 1000℃/36 h 的
熱處理,生成相依序為τ2-Ti2AlN 與 τ1-Ti3AlN。經過 1000℃/72 h 熱處理,
發現(α-Ti + δ-TiN)兩相區在 δ-TiN 與 α2-Ti3Al 的界面生成,兩相的方
位關係為
[
011]
δ−TiN //[
1120]
α−Ti與(
111)
δ−TiN//(
0001)
α−Ti。α2-Ti3Al經過1000℃氮化反應下,初期反應生成δ-TiN/τ1-Ti3AlN。在1000℃/3 h,生
成相依序為 δ-TiN/τ2-Ti2AlN/τ1-Ti3AlN。在 1000℃/36 h,生成相依序為
δ-TiN/τ2-Ti2AlN/γ-TiAl。在1000℃/72 h的 δ-TiN鋁化反應生成相依序為
TiAl3/AlN/τ2-Ti2AlN/δ-TiN。在 AlN/Ti 界面反應為 N、Al 原子供應較少
的反應,在 δ-TiN側受到鋁化生成 τ1-Ti3AlN,在α2-Ti3Al側受到氮化生
成δ-TiN、τ1-Ti3AlN。在α2-Ti3Al的氮化反應中,N原子供應充足,τ1-Ti3AlN
受到氮化而形成 τ2-Ti2AlN。在 δ-TiN 鋁化反應中,Al 原子供應充足,
Formation Mechanisms of the AlN/Ti Interface Based upon Nitrided Ti3Al, Aluminized TiN and the Interfacial Reaction of TiN/Ti3Al
Student:Nin-Yau Yen Advisor:Chien-Cheng Lin Department of Material Science and Engineering
National Chiao Tung University Abstract
The formation phases were δ-TiN/τ1-Ti3AlN/two-phase region (τ1-Ti3AlN +
α2-Ti3Al)/α2-Ti3Al in sequence between AlN andα-Ti after annealing at
1000℃/3 h. The original interface of AlN/α-Ti diffusion couples examined
by marked experiment at 1000℃/72 h, and the original interface was located
between AlN and δ-TiN. The formation mechanism was that the Al and N
atom decomposed of AlN diffused to α-Ti. δ-TiN and α2-Ti3Al formed at first,
and then the other phases develop from the interface. The nitrided α2-Ti3Al,
aluminizedδ-TiN and δ-TiN/α2-Ti3Al interfacial reaction were investigated
in order to understand the Al, N and Ti atom diffusion. The τ2-Ti2AlN
formed at the δ-TiN side and τ1-Ti3AlN formed at the α2-Ti3Al side between
δ-TiN and α2-Ti3Al diffusion couples after annealing at 1000℃/36h. A
two-phase (α-Ti + δ-TiN) was observed after annealing at 1000℃/72h
with the relationship of
[
011]
δ−TiN //[
1120]
α−Ti and(
111)
δ−TiN //(
0001)
α−Ti . For α2-Ti3Al nitriding at 1000℃,.δ-TiN andτ1-Ti3AlN were identified in the beginning. As the time increased, τ1-Ti3AlN
was transformed to τ2-Ti2AlN and then the Al-rich phase γ-TiAl was formed.
The formation phases of nitrided α2-Ti3Al at 1000℃/3 h were
α2-Ti3Al at 1000℃/36 h were δ-TiN/τ2-Ti2AlN/γ-TiAl in sequence. The
aluminized layer in an aluminization of δ-TiN was formed about 20-60 μm
after annealing at 1000℃ for 0.5 ~ 72h. The TiAl3, AlN and τ2-Ti2AlNwas
found in aluminized layer after annealing at 1000℃/72h. An intergranular
τ2-Ti2AlN was present in the δ-TiN with the orientation relationship
[
110]
δ−TiN //[
1210]
τ2−Ti2AlN and(
)
TiN(
)
TiAlN2 2 2 1 10 // 1 1 1 δ− τ − . By the result of nitrided α2-Ti3Al and aluminized δ-TiN, we knew that the formation
depended on how the N and Al atom participated in the reaction. We found only τ1-Ti3AlN formed at AlN/Ti interfical reaction. If there were more N
atoms, the τ1-Ti3AlN was transformed to τ2-Ti2AlN could be expected, such
as the situation in nitrided α2-Ti3Al. In aluminized δ-TiN, the τ1-Ti3AlN was
致謝 畢業前夕,要離開實驗室真的讓人不捨,經過多少待在實驗室圍爐與PK 大富翁的周未及夜晚,很高興能在實驗室認識這麼多好朋友,林昆霖學 長與映霓學姐在生活上的不吝分享,好脾氣的邱家祥學長在看到我的事 情ㄧ團亂的時候總會悉心的幫我想辦法,背景人物柯宏達學長總是有耐 心的處理我問他的問題而且在有活動時總是不可或缺的成員,粗線條的 魏伸紘學長總是能提供好玩的新鮮事並幫我把事情簡單化,神出鬼沒的 張耀文學長總會製造令人意想不到的笑點,ㄧ早陪我到實驗室ㄧ起吃早 餐看王建民的羅國駿,感謝林健正老師在兩年的研究生活中對我的啟發 和鼓勵,親切的周振嘉老師及林坤豐學長在口試的時候對於我的論文提 出很棒的想法,謝謝親愛的爸爸媽媽在求學過程中的支持,論文終於到 了收尾的時刻,特別感謝的是邱家祥學長在實驗上的細心指導,希望大 家在往後的日子順心如意。
目錄 頁次 中文摘要... Ⅰ 英文摘要... Ⅱ 致謝... Ⅳ 目錄... Ⅴ 表目錄... Ⅶ 圖目錄... Ⅷ ㄧ、前言... 1 二、實驗步驟... 4 2.1 實驗說明... 4 2.1.1 AlN與α-Ti的界面反應實驗... 4 2.1.2 AlN與α-Ti的界面標記實驗... 4
2.1.3 δ-TiN與α2-Ti3Al界面反應實驗... 4
2.1.4 α2-Ti3Al氮化反應實驗 ... 4
2.1.5 δ-TiN鋁化反應實驗 ... 5
2.2 試片製備... 5
2.2.1 AlN/α-Ti、δ-TiN/α2-Ti3Al界面試片 ... 5
2.3 分析儀器 ... 5 2.3.1 X-ray 繞射儀分析(XRD) ... 5 2.3.2 掃瞄式電子顯微鏡/能量散射分析儀(SEM/EDS)... 6 2.3.3 電子探針微區分析儀(EPMA) ... 6 2.3.4 穿透式電子顯微鏡(SEM)&能量散射分析儀(EDS) ... 6 三、結果與討論... 8 3.1 AlN與α-Ti界面反應實驗 ... 8 3.2 AlN與α-Ti標記實驗 ... 13
3.3 δ-TiN與α2-Ti3Al界面反應實驗 ... 14
3.4 α2-Ti3Al氮化反應實驗... 17
3.5 δ-TiN的鋁化反應實驗... 24
四、結論... 27
表目錄
表3.1.1 AlN/α-Ti 經 1000℃/3 h 氮化反應 TEM/EDS 成份表 ... 32
表3.1.2 δ-TiN 與 τ1-Ti3AlN 結構因子計算結果 ... 32
表3.3.1 δ-TiN/α2-Ti3Al 經 1000℃/36 h 反應 SEM/EDS 成份表 ... 33
表3.3.2 δ-TiN/α2-Ti3Al 經 1000℃/72 h 反應 SEM/EDS 成份表 ... 33
表3.4.1 α2-Ti3Al 在 1000oC 經過不同時間氮化反應實驗結果 ... 33
表3.4.2 α2-Ti3Al 經 1000℃/3 h 氮化反應 TEM/EDS 成份表... 34
表3.4.3 α2-Ti3Al 經 1000℃/36 h 氮化反應 TEM/EDS 成份表... 34
圖目錄 圖1.1 1273K Ti-Al-N 三元平衡相圖在組成接近二元 Ti-N 系統的相平 衡圖示... 35 圖1.2 Ti-N 二元平衡相圖 ... 36 圖2.1 實驗流程圖 ... 37 圖2.2 夾具示意圖 ... 38 圖2.3 製作 AlN/Ti 標記實驗之示意圖 ... 39 圖2.4 (a)切取試片橫截面;(b)試片放置於銅網上... 40 圖2.5 氮化試片製備... 41 圖2.6 TEM 試片製備... 42 圖3.1.1 (a)AlN/Ti/AlN 在 1000℃經過 3 h 持溫反應後的微觀結構 圖;(b)(c)為 Fig(a)之局部放大影像(SEM;試片經 Kroll reagent 腐蝕)... 43 圖3.1.2 Ti-Al-N 三元平衡相圖在 1273K... 44
