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毛細管法試樣

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Academic year: 2022

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(1)

熔點測定

• 熔點為物質受熱由固態變為液態的轉變溫 度,高聚物不具有明顯熔點,如PE、PP、

PA等,常溫下分子部分結晶,受熱熔化時 不像低分子晶體一樣出現明顯熔點,而是 一個熔融溫度範圍。對於這類高聚物,利 用毛細管法、偏光顯微鏡法測定熔點。採 用不同測定方法所得結果不同,比對時必 須採用同一種方法測定。

(2)

毛細管法原理

• 在控制升溫速度的情況下對毛細管中試樣 加熱,觀察其狀態變化,將試樣剛剛變透 明或凝聚時的溫度,做為該聚合物的熔 點。

(3)
(4)

毛細管法試樣

• 最好使用粒度不大於100μm粉末或厚度為 10-20μm薄膜切片。試樣不易研磨成粉末 時,可削成約25mm長細絲。

• 試樣裝入高度約5-10mm。

• 開始快速加熱,當試樣溫度到達比預期熔 點低約20℃時,升溫速度調整到2 ℃/min。

(5)

• 粉末試樣一般指試樣從不透明變剛剛完成 透明之溫度;不能達到透明階段的試樣,

可用試樣出現萎縮、凝聚時的溫度代替。

• 非粉末試樣一般指試樣銳邊消失時的溫 度。對於一些薄膜試樣,熔融時往往黏附 在管壁上,不易觀察到銳邊消失,則可用 試樣塌下、黏附時的溫度代替。

(6)

影響因素

• 升溫速度

• 控溫起點高低

• 裝樣高度

太快、太慢

(7)

偏光顯微鏡法原理

• 當光射入晶體物質時,由於晶體對光的各 向異性作用而出現雙折射現象,當物質熔 化,晶體消失時,雙折射也隨之消失。把 試樣放在偏光顯微鏡的起偏鏡和檢偏鏡之 間進行恆速加熱升溫,則從目鏡中可觀察 到試樣熔化晶體消失時產生雙折射消失之 現象,把該溫度定義為試樣的熔點。

(8)

偏光顯微鏡法測試要點

• 測試儀器是一台帶有微型加熱台的偏光顯 微鏡。

• 所需試樣約2-3mg,除了粉狀試樣外,其他 形狀試樣都須切取成0.02mm以下之薄片。

• 將帶有試樣的玻片放在加熱台加熱到比熔 點高10-20℃時,用金屬取樣勺輕壓玻璃蓋 片,使試樣在兩塊玻片間形成0.01-0.05mm 的薄片,製成具有結晶體的試片。

(9)

• 把製備好的試樣放在偏光顯微鏡的加熱台 上,以規定升溫速度進行加熱,觀察雙折 射現象消失時之溫度。

(10)

影響因素

• 試片製備

• 升溫速度

• 空氣引起的氧化、降解

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