【11】證書號數：M494051
【45】公告日： 中華民國 104 (2015) 年 01 月 21 日
【51】Int. Cl.： B24B49/00 (2012.01)
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【54】名 稱： 微型鑽針之量測設備
【21】申請案號： 103211053 【22】申請日： 中華民國 103 (2014) 年 06 月 23 日
【72】新型創作人：修芳仲 (TW) SHIOU, FANG JUNG；鄧昭瑞 (TW) TANG, GEO RY；吳瑞 源 (TW) WU, RUI YUAN
【71】申 請 人： 國立臺灣科技大學 NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
臺北市大安區基隆路 4 段 43 號
【74】代 理 人： 李大維
[57]申請專利範圍
1. 一種微型鑽針之量測設備，用以破壞式量測一微型鑽針，該量測設備包括：一研磨機 構，用以研磨該微型鑽針的一端面；一取像機構，包括一校位取像組件及一量測取像組 件；一移載機構，包括一第一調距組件及一第二調距組件，該第二調距組件活動裝設於 該第一調距組件上，並沿著一第一軸向相對於該第一調距組件往復位移；以及一旋轉機 構，設有一夾具組件，該夾具組件用以夾設該微型鑽針，該旋轉機構活動裝設於該第二 調距組件上，並沿著一第二軸向相對於該第二調距組件往復位移，該旋轉機構具有一軸 心，係與該第一軸向與該第二軸向相互垂直，該旋轉機構帶動該夾具組件以該軸心為旋 轉軸相對於該研磨機構旋轉；其中，當該夾具組件移動至一研磨位置時，該微型鑽針係 相對於該研磨機構傾斜一角度設置，並對應於該校位取像組件，當該夾具組件移動至一 量測位置時，該微型鑽針對應於該量測取像組件。
2. 如請求項 1 所述之微型鑽針之量測設備，其中該校位取像組件包括一第一光源、一第一 鏡頭與一第一影像感測器，該第一光源沿著該第一軸向照射於該微型鑽針，該第一鏡頭 對應於該微型鑽針，該第一影像感測器擷取該微型鑽針相對於該研磨機構於該第二軸向 的一影像。
3. 如請求項 1 所述之微型鑽針之量測設備，其中該研磨機構研磨該微型鑽針的該端面至一 待測截面，該量測取像組件擷取該待測截面的一影像， 依據該影像獲得該微型鑽針一輪 廓曲線。
4. 如請求項 3 所述之微型鑽針之量測設備，其中該量測取像組件包括一第二光源、一第二 鏡頭與一第二影像感測器，該第二光源沿著該第二軸向照射於該待測截面，該第二鏡頭 對應於該待測截面，該第二影像感測器擷取該待測截面的一影像。
5. 如請求項 3 所述之微型鑽針之量測設備，其中該微型鑽針更具有一螺旋槽，該待測截面 係與該螺旋槽相互垂直。
6. 如請求項 1 所述之微型鑽針之量測設備，其中該研磨機構包括一馬達、一傳動組件及一 磨輪，該馬達驅動該傳動組件，令該傳動組件帶動該磨輪旋轉，該磨輪對應於該微型鑽 針的該端面。
7. 如請求項 1 所述之微型鑽針之量測設備，其中該夾具組件包括一支撐座、一墊塊及一彈 簧，該墊塊設置於該支撐座上，該彈簧設置於該支撐座與該墊塊之間，當該微型鑽針夾 設於該夾具組件上時，該微型鑽針抵靠於該墊塊上。
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8. 如請求項 1 所述之微型鑽針之量測設備，其中該移載機構更包括一微調進給組件，用以 驅動該夾具組件微調位移，以調整該微型鑽針相對於該研磨機構的距離。
9. 如請求項 1 所述之微型鑽針之量測設備，其中更包括一電腦控制系統，用以整合該研磨 機構、該取像機構、該移載機構及該旋轉機構，並供使用者輸入操作。
圖式簡單說明
第 1 圖係為根據本新型之量測設備的立體示意圖。
第 2 圖係為根據本新型之旋轉機構旋轉一角度的立體示意圖。
第 3 圖係為根據本新型之夾具組件與微型鑽針的立體示意圖。
第 4 圖係為根據本新型之夾具組件於研磨位置的俯視示意圖。
第 5 圖係為根據本新型之夾具組件於量測位置的俯視示意圖。
第 6 圖係為根據為本新型之微型鑽針端面傾斜一角度相對於磨輪的示意圖。
第 7 圖係為根據本新型之微型鑽針的待測截面的影像處理示意圖。
第 8 圖係為根據本新型之微型鑽針的輪廓曲線量測分析示意圖。
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