圖3.1.3 晶格示意圖 (a)δ-TiN;(b)Ti4(AlN3)(AlN);(c)Ti4N3 (VN);(d)(Ti3Al)N4(AlTi);(e)Ti3N4(VTi)... 45
圖3.1.4 晶格示意圖 (a)δ-TiN;(b)τ1-Ti3AlN... 46
圖3.1.5 AlN/Ti 經過 1000oC/36 h 熱處理(a)TiN 與 τ1-Ti3AlN 的明視野
EDS 成分分析圖譜;(d)δ-TiN 的擇區繞射圖型(SADPs) Z=
[
111 ;(e)τ]
1-Ti3AlN 的擇區繞射圖型(SADPs) Z=
[
111 ... 47]
圖3.2.1 AlN/Ti 在 1000℃經過 72 h 擴散反應後界面微觀結構圖 ... 48 圖3.3.1 δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃分別經過(a)36 h;(c)72 h 持溫反應後的微觀結構圖;(b)、(d)為相對應的局部放大圖... 49
圖3.3.2 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 36 h 持溫反應後的明視
野圖;(b)δ-TiN 的擇區繞射圖譜 Z=
[
111 ;]
(c)α2-Ti3Al的擇區繞射圖譜 Z=
[
1210]
... 50 圖3.3.3 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 36 h 持溫反應後 τ2-Ti2AlN與 τ1-Ti3AlN 生成相的明視野圖;(b)τ2-Ti2AlN 的擇區繞
射圖譜 Z=
[
0001 ;(c)τ]
1-Ti3AlN 的擇區繞射圖譜 Z=[
011 ... 51]
圖3.3.4 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 72 h 持溫反應後的明視野圖;
(b)τ2-Ti2AlN 的擇區繞射圖譜型 Z=
[
1121]
;(c)τ1-Ti3AlN的擇區繞射圖譜型 Z=
[
101]
。... 52圖3.3.5 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在1000℃經過72 h持溫反應後兩相區
(δ-TiN 與α-Ti)的明視野圖;(b)δ-TiN與α-Ti的擇區
繞射圖譜型
[
011]
δ−TiN //[
1120]
α−Ti,(
111)
δ−TiN //(
0002)
α−Ti;(c)δ-TiN的擇區繞射點示意圖(e)
[
011]
δ−TiN//[
1120]
α−Ti的擇區繞射點示意圖... 53 圖3.3.6 (a)δ-TiN的原子結構圖 Z=[
110]
;(b)α-Ti的原子結 構圖 Z=[
1120]
... 54 圖3.4.1 α2-Ti3Al在1000℃經過不同時間氮化反應後的微觀結構圖 (a)0.5 h;(b)3 h;(c)10 h;(d)36 h;(e)72 h ... 55 圖3.4.2 (a)α2-Ti3Al經1000℃持溫 0.5hr氮化反應的明視野圖;(b)δ-TiN 與τ2-Ti2AlN 的擇區繞射圖譜型
[
011]
δ−TiN //[
1120]
τ2−Ti2AlN,(
111)
δ−TiN//(
0006)
τ2−Ti2AlN;(c)τ1-Ti3AlN的擇區繞射點示意圖 Z=
[
111]
;(d)α2-Ti3Al的擇區繞射點示意圖 Z=
[
0001 ... 56]
圖3.4.3 (a)τ2-Ti2AlN的擇區繞射點示意圖 Z=
[
1120]
;(b)δ-TiN的擇區繞射點示意圖 Z=
[
011]
;(c)[
011]
δ−TiN //[
1120]
τ2−Ti2AlN,(
111)
δ−TiN//(
0006)
τ2−Ti2AlN的擇區繞射點示意圖... 57
圖3.4.4 (a)δ-TiN的原子結構圖,Z=
[
111]
;(b)τ2-Ti2AlN 的原子結構圖,Z=
[
0001 ... 58]
圖3.4.5 (a)δ-TiN的原子結構圖 Z=
[
011]
;(b) τ2-Ti2AlN的原子結構圖 Z=
[
1120]
... 59圖3.4.7 (a)α2-Ti3Al經1000℃持溫3 h 氮化反應的明視野圖;(b)
δ-TiN 的擇區繞射圖譜型 Z=
[
001]
;(c)τ2-Ti2AlN 的擇區繞射圖譜型 Z=
[
0001]
;(d)τ1-Ti3AlN 的擇區繞射圖譜型 Z=
[
011]
;(e)α2-Ti3Al 的擇區繞射圖譜型 Z=[
0112]
... 61圖3.4.8 α2-Ti3Al經1000℃持溫 3 h氮化反應的示意圖... 62
圖3.4.9 (a)α2-Ti3Al 經1000℃持溫36 h氮化反應的明視野圖;(b)
δ-TiN 的擇區繞射圖譜型 Z=
[
001]
;(c)τ2 -Ti2AlN 的擇區繞射圖譜 Z=
[
0001]
;(d)γ-TiAl的擇區繞射圖譜 Z =[
111 ... 63]
圖3.4.10 α2-Ti3Al 在1000℃經過36 h氮化反應後的微觀結構圖與相 對應的 EPMA EDS定性分析結果... 64 圖3.4.11 α2-Ti3Al經1000℃持溫 36 h氮化反應的示意圖... 65 圖3.4.12 在 Ti-Al-N三元相圖表示α2-Ti3Al在1000℃持溫不同時間 氮化反應的擴散路徑... 66 圖3.5.1 δ-TiN 在1000℃持溫不同時間的微觀結構圖(a)0.5 h;(b) 3 h;(c)36 h;(d)72 h;(e)為(d)的局部放大圖... 67 圖3.5.2 δ-TiN 經1000℃鋁化反應持溫72 h的 XRD結果... 68 圖3.5.3 (a)δ-TiN在1000℃經過72 h鋁化反應後的明視野圖;(b)δ-TiN 與τ2-Ti2AlN 的擇區繞射圖譜型:
[
110]
δ−TiN//[
1210]
τ2−Ti2AlN,(
111)
δ−TiN //(
1012)
τ2−Ti2AlN ... 69圖3.5.4 (a)δ-TiN在 1000℃經過72 h鋁化反應後AlN 析出在TiAl3
中的明視野圖;(b)AlN 的擇區繞射圖譜型 Z=
[
1213]
;(c)TiAl3的擇區繞射圖譜型 Z=
[
111]
... 70圖3.5.5 (a)δ-TiN在 1000℃經過72 h鋁化反應後AlN 析出在TiAl3
中的明視野圖;(b)Al 的的擇區繞射圖譜型 Z=
[
110 ... 71]
一、前言 氮化鋁擁有極高的熱傳導度(理論熱傳導度為320 lω/m⋅ )、低介電常 數(約為8.8)、高電阻(1012 - 1014Ω⋅cm),高溫不易與金屬反應,且 其熱膨漲係數與矽相近 [1, 2],因此在微電子與複合材料方面有很多重 要的應用 [3, 4]。為了有效提高氮化鋁的使用,氮化鋁與金屬的接合成 為必要的技術。一般在市面上微電子工業最常用的陶瓷基板最常用的材 料為氧化鋁,而氮化鋁為共價鍵鍵結且為非氧化物,其與金屬的鍵結程 序比氧化物更為困難,因此必須提高氮化鋁與金屬鍵結的可靠度 [5]。 很多研究報告指出鈦金屬有極高的活性且容易與陶瓷反應,所以鈦金屬 常被用來當作接著層 [6-8]。因此為了提高氮化鋁與鈦金屬結合的可靠 度,所以了解氮化鋁與鈦金屬界面反應是非常重要 [9-14]。本實驗室過 去已研究氮化鋁與鈦金屬在經900 ~ 1500oC熱處理後之界面微觀結構反
應,並建立起AlN 與α-Ti界面反應生成機制,並與 Ti-Al-N三元相圖互
相配合,了解其微觀結構的變化。但是 AlN/α-Ti 在 1000oC 經過不同時
間(0.5 ~ 72 h)的熱處理 [12, 13],仍發現許多問題例如:
(1)AlN/α-Ti界面反應的原始界面在何處?
(2)當δ-TiN在AlN/α-Ti界面生成後,Ti、Al與 N在界面處所扮演的
角色是如何、對後續反應層影響是如何?
(3)當α2-Ti3Al在 AlN/α-Ti的界面生成後,發現後續生成相皆在δ-TiN
/α2-Ti3Al 界面處生成,仍然有許多疑惑,需要去釐清。
Paransky et al. [12, 13, 15] 利 用 EPMA( Electron Probe X-Ray
Microanalyzer )、SEM/EDS/EBSD( Scanning Electron Microscope/Energy
XRD( X-Ray Diffraction )研究AlN/α-Ti擴散偶,在 900 ~ 1100℃(~ 40 h)
的界面反應,其結果指出AlN/α-Ti界面的生成相依序為 AlN/(δ-TiN +
τ1-Ti3AlN)/α2-Ti3Al/(α-Ti)Al/α-Ti。Imanaka [16] 使用RBS( Rutherford
Backscattering Spectrometer ) 與 TEM( Transmission Electron
Microscope )觀察 AlN/α-Ti薄膜在800-950℃的界面反應,結果得知在界
面處會生成 τ2-Ti2AlN,而 τ2-Ti2AlN 在 800 - 850℃的活化能為 224
kJ/mol ,其活化能與氮在鈦中的活化能相似,因此相信 τ2-Ti2AlN 的生
成是由氮在鈦中的擴散所控制。
Chang et al. [17] 指出在積體電路元件中Si基板與鋁膜兩者之間必須沈
積一層適當的薄膜材料以抑制擴散行為的發生,而此薄膜通常稱之為擴 散阻礙層。一般常用的阻障層為δ-TiN,δ-TiN和Al在550℃時因熱應力變 得不穩定,δ-TiN的分解生成TiAl3和AlN,導致阻障層的功能衰退。
Schuster et al. [18] 研究Ti-Al-N三元相圖在1273K熱處理240-800 h,以
XRD及電子顯微鏡分析,得到τ1-Ti3AlN的晶格常數a = 0.411 nm;
τ2-Ti2AlN的晶格常數 a = 0.299 nm、c = 1.36 nm;Ti3Al的晶格常數 a =
0.296 nm c = 0.476 nm;指出AlN對Ti的固溶量甚低,在Ti-N二元系統中,
TiN1-x有很大的變化範圍,但δ-TiN對Al的固溶量極低(<2 at.%),當Al
在δ-TiN的含量超過2 at %,δ-TiN並不會以單相存在,如圖1.1所示。
Kloosterman et al. [19] 使用HRTEM觀察在雷射氮化鈦金屬中生成的
δ-TiN相,指出在δ-TiN中含有六方晶相(α-Ti)的區域,是因為隨著溫
度從2350℃降到1050℃,δ-TiN對氮的最小固溶量從28 at %增加到30 at
%,而α-Ti對氮的最大固溶量從20.5 at %增加到23 at %,氮的固溶量太 低而使單相的δ-TiN無法穩定存在,而造成α-Ti(N)固溶體析出,如圖1.2 所
示。
本 實 驗 進 一 步 計 畫 進 行AlN/α-Ti在1000oC/72 h的 標 記 實 驗 來 了 解
AlN/α-Ti界面反應的原始界面在何處,並藉由δ-TiN/α2-Ti3Al界面反應、
α2-Ti3Al的氮化反應與δ-TiN鋁化反應在1000oC進行不同時間(0.5 ~ 72 h)
的熱處理,來了解Ti、Al與N在界面處所扮演的角色是如何。經由穿透
式電子顯微鏡(TEM/EDS)、掃瞄式電子顯微鏡(SEM/EDS)、電子微探
分析儀(EPMA)及X-射線繞射儀(XRD)分析界面反應的微觀結構與
二、實驗步驟
2.1 實驗說明
本實驗研究AlN/α-Ti的界面反應、δ-TiN/α2-Ti3Al界面反應、α2-Ti3Al的氮
化反應與δ-TiN的鋁化反應,在1000℃的擴散反應行為,整個實驗步驟流
程如圖2.1所示,包含試片製備、擴散反應、界面試片製作及SEM/TEM
觀察鑑定分析。
2.1.1 AlN與α-Ti界面反應實驗
AlN與α-Ti(30 μm)之界面反應,本研究採用高純度氮化鋁(SH-15,
Tokuyama Soda Corp., Tokyo, Japan) 切割成10×10×5 mm大小,與商業級
鈦箔(99.7 % purity, SDIC, AnaHeim, CA)切割成10×10×0.03 mm大小,
經過研磨拋光,使兩側為AlN中間夾α-Ti,如圖2.2所示,在氬氣氣氛下 熱處理,熱處理的條件為1000oC、0.5 ~ 72 h。再佐以儀器分析觀察其界 面微觀結構。 2.1.2 AlN 與 α-Ti 界面標記實驗 為了確切得知AlN與α-Ti擴散初始反應界面的移動方向,在本實驗中, 使用慢速切割機在氮化鋁製造切痕,實驗示意圖如圖2.3所示。使用有切 痕的AlN和厚度30 μm的α-Ti,在1000℃經過72 h在Ar保護氣氛下擴散反 應,由反應與未反應的α-Ti邊界來標記原始界面,可以判斷生成相在擴 散中的移動方向。
2.1.3 δ-TiN與α2-Ti3Al界面反應實驗
δ-TiN與α2-Ti3Al切割成10×10×3 mm大小,經過研磨拋光,使用夾具將
δ-TiN與α2-Ti3Al夾緊,在氬氣氣氛下熱處理,熱處理的條件為1000oC、
2.1.4 α2-Ti3Al氮化反應實驗 α2-Ti3Al切割成10×10×3 mm大小,經過標準金相研磨程序之後,置於管 形爐中,管形爐經過三次重複抽真空和通入氬氣,當管形爐被加熱到目 標溫度1000oC時,再次將氬氣抽出,通入無水ammonia氣氛,經過0.5 ~ 36 h持溫熱處理後,再次將氣體抽出,通入氬氣氣氛,使爐冷至室溫,再 佐以儀器分析觀察其界面微觀結構。 2.1.5 δ-TiN的鋁化反應實驗 盛裝鋁化粉末的不銹鋼容器置於850℃保護氣氛Ar中持溫 10h,鋁化粉 末成份為Al = 10 wt %,AlF3 = 1.5 wt %,α-Al2O3 = 88.5 wt %,目的為 將保護氣氛爐內壁及不銹鋼容器先充分鋁化,避免影響實驗結果( 調質 處理 )。其後,將δ-TiN切割成 10×10×3 mm大小,經過研磨拋光之後, 將鋁化粉末填滿不銹鋼容器,將δ-TiN 埋入,置於管形爐中,管形爐經 過三次重複抽真空和通入氬氣,當管形爐被加熱到目標溫度1000oC時, 經過0.5 ~ 72 h 持溫熱處理後,使爐冷至室溫;再佐以儀器分析觀察其 界面微觀結構。 2.2試片製備
2.2.1 AlN/α-Ti、δ-TiN/α2-Ti3Al界面試片
界面試片以acrylic powder 和acrylic liquid 冷鑲埋之,再以慢速切割機沿
著垂直於陶瓷/金屬界面的方向切取試片,然後用製備金相試片的標準程
序研磨拋光,使用Kroll reagent(成分為10 ml HF + 30 ml HNO3 + 60 ml
H2O)腐蝕金相試片,腐蝕時間為3 ~ 10秒。TEM試片使用聚焦離子束
與電子束顯微鏡(Nova 200, FEI)製備,電子束為場發射式電子源,離
如圖2.4(a)所示,試片薄區寬度約5μm,再將試片放置於銅網上,如 圖2.4(b)所示。 2.2.2 氮化與鋁化試片 在經過氮化與鋁化反應試片的表面均勻塗佈G1膠,使用夾子將其夾緊, 在100℃加熱30 min,使其對黏,再經由研磨拋光處理,最後,使用Kroll reagent腐蝕金相試片,腐蝕時間為3 ~ 10秒,如圖2.5所示;TEM試片製 備流程如圖2.6所示。 2.3 分析儀器 2.3.1 X-ray 繞射儀分析(XRD)
利用X-ray繞射儀(Model 5000, Siemens),對陶瓷試片表面作繞射分析,
以鑑定結晶相之相別。設定電壓為40 kV、電流為30 mA,以Cu靶 CuKα (λ = 1.5406 Å)產生之射線經 Ni-filter 濾波後,在試片表面進行10度 至 90 度之掃瞄,掃瞄為速度每分鐘 3 度,每隔 2θ = 0.01 度自動記錄 X-Ray 的強度。分別對純鈦金屬、氮化鋁及其界面表面作繞射分析以鑑 定結晶相,掃瞄出來的圖形再與JCPDS卡相互比對,以判定相別。 2.3.2 掃瞄式電子顯微鏡/能量散射分析儀(SEM/EDS)
利用掃瞄式電子顯微鏡(Model JSM-6500, JEOL, Tokyo, Japan)之二次
電子成像,觀察陶瓷/鈦金屬的界面的微觀組織並以 EDS 鑑定各個相的
組成元素,以line scan 或mapping 模式進行成分半定性分析。SEM 的 操作電壓為15 KV。使用 Ion coater,在試片的表面鍍上一層Pt,設定的
電流為10 mA,濺鍍時間為60 sec。
利用電子探針微區分析儀(JXA-8200, JEOL, Tokyo, Japan)透過對試樣 放射出來的X-射線的量測與分析,可從事試樣極微體積內化學成分的定 性與定量的鑑定。工作原理實際上與掃描式電子顯微鏡相似,經由偵測 器分別接收不同之放射信號,藉以分析試片之成分含量,以line scan 或 x-ray mapping 模式進行成分定性分析及波長散佈分析儀(WDS)對試 片進行定量分析。在EPMA分析前試片需研磨拋光至1 μm 以下,且除非 必要避免腐蝕以確保其表面之平整。分析前鍍上碳膜,避免放電的現 象。在分析盡量遠離坑洞且避免分析相之邊緣,以避免雜訊之干擾。 2.3.4 穿透式電子顯微鏡(SEM)&能量散射分析儀(EDS)
利用穿透式電子顯微鏡(Model 2000Fx, JEOL, Tokyo, Japan),以明視
野像(Bright Field Image, BFI)觀察界面反應之微觀結構及擇區繞射
(Selected Area Diffraction Pattern, SADP)作生成相的鑑定,並以能量分
散光譜儀(Energy Dispersive Spectrometer, EDS)鑑定各個相的組成元 素。另外,使用軟體CaRIne crystallography,輸入Space group、晶格常 數、原子之相對位置及其相關之晶體資料,可模擬分析晶體結構的繞射 圖 形 , 與 實 際 繞 射 圖 形 相 互 比 對 鑑 定 。 以 上 資 料 可 藉 由 Pearson’s
三、結果與討論
3.1 AlN/α-Ti界面反應實驗
圖3.1.1(a)為AlN/α-Ti在1000oC/3 h熱處理之SEM 微觀結構圖,(b)
與(c)為圖3.1.1(a)之局部放大影像圖中可清楚發現其生成物依序為
δ-TiN、τ1-Ti3AlN、(τ1-Ti3AlN+α2-Ti3Al)兩相區與α2-Ti3Al,其生成機
制為AlN受到Ti的影響而分解成Al與N,而Ti與N的親和性較高 [21, 22],所以先生成δ-TiN。當δ-TiN生成時,雖然Al 在δ-TiN的擴散速率
慢,但是δ-TiN對N 有極高的溶解度 [18],故降低了N 擴散至Ti的速 率,因此隨著 Al 擴散至 Ti 側時,在 δ-TiN 與 α-Ti 界面處開始產生 α2-Ti3Al。其反應生成式如下所示: Al Ti TiN Ti AlN+4 →δ− +α2− 3 (3.1.1)
隨著Al 逐漸累積在δ-TiN側,於是在δ-TiN 中逐漸開始生成τ1-Ti3AlN。
如圖 3.1.1(c)所示,可以清楚的發現,在 δ-TiN 層中生成 τ1-Ti3AlN。
其反應生成式如下所示: Ti N AlN Ti Al TiN+ → − + + − 3 4δ τ1 3 (3.1.2)
根據 Schuster and Bauer [18]提出,在 1000oC 的Ti-Al-N 三元相圖( 圖
3.1.2 ),δ-TiN的N 固溶量範圍相當大(30~ 55 at.%),然而Al在 δ-TiN的
固溶量極低(<2 at.%)。當Al在δ-TiN的含量超過 2 at.%,δ-TiN並不 會以單相存在。為了瞭解 τ1-Ti3AlN在δ-TiN的生成機構,因此需要瞭解
當Al原子進入δ-TiN中的情況。Teng et al. [23]指出當Al原子進入δ-TiN
在不改變其晶體結構(cubic)的前提下,有四種可能的情況如圖 3.1.3
(b)所示;(2)在 N位置形成空缺(記做VN)而形成 Ti4N3,如圖 3.1.3
(c)所示;(3)當 Al取代 Ti的位置(記做AlTi)而形成Ti3AlN4,如圖
3.1.3(d)所示;(4)在Ti位置形成空缺(記做VTi)而形成 Ti3N4,如圖
3.1.3(e)所示。因此可以判斷當 Al擴散進入δ-TiN 中,Al 是取代δ-TiN
晶體中Ti的位置,形成Ti3AlN4,另外釋出三個氮原子,而形成τ1-Ti3AlN。
NaCl 結構的 δ-TiN,如圖 3.1.4(a)所示,當 δ-TiN 中 Ti 被 Al 取代而
形成Ti3AlN4,由於Ti與 Al的原子大小的差異(Ti的原子半徑r = 2.00
Å;Al的原子半徑 r = 1.82 Å),δ-TiN晶格產生收縮應變,為了降低晶 格應變能,釋出三個氮原子,形成Pervoskite結構的 τ1-Ti3AlN,如圖3.1.4
(b)所示,因為δ-TiN 與τ1-Ti3AlN 都是立方晶系,所以晶格常數並不
會變化太大。(文獻值δ-TiN的晶格常數a = 0.4241 nm;τ1-Ti3AlN的晶
格常數a = 0.4112 nm) [18]。
圖 3.1.5(a)為 δ-TiN 與 τ1-Ti3AlN 的明視野圖,可發現在 τ1-Ti3AlN 中
仍有δ-TiN的存在。可進一步研判 τ1-Ti3AlN是在δ-TiN 中生成。由δ-TiN
和τ1-Ti3AlN 的EDS成分分析圖譜,如圖 3.1.5(b)與(c),配合表3.1.1
的 TEM/EDS 分析結果可以得知 δ-TiN 固溶非常少量的 Al 原子,而
τ1-Ti3AlN卻可固溶將近 20 at.% Al 。圖3.1.5(d)為 δ-TiN的擇區繞射
圖形(SADPs),Z=
[
111]
與圖 3.1.5(e)τ1-Ti3AlN 的擇區繞射圖形(SADPs),Z=
[
111]
。計算 δ-TiN的晶格常數a = 0.427 nm,與文獻值相近,符合上述所述。由δ-TiN 與τ1-Ti3AlN 繞射圖形可發現其差異處,
在於 τ1-Ti3AlN 的擇區繞射圖有超晶格點(superlattices)的產生。為了
瞭解其繞射圖形的差異,計算 δ-TiN與τ1-Ti3AlN的結構因子,結果如表
對於δ-TiN(NaCl結構)而言,δ-TiN 晶體為單位晶格含有四個Ti原子 和四個N原子的立方晶,其中,四個Ti原子分別位在 000; 2 1 2 10 ; 2 10 2 1 ; 0 2 1 2 1;四個 N原子分別位在 2 1 2 1 2 1; 00 2 1; 0 2 10; 2 100。 將上列位置代入結構因子(記做F)的計算中,列出下式
F = fTi [1 + eiπ(h+k) + eiπ(h+l) + eiπ(k+l)] + fN [eiπ(h+k+l) + eiπh + eiπk + eiπl]
(3.1.3)
= [fTi + fNeiπ(h+k+l)][1 + eiπ(h+k) + eiπ(h+l) + eiπ(k+l)] (3.1.4)
由上列式子可得到以下結論,就δ-TiN(FCC晶格)而言, 對於(h k l)為奇偶混合,則 F = 0。 對於(h k l)為全奇,則 F = 4(fTi − fN)。 對於(h k l)為全偶,則 F = 4(fTi + fN)。 藉由結構因子的計算結果,可知δ-TiN在(h k l)為全奇或全偶時,會產 生繞射點,如圖3.1.4(d)δ-TiN的擇區繞射圖形(SADPs)所示。
對於τ1-Ti3AlN(Pervoskite 結構)而言, τ1-Ti3AlN是空間群為Pm3m的立
方晶,其中,三個Ti原子分別位在 2 1 2 10 ; 2 10 2 1 ; 0 2 1 2 1 ,一個Al 原子 位在 000 ,一個 N原子位在 2 1 2 1 2 1 。 將上列位置代入結構因子(記做F)的計算中,列出下式
由上列式子可得到以下結論,就τ1-Ti3AlN(FCC晶格)而言,
對於(h k l)為奇偶混合,則 F = fAl −fTi − fN。
對於(h k l)為全偶,則 F = 3fTi + fAl + fN.。
對於(h k l)為全奇,則 F = 3fTi + fAl − fN。
藉由結構因子的計算結果,可知τ1-Ti3AlN在(h k l)為全奇或全偶時,
會產生繞射點,另外,若τ1-Ti3AlN為有序排列(ordered),則在(h k l)
為奇偶混合時,會有強度較弱的超晶格繞射點,如圖3.1.4(e)顯示的
(
101)
和(
011)
。在 δ-TiN 側的反應為 Al 原子進入 δ-TiN,由圖 3.1.2 所示的 Ti-Al-N 在
1273 K三元平衡相圖,可知可能的生成物有τ1-Ti3AlN 和τ2-Ti2AlN,其
生成能為△fG(τ1)1273K = −360.0 kJ/mol 與△fG(τ2)1273K = −323.3kJ/mol
[24]。可以得知因 τ1-Ti3AlN有較低的生成能,會有利於生成,且由方程
式(3.1.2)可知,隨著 τ1-Ti3AlN 的生成會有多餘的 N 原子產生,而與
α2-Ti3Al 反應。
伴隨著τ1-Ti3AlN 在δ-TiN生成,所釋放的 N擴散進入α2-Ti3Al。因此在
接近α2-Ti3Al側發現(τ1-Ti3AlN + α2-Ti3Al)兩相區與δ-TiN的生成,研
判應該是 N 進入 α2-Ti3Al,與 α2-Ti3Al 反應生成的如方程式(3.1.6)與 (3.1.7)所示。 Al TiN N Al Ti + → − + − δ α2 3 3 3 (3.1.6) AlN Ti N Al Ti3 1 3 2 − + →τ − α (3.1.7)
由方程式(3.1.6)可知在α2-Ti3Al側會生成δ-TiN並釋出 Al原子,隨著Al
原子進入Ti側生成 α2-Ti3Al,使α2-Ti3Al繼續生長。
由上述結果可知在 AlN/α-Ti 界面初期反應所生成的 δ-TiN與 α2-Ti3Al,
隨著反應時間增加,可能分別在 δ-TiN 與 α2-Ti3Al 發生鋁化反應與氮化
反應。為了進一步瞭解 Al、N與 Ti原子在 AlN/α-Ti所扮演的角色,因 此分別進行δ-TiN與 α2-Ti3Al的鋁化與氮化反應機構探討。
3.2 AlN與α-Ti標記實驗
為了確切得知 AlN 與 α-Ti 擴散初始反應界面的位置,將有切痕的 AlN
和厚度30 μm鈦箔在 1000℃/72 h在Ar保護氣氛下擴散反應,藉由反應 與未反應的鈦側邊界來標記原始界面,判斷生成相在擴散中的移動方 向。 為了使反應層更加明顯化,因此將試片做 1000℃/72 h 長時間的固態擴 散實驗,以慢速切割機沿著垂直界面方向切取反應試片,觀察分析界面 微觀區域,結果如圖 3.2.1(a)所示;未與氮化鋁反應的鈦箔可以清楚 標記原始界面的位置,鈦箔和氮化鋁反應區域厚度約10 μm,經相鑑定
可知為δ-TiN、τ1-Ti3AlN、α2-Ti3Al,藉由與標記原始界面的相對位置與
鈦箔厚度維持30 μm,可以判定界面反應層是在鈦側生成;這樣的擴散 實驗結果,顯示經 1000℃/72 h 的擴散,界面反應層會朝向鈦側移動, 因為在擴散過程中,氮化鋁釋放出鋁原子以及氮原子,再經由擴散進入 鈦 金 屬 中 , 由 於 鋁 原 子 在 鈦 金 屬 中 的 擴 散 速 率 (D 2.76 10 13cm2/s K 1273 Ti Al − − = × α [25])與氮原子在鈦金屬中的擴散速率 (D 1.95 10 10cm2/s K 1273 Ti N − − = × α [26])遠大於鈦原子在氮化鋁中的擴散速 率(D 4.37 10 16cm2/s K 1273 AlN Ti − × = [27]),即每單位時間通過橫截面之鋁原 子與氮原子多於鈦原子,迫使界面反應層在鈦側生成,如圖 3.2.1(b) 所示。
3.3 δ-TiN與α2-Ti3Al界面反應實驗
圖3.3.1(a)為 δ-TiN 和 α2-Ti3Al 在 1000℃持溫反應 36 h 的微觀結構圖,
整體界面生成物厚度約為1 μm,圖 3.3.1(b)為圖 3.3.1(a)的局部放
大,經 SEM/EDS 分析(如表 3.3.1 所列),可知生成相依序為 δ-TiN、
τ2-Ti2AlN、τ1-Ti3AlN 和 α2-Ti3Al。圖 3.3.1(c)為持溫反應 72 h 的微觀
結構圖,整體界面生成物厚度約為2 μm,圖 3.3.1(d)為圖 3.3.1(c)
的局部放大,經 SEM/EDS 分析(如表 3.3.2 所列),可知生成相依序為
δ-TiN、τ1-Ti3AlN、α2-Ti3Al。
圖3.3.2(a)為 TiN/Ti3Al 在 1000℃經過 36 h 持溫反應後的明視野圖。
可發現τ2-Ti2AlN 與 τ1-Ti3AlN 生成在 TiN/Ti3Al 界面處。圖 3.3.2(b)δ-TiN
的擇區繞射圖譜 Z=
[
111 ,其晶格常數為 a = 0.422 nm;圖 3.3.2(c)]
α2-Ti3Al 的擇區繞射圖譜 Z=[
1210]
,其晶格常數為a = 0.577 nm,c =0.477 nm。
圖 3.3.3(a)生成相 τ2-Ti2AlN 與 τ1-Ti3AlN 的明視野圖,τ2-Ti2AlN 之
TEM/EDS 分析定量結果為 46.9 at.% Ti、21.1 at.% Al 及 32.0 at.% N, τ1-Ti3AlN 之 TEM/EDS 分析定量結果為 50.5 at.% Ti 、14.5 at.% Al 及 35.0
at.% N。圖 3.3.3(b)為 τ2 -Ti2AlN 選擇區域繞射圖型 Z=
[
0001 ,其]
晶格常數a = 0.299 nm,c = 1.37 nm,與文獻 τ2 -Ti2AlN 的晶格常數 a =
0.2994 nm、c = 1.361 nm 相近[18],由 TEM/EDS 與 SADPs 的分析結果 可知其結構應為六方晶相的 τ2 -Ti2AlN;圖 3.3.3(c)為 τ1-Ti3AlN 選擇
區域繞射圖型 Z=
[
011 ,其晶格常數 a = 0.423 nm,與文獻 τ]
1-Ti3AlN的晶格常數a = 0.4112 nm 相近[18],由 TEM/EDS 與 SADPs 的分析結果 可知其結構應為立方晶相的τ1-Ti3AlN。
圖3.3.4(a)為 δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 72 h 持溫反應後的明視野
圖,生成物依序為(δ-TiN+α-Ti)兩相區、τ2 -Ti2AlN 與 τ1-Ti3AlN。圖
3.3.4(b)為 τ2-Ti2AlN 的擇區繞射圖譜 Z=
[
1121]
,計算晶格常數為 a= 0.301 nm,c = 1.41nm。圖 3.3.4(c)為 τ1-Ti3AlN 的擇區繞射圖譜 Z
=
[
101]
,計算晶格常數為a = 0.430 nm。圖 3.3.5(a)為(δ-TiN+α-Ti)兩相區的 TEM 明視野圖,圖 3.3.5(b)
為相對應的擇區繞射圖譜,由 δ-TiN 與 α-Ti 的擇區繞射圖形可看到有
streaking 現象,形成原因為 δ-TiN 與 α-Ti 為層狀(lamellae)造成。圖 3.3.5(c)與(d)為 δ-TiN 與 α-Ti 的電腦模擬繞射圖形(Z=
[
011]
δ−TiN、 Z=[
1120]
α−Ti)。將這兩種晶體導晶格點的重疊,如圖3.3.5(e)所示, 可 得 知 此 兩 晶 體 的 方 位 關 係 為 :[
011]
δ−TiN //[
1120]
α−Ti 與(
111)
δ−TiN //(
0002)
α−Ti。(δ-TiN+α-Ti)兩相區在 δ-TiN/α2-Ti3Al 界面反應中生成,經長時間的熱處理下,由於 δ-TiN 的 N 原子持續往 α2-Ti3Al
側擴散,部分 δ-TiN 中 N 的固溶量過低,而使單相的 δ-TiN 無法穩定存
在 [19],造成 α-Ti 在 δ-TiN 中的析出。
在δ-TiN 和 α-Ti 的擇區繞射圖譜中,經由計算可以得到 δ-TiN 其晶格常
數a = 0.427 nm,與文獻 δ-TiN 的晶格常數 a = 0.4241 nm 相近[18],α-Ti 其晶格常數 a = 0.299nm、c = 0.497nm,與文獻 α-Ti 的晶格常數 a = 0.2951nm、c = 0.468nm 相近[28],由 SADPs 的分析結果可知其結構應
為立方晶相的δ-TiN 與六方晶相的 α-Ti 的層狀兩相區。
[
1120]
α−Ti方向觀察。由原子結構示意圖明顯可以看出,在六方晶相α-Ti 中的Ti 原子為 ABAB…堆疊,而立方晶相 δ-TiN 的 Ti 原子為 ABCABC…堆疊,N 原子則排列在間隙位置。此種堆積情況與 δ-TiN/τ2-Ti2AlN 和
γ-TiAl/τ2-Ti2AlN 相似,皆是 Ti、Al 與 N 層沿著最密堆積平面堆積,只
3.4 α2-Ti3Al 氮化反應實驗
α2-Ti3Al在1000oC經過不同反應時間(0.5 ~ 72 h)的氮化反應實驗結果如
表3.4.1所示。結果顯示在反應時間為0.5 ~ 3 h,其生成物由表面至 α2-Ti3Al,依序為δ-TiN、τ2-Ti2AlN與τ1-Ti3AlN。當反應時間增加至10 h
以上,τ1-Ti3AlN消失,取而代之的是τ2-Ti2AlN,並生成γ-TiAl相。
圖3.4.1 為 α2-Ti3Al 在 1000℃持溫 0.5、3、10、36、72 h 氮化反應後的
微觀結構圖,試片表面使用G1 膠對黏,以慢速切割機切取橫截面,經
過研磨拋光再以Kroll reagent 腐蝕。圖 3.4.1(a)為 α2-Ti3Al 在 1000℃
持溫0.5 h 氮化反應後的試片,觀察其 SEM 影像發現因為短時間的持
溫,僅見到一層緻密的生成物,圖中最左側為G1 膠,再往右側依序為
δ-TiN 的生成物,及原始基材 α2-Ti3Al,其中生成物 δ-TiN 的厚度 250 nm,
在此實驗條件下,只見到N 原子進入 α2-Ti3Al 會先形成 δ-TiN,這是由
於N 與 Ti 的親和性優於 N 與 Al,所以會優先形成 δ-TiN [21, 22]。而 τ2-Ti2AlN 與 τ1-Ti3AlN 在 SEM 分析並未發現,這是由於反應層太小而無
法輕易發現,而在後續的TEM 分析有詳細的敘述。
將持溫時間增加為3 h,如圖 3.4.1(b)所示,可以見到有兩層生成物,
依序為δ-TiN、τ2-Ti2AlN,及原始基材 α2-Ti3Al,其中生成物 δ-TiN 厚度
約300 nm,τ2-Ti2AlN 約 400 nm。
將持溫時間再拉長為10 h,如圖 3.4.1(c)所示,可以見到有三層生成
物,圖中最左側為排列為 δ-TiN、τ2-Ti2AlN、γ-TiAl 的生成物,及原始
基材α2-Ti3Al,發現隨持溫時間的增加,生成物 δ-TiN 厚度維持 300 nm,
沒有明顯增加。這是由於δ-TiN 為非計量化合物且對 N 的固溶量高,造
情況並不明顯;第二層生成物τ2-Ti2AlN 厚度約略增加為 500 nm。根據 文獻[18]表示 δ-TiN 對 Al 元原子的固溶量很低,因此隨著氮化物的生成 造成過多的鋁原子往基材 α2-Ti3Al 擴散,當 α2-Ti3Al 固溶過多的鋁原子 相轉換成γ-TiAl。 當持溫時間為36 h,如圖 3.4.1(d)所示,由微觀影像中發現 36 h 的表 面氮化反應生成物分布情形與10 h 相似,反應生成物厚度隨持溫時間增
長而增加,其中生成物δ-TiN 厚度約 1.5 μm,τ2-Ti2AlN 約 800 nm,γ-TiAl
約1 μm。當持溫時間為 72 h,如圖 3.4.1(e)所示,生成物分布情況與
與10 h 相似。
在 1000℃ 的 α2 -Ti3Al 氮 化 反 應 中 , 以 1000℃/0.5 h 為 例 說 明
(δ-TiN+τ2-Ti2AlN)兩相區和 α2-Ti3Al 生成相。圖 3.4.2(a)為 α2 -Ti3Al
經1000℃持溫 0.5 h 氮化反應後之橫截面明視野圖,在圖中顯示反應區
內生成物分佈型態,使用 TEM/EDS 分析光譜與選擇區域繞射圖型來判
斷各相的晶體結構與組成。
圖3.4.2(a)為α2 -Ti3Al經1000℃持溫0.5 h氮化反應的TEM明視野圖,發
現在α2-Ti3Al的表面生成(δ-TiN + τ2-Ti2AlN)兩相區與τ1-Ti3AlN。圖3.4.3
(b)為(δ-TiN + τ2-Ti2AlN)兩相區的擇區繞射圖譜,從圖譜分析結果
可知其結構應為六方晶相的τ2 -Ti2AlN與立方晶相的δ-TiN的層狀兩相 區 , 並 可 得 到 其 方 位 關 係 為 :
[
]
TiN[
]
Ti AlN 2 2 0 2 11 // 011 δ− τ − 與(
111)
δ−TiN //(
0001)
τ2−Ti2AlN。(δ-TiN + τ2-Ti2AlN)兩相區的擇區繞射圖形 可 看 到 有streaking 現 象 , 形 成 原 因 為 τ2 -Ti2AlN 與 δ-TiN 為 層 狀
圖3.4.3(a)與(b)分別為τ2-Ti2AlN與δ-TiN的繞射圖形示意圖,將這兩 個繞射圖形重疊可得知此兩晶體的方位關係,如圖3.4.3(c)所示。經 由τ2-Ti2AlN的繞射圖形計算可以得到其晶格常數為a = 0.303 nm、c = 1.48 nm,與文獻 [18]τ2 -Ti2AlN的晶格常數a = 0.2994 nm、c = 1.361 nm 相近,δ-TiN其晶格常數為a = 0.427 nm,與文獻[18]δ-TiN的晶格常數a = 0.4241 nm相近。
圖3.4.4(a)與(b)為δ-TiN與τ2 -Ti2AlN的原子結構,分別從最密堆積
[
111]
δ−TiN與[
]
Ti AlN 2 2 0001 τ − 的方向觀察,由原子結構示意圖明顯可以看 出,在τ2-Ti2AlN中Ti和N的原子堆疊狀況與δ-TiN相同。圖3.4.5(a)與 (b)為分別從[
011]
δ−TiN與[
]
TiAlN 2 2 0 2 11 τ − 方向觀察,可以明顯看出兩相 的差異處,其差異為Ti、Al與N層沿著最密堆積平面方向的順序不同。 立方晶相δ-TiN的Ti原子為 ABCABC…堆疊,其中A、B、C皆為Ti原子, 而N佔據δ-TiN的間隙位置;τ2-Ti2AlN則為 AB'ABA'B…堆疊,N原子佔據間隙位置,A、B為Ti原子,A'為Al取代原來的A位置的Ti原子,B'為 Al取代原來的B位置的Ti原子。 圖 3.4.6 為 α2-Ti3Al 經 1000℃持溫 0.5 h 氮化反應的示意圖,如圖 3.4.6 (a)所示,將 α2-Ti3Al 做氮化處理時,氣氛中的 N 原子經擴散進入 α2-Ti3Al 中,發生的反應如方程式(3.4.1)所述: TiN N Ti+ →δ− (3.4.1) 由於Ti 原子和 N 原子的化學親和性比 Ti 原子和 Al 原子來的大,所以
Al TiN 3 N 3 Al Ti3 2 − + → δ− + α (3.4.2)
Schuster and Bauer [18]根據 Ti-Al-N 三元相圖在 1000oC,指出 δ-TiN 對 Al 的固溶量極低(< 2at.%),因此造成 Al 原子往 α2-Ti3Al 內側擴散形
成α2-Ti3Al 富鋁區(Al-rich Zone),如圖 3.4.6(b)所示;隋著 N 原子
持續進入α2-Ti3Al,α2-Ti3Al 受到氮化生成 τ1-Ti3AlN,如圖 3.4.6(c)所
示,其反應如方程式(3.4.3)所列: AlN Ti N Al Ti3 1 3 2 − + →τ − α (3.4.3)
α2 -Ti3Al經1000℃持溫0.5 h氮化反應結果,短時間持溫造成δ-TiN中有過
飽和的Al,在冷卻過程中,在δ-TiN中析出τ2-Ti2AlN,如圖3.4.6(c)所
示;Lu [29]指出當Al含量過飽和時會使產生相變化,在δ-TiN中形成 τ2-Ti2AlN。
圖3.4.7(a)為 α2 -Ti3Al 經 1000℃持溫 3 h 氮化反應後之橫截面明視野
圖(BFI),可明顯看出反應層的顯微結構分佈,生成物依序為 δ-TiN、 τ2-Ti2AlN、τ1-Ti3AlN。使用選擇區域繞射圖型(SADPs)以及表 3.4.2
的 TEM/EDS 分析結果,來判斷各相的晶體結構與組成。圖 3.4.8 為
α2-Ti3Al 經 1000℃持溫 3h 氮化反應的示意圖,其中 δ-TiN、τ1-Ti3AlN 的
生成如方程式(3.4.1)(3.4.2)所列,隨著時間增加,N 原子持續進入 τ1-Ti3AlN,使部分 τ1-Ti3AlN 氮化生成 τ2-Ti2AlN,如圖 3.4.8 所示,其反
應如方程式(3.4.4)所列: AlN Ti -3 Al N AlN Ti 2τ1 − 3 + + → τ2 2 (3.4.4)
圖3.4.9(a)為 α2 -Ti3Al 經 1000℃持溫 36 h 氮化反應後之橫截面明視野
圖(BFI),可明顯看出反應層的反應物與生成物分佈情形及其生成的型
態,使用表3.4.3 的 TEM/EDS 分析結果與選擇區域繞射圖型(SADPs)
來判斷各相的晶體結構與組成。圖 3.4.9(b)為 δ-TiN 選擇區域繞射圖
型的 Z=
[
001 ;其晶格常數 a = =0.423 nm,與文獻[18]δ-TiN 的晶格]
常數a = 0.4241 nm 相近,δ-TiN 之 TEM/EDS 定量結果為 50.3 at.% Ti、 0.2 at.% Al 及 49.6 at.% N,結果顯示 δ-TiN 幾乎不固溶 Al 原子。此外由於 δ-TiN 為非計量化合物,其固溶 N 的含量範圍相當大(δ-TiN1-x,x<
0.5),部份 δ-TiN 固溶 N 原子,達到 63.9 at.%的 N 原子;由 SADPs 與 TEM/EDS 的分析結果可知其結構應為立方晶相的 δ-TiN。圖 3.4.9(c) 為τ2 -Ti2AlN 選擇區域繞射圖型的晶帶軸(zone axis)Z=[0001];其晶
格常數a = 0.304 nm、c = 1.33 nm,與文獻[18]τ2 -Ti2AlN 的晶格常數 a =
0.2994 nm、c = 1.361 nm 相近,τ2 -Ti2AlN 的 TEM/EDS 定量結果為 55.1
at.% Ti、20.4 at.% Al 及 24.5 at.% N ;由 SADPs 與 TEM/EDS 的分析結 果可知其結構應為六方晶相的τ2 -Ti2AlN。圖 3.4.9(d)為 γ-TiAl 之選擇
區域繞射圖型 Z=
[
111 ,其晶格常數 a = 0.394 nm、c = 0.407 nm,與]
文獻[30]γ-TiAl 的晶格常數 a = 0.3976 nm、c = 0.4049 nm 相近,γ-TiAl 的TEM/EDS 定量結果為 43.0 at.% Ti 、39.7 at.% Al 及 17.3 at.% N;由 SADPs 與 TEM/EDS 的分析結果可知其結構應為正方晶相(Tetragonal) 的γ-TiAl。圖3.4.10 為 α2-Ti3Al 在 1000℃經過 36 h 氮化反應後的微觀結構圖與相對
應的 EPMA 成份分佈圖,由 Al 的成分分布情形可發現 α2-Ti3Al 在靠近
溶Al 含量為 22 ~ 39 at.%),因此當過多的 Al 原子擴散進入 α2-Ti3Al,
而造成富鋁區α2-Ti3Al 的產生。
圖3.4.11 為 α2-Ti3Al 經 1000℃持溫 36 h 氮化反應的示意圖,由於 α2-Ti3Al
釋出 Ti 原子和 N 原子反應形成 δ-TiN,氮化層的形成產生多餘的 Al 原
子,如方程式(3.4.2)所列,使得 Al 原子只能往 α2-Ti3Al 側移動,形成
富鋁區(Al-rich Zone),經由 EPMA 的定性分析結果可以得到證據,如 圖3.4.10 所示;隨著氮原子持續進入基材,基材受到氮化生成 τ1-Ti3AlN,
如方程式(3.4.3)所列,當持溫時間持續增加,τ1-Ti3AlN 受到氮化生成
τ2-Ti2AlN,如方程式(3.4.4)所列,在 1000℃/36 h 的試片中,已經沒
有發現τ1-Ti3AlN 的存在,顯示 τ1-Ti3AlN 已經完全變成 τ2-Ti2AlN。由於
Al 原子在 α2-Ti3Al 中固溶量為 22 ~ 39 at.%,所以,當在 α2-Ti3Al 側的
Al 原子含量超過 39 at.%時,過飽和的 α2-Ti3Al 產生了相轉變,開始在
δ-TiN 與 α2-Ti3Al 界面處形成新 Ti-Al 二元化合物 γ-TiAl,如方程式(3.4.5)
所列: TiAl 3 Al Ti Al 3 +α2 − 3 → γ− (3.4.5) 此外,隨著反應時間增加,N 原子逐漸擴散進入 γ-TiAl 中,生成 τ2-Ti2AlN,如方程式(3.4.6)所示: Al AlN Ti N TiAl 2γ− + →τ2 − 2 + (3.4.6)
Zhao et al. [31]指出由於 N 原子持續進入試片內部,使生成的 γ-TiAl 固
溶飽和的N,生成 τ2-Ti2AlN,如方程式(3.4.6)所列。此時,由於氮化
片內部擴散,並不會堆積在τ2-Ti2AlN 和 γ-TiAl 界面,因為 γ-TiAl 在 1000℃時對 Al 原子的固溶量範圍很廣,為 48 ~ 56 at.%,所以,富鋁區 的產生導致γ-TiAl 的生成,且藉由 γ-TiAl 繼續受到 N 原子的影響, τ2-Ti2AlN 層繼續成長。 圖 3.4.12 為使用 Ti-Al-N 三元平衡相圖顯示 α2-Ti3Al 經 1000℃持溫不同 時 間 氮 化 反 應 的 擴 散 路 徑 , 由 0.5 h 的 擴 散 路 徑 可 知 生 成 物 有 τ1–Ti3AlN、δ-TiN。3 h 的擴散路徑從基材 α2-Ti3Al 往高氮濃度方向移動,
經過τ1–Ti3AlN、τ2-Ti2AlN,進入 δ-TiN 相區。36 h 的擴散路徑經由高鋁
濃度的 γ-TiAl 相區,接著,沿著 tie-line 經過 τ2-Ti2AlN,進入 δ-TiN 相
3.5 δ-TiN的鋁化反應實驗
圖3.5.1(a)-(d)為 δ-TiN 在 1000℃持溫不同時間的微觀結構圖,0.5
~ 36 h 的鋁化層厚度為 20 ~ 30 μm,72 h 的鋁化層厚度約為 60 μm,隨
熱處理時間增長,鋁化層的厚度也會增加。圖3.5.1(e)為圖 3.5.1(d)
靠近 δ-TiN 側鋁化層的局部放大圖,經 SEM/EDS 分析可知其 TiAl3與
AlN 的分布情形。
圖3.5.2 為 δ-TiN 經 1000℃鋁化反應持溫不同時間的 XRD 比較,在不同
時間的試片中均存在 Al、TiAl3、AlN、τ2-Ti2AlN 和 δ-TiN 相。但是在
SEM/EDS 並未發現 τ2-Ti2AlN 和 Al,所以利用 TEM/EDS 來觀察,配合
表3.5.1 可得到結果如下所述。
圖3.5.3(a)為δ-TiN在1000℃經過72 h鋁化反應後的明視野圖,可以發 現靠近δ-TiN,有一層τ2-Ti2AlN生成。由δ-TiN與τ2-Ti2AlN的擇區繞射圖
型 分 析 可 知 其 方 位 關 係 為 :
[
]
TiN[
]
Ti AlN 2 2 10 2 1 // 10 1 δ− τ − 與(
111)
δ−TiN//(
1012)
τ2−Ti2AlN。根據圖3.4.2(a)α2-Ti3Al經1000℃持溫0.5 h氮化反應中(δ-TiN+τ2-Ti2AlN)兩相區的分析結果研判。在此處生成的
τ2-Ti2AlN,研判應該是由於Al原子擴散進入δ-TiN側而生成。
由以上結果可知,當Al 和 δ-TiN 反應時,產生 τ2-Ti2AlN、AlN 和 TiAl3,
其反應方程式(3.5.1)(3.5.2)(3.5.3)(3.5.4)所列: N AlN Ti -Al TiN -2
δ
+ →τ
2 2 + (3.5.1) N Ti TiN→ + − δ (3.5.2)3 TiAl Al 3 Ti+ → (3.5.3) AlN Al N+ → (3.5.4)
在δ-TiN側,當Al進入δ-TiN,Al取代N原子而生成τ2-Ti2AlN,如反應方
程式(3.5.1)所示。由於Al在τ2-Ti2AlN的擴散緩慢[32],另外,文獻[32]
指出在γ-TiAl長時間氮化反應下,當鈦或富鈦相的氮化物(τ2-Ti2AlN)
生成時,會造成富鋁相(如TiAl2或α-TiAl3)的產生。大部分的Al原子會
累積在τ2-Ti2AlN側,由於無法穿越τ2-Ti2AlN與δ-TiN繼續反應,造成
τ2-Ti2AlN的生長緩慢,因此我們在SEM中並沒有發現τ2-Ti2AlN的生成,
只在TEM的明視野圖中才見到厚度僅150 nm的τ2-Ti2AlN。
圖3.5.4(a)為δ-TiN經過1000℃/72 h鋁化反應後的明視野圖,靠近δ-TiN
側的鋁化層中發現在TiAl3中析出AlN。由圖3.5.4(b)與(c)的AlN與
TiAl3的擇區繞射圖譜分析,可得知其晶體結構為Hcp與Tetragoal。
Chang et al. [17]指出當 δ-TiN 與 Al 在高溫下反應,δ-TiN 成現不穩定狀
態,易分解成 Ti 與 N 原子如反應方程式(3.5.2)所示,而易與鋁化層
形成 AlN 與 Ti-Al 的介金屬化合物,可能形成的 Ti-Al 的介金屬化合物
有 TiAl3,Ti2Al5,TiAl2和 γ-TiAl 如反應方程式(3.5.3)(3.5.4)所示,
文獻[32]指出在熱處理反應過成中,過多鋁原子的存在導致一些富鈦的 化合物,如α2-Ti3Al 和 γ-TiAl,在反應中無法生成,且由於 TiAl2和 Ti2Al5
的生成為透過以γ-TiAl 為起始相的一連串固態/液態反應,排除 TiAl2和
Ti2Al5的生成的可能性,另外,從熱力學觀點,與 α2-Ti3Al 和 γ-TiAl 相
較之下,TiAl3有較低的自由能,如圖3.5.6 所示,由以上可以了解在 Ti
圖3.5.5(a)為δ-TiN經過1000℃/72 h鋁化反應後的明視野圖,在遠離δ-TiN
鋁化層中發現純Al相與TiAl3共存。根據圖3.5.5(b)Al的擇區繞射圖譜
分析,計算晶格常數為a = 0.395 nm,其結構為立方晶相。
在δ-TiN 的鋁化反應中,生成 TiAl3、AlN 和 τ2-Ti2AlN。Al 原子進入 δ-TiN
側生成τ2-Ti2AlN,而 TiAl3與AlN 是由於 δ-TiN 分解進入鋁化層所產生
四、結論
在 AlN/α-Ti 的 界 面 反 應 中 , 生 成 相 依 序 為 δ-TiN 、 兩 相 區 (δ-TiN+τ1-Ti3AlN) 、 τ1-Ti3AlN 、 δ-TiN 、 兩 相 區 (τ1-Ti3AlN+α2-Ti3Al) 與
α2-Ti3Al。經由標記實驗可知原始界面位於 AlN/δ-TiN 之間,因此可知後
續的生成物皆在α-Ti 側生成。
在δ-TiN/α2-Ti3Al 界面反應中,生成 (δ-TiN+α-Ti) 兩相區、τ2-Ti2AlN 及
τ1-Ti3AlN,顯示當反應時間增加,δ-TiN 中的 N 原子往 α2-Ti3Al 側移動。
而使在 δ-TiN 本身 N 的固溶量太低而無法穩定存在,而造成 α-Ti(N)固
溶體析出,而形成兩相區(δ-TiN+α-Ti)。由其擇區繞射圖譜型可得到兩相 的方位關係為
[
011]
δ−TiN //[
1120]
α−Ti與(
111)
δ−TiN //(
0001)
α−Ti。在α2-Ti3Al 的氮化反應中,初期先生成 δ-TiN 與 τ1-Ti3AlN,隨著氮化反
應時間增加,τ1-Ti3AlN 完全形成 τ2-Ti2AlN,並在 τ2-Ti2AlN 與 α2-Ti3Al
之間產生富鋁相 γ-TiAl。在 1000℃/0.5 h 的 α2-Ti3Al 的氮化試片表面發
現 ( δ-TiN+τ2-Ti2AlN ) 兩 相 區 , 兩 相 的 方 位 關 係 為
[
011]
δ−TiN//[
1120]
τ2−Ti2AlN與(
)
TiN(
)
TiAlN2 2
0001 //
111 δ− τ − 。
在δ-TiN 的鋁化反應中,生成 TiAl3、AlN 和 τ2-Ti2AlN。Al 原子進入 δ-TiN
側而取代δ-TiN 中 Ti 原子的位置使生成 τ1-Ti3AlN,隨著反應時間增加,
τ1-Ti3AlN 會慢慢轉變成 τ2-Ti2AlN。因此可了解在 AlN/α-Ti 的界面反應
中,兩相區(δ-TiN+τ1-Ti3AlN)、τ1-Ti3AlN 是由於 δ-TiN 受到鋁化所產生
的。在 1000℃/72 h 的 δ-TiN 的鋁化反應中,δ-TiN 與生成相 τ2-Ti2AlN
的方位關係為
[
]
TiN[
]
TiAlN 2 2 10 2 1 // 10 1 δ− τ − 與(
)
TiN(
)
Ti AlN 2 2 2 1 10 // 1 1 1 δ− τ − 。由 α2-Ti3Al 的氮化的結果,可瞭解在 AlN/α-Ti 的界面反應中,α2-Ti3Al
主要受到N 的作用而生成 δ-TiN 與 τ1-Ti3AlN。雖然在 α2-Ti3Al 的氮化反
應還有生成τ2-Ti2AlN 與 γ-TiAl,這是由於 α2-Ti3Al 氮化反應有比較多的
N 原子擴散進入造成氮化物 τ2-Ti2AlN 的生成。而釋放的的 Al 原子擴散
進入α2-Ti3Al 而造成富鋁相 γ-TiAl 的生成。因此可證明 AlN/α-Ti 的界面
反應中,δ-TiN+兩相區(τ1-Ti3AlN+α2-Ti3Al)的生成,是由於 α2-Ti3Al 受到
氮化反應而生成δ-TiN 與 τ1-Ti3AlN,而釋放的 Al 原子持續擴散進入 Ti,
五、参考文獻
[1] C. A. Slack, "Nonmetallic Crystals with High Thermal Conductivity," J.
Phys. Chem. Solids, 34 321-35 (1973).
[2] N. Iwase, K. Anzai, and K. Shinozaki, "Aluminum Nitride Substrates Having High Thermal Conductivity," Toshiba Review, 153 49-53 (1985). [3] Tsuneo Ito S. Lawrence Selvaraj, Yutaka Terada, and Takashi Egawa, "AlN/AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor high-electron-mobility transistor on 4 in. silicon substrate for high breakdown characteristics,"
APPLIED PHYSICS LETTERS, 90 173506 (2007).
[4] N. V. Lityuga V. S. Tsyganenko, T. V. Dubovik, G. K. Kozina, A. A. Rogozinskaya, and V. M. Panashenko, "Influence of additives of Al2O3 on properties of aluminum nitride-based ceramic " Powder Metallurgy and
Metal Ceramics, 45 [9-10] 441-44 (2007).
[5] D. Travessa and M. Ferrante, "The Al2O3-Titanium Adhesion in the
View of the Diffusion Bonding Process," J. Mater. Sci., 37 4385-90 (2002). [6] J. C. Feng, M. Naka, and J. C. Schuster, "Reaction Mechanism between SiC Ceramic and Titanium Foil in Solid State Bonding," J. Japan Inst.
Metals, 59 978-83 (1995).
[7] R. Yue, Y. Wang, C. Chen, and C. Xu, "Interface Reaction of Ti and Mullite Ceramic Substrate," Appl. Surf. Sci., 126 255-64 (1998).
[8] E. Faran, I. Gotman, and E. Y. Gutmanas, "Experimental Study of the Reaction Zone at Boron Nitride Ceramic-Ti Metal Interface," Mater. Sci.
Eng., A288 66-74 (2000).
[9] M. H. El-Sayed, M. Naka, and J. C. Schuster, "Interfacial Structure and Reaction Mechanism of AlN/Ti Joints," J. Mater. Sci., 32 2715-21 (1997). [10]X. He, Si-Ze Yang, K. Tao, and Y. Fan, "Investigation of the Interface Reactions of Ti Thin Films with AlN Substrate," J. Mater. Res., 12 [3] 846-51 (1997).
[11]R. Yue, Y. Wang, Y. Wang, and C. Chen, "Study on Interfacial Reaction of Ti/AlN by SIMS, RBS and XRD," Surf. Interface Anal., 27 98-102 (1999).
[12]Y. Paransky, I. Gotman, and E. Y. Gutmanas, "Reactive Phase Formation at AlN-Ti and AlN-TiAl Interfaces," Mater. Sci. Eng., A277 83-94 (2000). [13]Y. M. Paransky, A. I. Berner, I. Y. Gotman, and E. Y. Gutmanas, "Phase Recognition in AlN-Ti System by Energy Dispersive Spectroscopy and Electron Backscatter Diffraction," Mikrochim. Acta, 134 171-77 (2000). [14]M. Pinkas, N. Frage, N. Froumin, J. Pelleg, and M. P. Dariel, "Early
Technol., 20 [3] 887-96 (2002).
[15]Y. Paransky, L. Klinger, and I. Gotman, "Kinetics of Two-Phase Layer Growth during Reactive Diffusion," Mater. Sci. Eng., A270 231-36 (1999). [16]Y. Imanaka and M. R. Notis, "Interfacial Reaction between Titanium Thin Films and Aluminum Nitride Substrates," J. Am. Ceram. Soc., 82 [6] 1547-52 (1999).
[17]L. Chang Holin Chang, Fu-Rong Chen, J. J. Kai, Eugene Tzov, Jianming Fu, Zheng Xu, J. Egermeier and Fu-Sen Chen, "High Resolution And Energy Filtering TEM Study Of Interfacial Structure And Reaction In Advanced Materials Processing," Acta Material., 46 [7] 2431-39 (1998).
[18]J. C. Schuster and J. Bauer, "The Ternary System Titanium-Aluminum-Nitrogen," J. Solid State Chem., 53 [2] 260-65 (1984). [19]Annejan Bernard Kloosterman, "Surface modification of titanium with lasers," chapter 4 Laser nitriding of titanium, 13 (1998).
[20]P. Villars and L. D. Calvert, Pearson's Handbook of crystallographic
Data for Intermetallic Phase, 2nd. Materials Park, OH/ASM International,
1991.
[21]Jian Sun Bin Zhao , Jian Sheng Wu, Zhao Xin Yuan, "Gas nitriding behavior of TiAl based alloys in an ammonia atmosphere," Scripta
Materialia, 46 581-86 (2002).
[22]S.K. Wu C.L. Chu, "Ion nitriding of titanium aluminides with 25-53 at.% A1I: Nitriding parameters and microstructure characterization," Surface
and Coatings Technology, 78 211-18 (1996).
[23]Y. Teng, S. Zhu, F. Zhang, M. Li, F. Wang, and W. Wu, "Electronic Structure, Lattice Constant, Optical and Mechanical Properties for NaCl-structured Ti-Al-N by Density Functional Theory," Physica, B358 77-85 (2005).
[24]Y. S. Han, K. B. Kalmykov, S. F. Dunaev, and A. I. Zaitsev, "Phase Equilibria in the Ti-Al-N System at 1273K," Dok. Phy. Chem., 396 [2] 134-37 (2004).
[25]J. Raisanen, A. Anttila, and J. Keinonen, "Diffusion of Aluminum in Ion-Implanted a-Ti," J. Appl. Phys., 57 [2] 613-14 (1985).
[26]F. W. Wood and O. G. Paasche, "Dubious details of nitrogen diffusion in nitrided titanium," Thin Solid Films, 40 131-37 (1977).
[27]L. Hultman, "Thermal Stability of Nitride Thin Films," Vacuum, 57 1-30 (2000).
[28]J. L. Murray, Phase Diagrams of Binary Titanium Alloys, ASM International, Metals part, Ohio, 1987.
[29]C.L. Chen W. Lu, F.H. Wang, J.P. Lin, G.L. Chend and L.L. He, "Phase transformation in the nitride layer during the oxidation of TiAl-based alloy,"
Scripta Materialia, 56 773-76 (2007).
[30]X. P. Song W. Z. Chen, K. W. Qian, H. C. Gu, "The lamellar microstructure and fracture behavior of γ-based TiAl alloy produced by centrifugal spray deposition," Mater. Sci. and Eng, A247 126-34 (1998). [31]B. Zhao, J. Sun, J. S. Wu, and Z. X. Yuan, "Gas Nitriding Behavior of TiAl Based Alloys in an Ammonia Atmosphere," Scripta Mater., 46 581-86 (2002).
[32]J.H. Wang L.M. Peng, H. Li, J.H. Zhao, L.H. He, "Synthesis and microstructural characterization of Ti–Al3Ti metal–intermetallic laminate
表3.1.2 δ-TiN 與 τ1-Ti3AlN 結構因子計算結果
compound Reflection Possibly Present Reflection Necessarily Absent δ-TiN h, k, and l unmixed h, k, and l mixed
τ1-Ti3AlN
h, k, and l unmixed (Fundamental)
h, k, and l mixed (Supperllatice) none 表3.1.1 AlN/α-Ti 經 1000℃/3 h 氮化反應 TEM/EDS 成份表
生成相\元素 Ti Al N
δ-TiN 50.3 2.1 47.6
表3.3.1 δ-TiN/α2-Ti3Al 經 1000℃/36 h 反應 SEM/EDS 成份表 生成相 Ti Al N δ-TiN 55.9 2.7 41.4 τ2-Ti2AlN 52.3 17.6 30.1 τ1-Ti3AlN 59.6 18.9 21.6 α2-Ti3Al 71.2 27.4 1.4
表3.3.2 δ-TiN/α2-Ti3Al 經 1000℃/72 h 反應 SEM/EDS 成份表
生成相 Ti Al N δ-TiN 53.9 0.2 45.9 δ-TiN 61.7 2.6 35.7 τ1-Ti3AlN 62.8 15.5 21.7 α2-Ti3Al 71.9 22.4 5.7 表3.4.1 α2-Ti3Al 在 1000oC 經過不同時間氮化反應實驗結果
反應時間\生成相 δ-TiN τ2-Ti2AlN τ1-Ti3AlN γ-TiAl
0.5 h √ √ √ × 3 h √ √ √ × 10 h √ √ × √ 36 h √ √ × √ 72 h √ √ × √ √有此相存在 ×無此相存在
表3.4.2 α2-Ti3Al 經 1000℃/3 h 氮化反應 TEM/EDS 成份表 生成相\元素 Ti Al N δ-TiN 34.9 5.8 59.4 τ2-Ti2AlN 42.1 20.6 37.3 τ1-Ti3AlN 49.5 17.4 33.1 α2-Ti3Al 54.2 17.4 28.5 表3.4.3 α2-Ti3Al 經 1000℃/36 h 氮化反應 TEM/EDS 成份表 生成相\元素 Ti Al N δ-TiN 50.2 0.2 49.6 δ-TiN(N-rich) 35.9 0.2 63.9 τ2-Ti2AlN 55.1 20.4 24.5 γ-TiAl 43.0 39.7 17.3 α2-Ti3Al 71.1 28.9 表3.5.1 δ-TiN 經 1000℃/72 h 鋁化反應 TEM/EDS 成份表 生成相\元素 Ti Al N δ-TiN 48.7 0.2 51.1 τ2-Ti2AlN 38.2 14.9 46.9 AlN 4.8 55.8 39.4 TiAl3 19.7 60.8 19.6 Al 1.1 83.7 15.2
圖 1.1 1273K Ti-Al-N 三元平衡相圖在組成接近二元 Ti-N 系統的相平衡圖示。
圖2.2 夾具示意圖。 石墨 鈦箔 氮化鋁 鉬 氮化鋁
切痕
圖2.4 使用 FIB 製備 TEM 試片。
(b)
(a)
δ
-TiN
α
2-Ti
3Al
圖 3.1.1 (a)AlN/Ti/AlN 在 1000℃經過 3 h 持溫反應後 的微觀結構圖;(b)(c)為 Fig(a)之局部放大影像(SEM; 試片經Kroll reagent 腐蝕)。
(c)
(b)
(a)
AlN α-Ti AlN
δ-TiN
α2-Ti3Al
τ1-Ti3AlN+α2-Ti3Al
δ-TiN
圖3.1.3 晶格示意圖 (a)δ-TiN;(b)Ti4(AlN3)(AlN);(c)
a b c x y z
(a)
Ti
Al
N
a b c x y z(b)
圖3.1.5 AlN/Ti 經過 1000oC/36 h 熱處理(a)TiN 與 τ1-Ti3AlN
的明視野圖;(b)δ-TiN 的 EDS 成分分析圖譜;(c)τ1-Ti3AlN
的的 EDS 成分分析圖譜;(d)δ-TiN 的擇區繞射圖型
(SADPs) Z=
[
111]
;(e)τ1-Ti3AlN 的擇區繞射圖型(SADPs) Z=
[
111]
。(d)
[111] δ-TiN(e)
[111] τ1-Ti3AlN 0 2 4 6 8 10 0 200 400 600 800 1000 1200 1400 intens it y energy (keV) Cu Ti Ti N(b)
0 2 4 6 8 10 0 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800 Al intensity energy (keV) Cu Ti Ti N(c)
250nm(a)
δ-TiN δ-TiN τ1-Ti3AlN+α2-Ti3Al τ1-Ti3AlN圖 3.2.1 AlN/Ti在 1000℃經過 72 h 擴散反應後界面微觀
結構圖(SEI;試片經Kroll reagent 腐蝕)。
(a)
圖3.3.1 δ-TiN/α2-Ti3Al 在1000℃分別經過(a)36 h;(c)72 h
持溫反應後的微觀結構圖;(b)、(d)為相對應的局部放大圖
(SEM;試片經Kroll reagent 腐蝕)。
(a)
δ-TiN α2-Ti3Al(c)
δ-TiN α2-Ti3Al(b)
τ2-Ti2AlN τ1-Ti3AlN α2-Ti3Al δ-TiN(d)
δ-TiN τ1-Ti3AlN δ-TiN α2-Ti3Al圖 3.3.2 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 36 h 持溫反應後的 明視野圖;(b)δ-TiN的擇區繞射圖譜 Z=
[
111]
;(c)α2-Ti3Al 的擇區繞射圖譜 Z=[
1210]
。(b)
(a)
(c)
圖3.3.3 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 36 h 持溫反應
後τ2-Ti2AlN 與 τ1-Ti3AlN 生成相的明視野圖;(b)τ2-Ti2AlN
的擇區繞射圖譜 Z=
[
0001 ;(c)τ]
1-Ti3AlN 的擇區繞射圖譜 Z=
[
011]
。(b)
(a)
圖3.3.4 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 72 h 持溫反應後 的明視野圖;(b)τ2-Ti2AlN 的擇區繞射圖譜型 Z=
[
1121]
; (c)τ1-Ti3AlN 的擇區繞射圖譜型 Z=[
101]
。(a)
(c)
(b)
(a)
δ-TiN 與 α-Ti
圖3.3.5 (a)δ-TiN/α2-Ti3Al 在 1000℃經過 72 h 持溫反應
後兩相區(δ-TiN 與 α-Ti)的明視野圖;(b)δ-TiN 與 α-Ti 的 擇 區 繞 射 圖 譜 型
[
011]
δ−TiN//[
1120]
α−Ti ,(
111)
δ−TiN//(
0002)
α−Ti;(c)δ-TiN 的擇區繞射點示意圖 Z =[
011]
;(d)α-Ti 的擇區繞射點示意圖 Z=[
1120]
; (e)[
011]
δ−TiN //[
1120]
α−Ti的擇區繞射點示意圖。(e)
(c)
(d)
(b)
(a)
Ti
(b)
(a)
Ti
N
圖 3.3.6 (a)δ-TiN 的原子結構圖 Z=[
110]
;(b)α-Ti 的原子結構圖 Z=[
1120]
。圖 3.4.1 α2-Ti3Al 在 1000℃經過不同時間氮化反應後的微
觀結構圖(a)0.5 h;(b)3 h;(c)10 h;(d)36 h;(e) 72 h(SEM;試片經 Kroll reagent 腐蝕)。