4.4.1 模型參數
考慮幾何形狀為 12 公尺 x 12 公尺之均勻介質ρ2位於ρ1之中，其 x 方向中點位在測線中心，z 方向位置分別位於 10、15 及 20 公尺三位置，
選定反射係數等於 0.6 與-0.6 探討垂直與側向解析度。測深參數、反算層 數，反算方法皆和4.3 節相同。
圖 4.24 ρ2方形介質於均勻介質ρ1中示意圖
4.4.2 二維度模型反算結果探討
參考附錄 K 反算結果，影像圖顯示其方形介質往 z 方向增長，x 方向 寬度隨深度增逐漸擴大，但其影像圖之色階值差為對數間隔，使得電阻率 差距小之間隔能呈現變化，如圖K-8中Pole-Pole 顯示方形區域明顯，實際 上其側向變化方向電阻率值不明顯(如圖K-8b)，即與ρ1差值小。
舉Wenner方法的結果為例，在k=0.6、t=12 公尺與Zc各別等於 10m與 20m條件，比較前面垂直夾層界面與水平夾層界面之反算結果，見圖4.25a,b 可知，(1)Z方向中心位置相同時，其方形介質反算模型電阻率值較夾層狀
ρ1 ρ2
況下低，(2)中心深度降至 20 公尺處，其反算模型接近與ρ1值同，無明顯 變化。見 圖 4.25c,d，(3)方形介質電阻率側向變化量最大值不如其垂直夾 層界面時最深層(Layer 11)之電阻率值，但仍於深度 4~15 公尺有凸顯方形 介質存在趨勢，(4)中心降至 20 公尺時，其凸顯方形介質趨勢降低，各層 之間電阻率值相接近。
若為低電阻率方形介質時，變化趨勢亦相似，但凸顯方形介質趨勢較 大，而側向漸變帶寬也較模型大。Pole-Pole 在淺層處反算結果與 Wenner 淺層處雷同，但方形介質中心深度降至20 公尺，其反算模型電阻率值幾乎 無明顯凸顯趨勢。
由此反算結果得知，且方形介質中心位置愈深時，Pole-Pole 空間解析 度衰減程度遠大於 Wenner 空間解析度，低電阻率區空間解析度仍是比高 電阻率區空間解析度為佳。比對上述四種模型構造，其二維空間解析度確 實較一維空間解析度來的不顯著。
(a)圖 K-1(c)與圖 H-2(b)比較 (b) 圖K-3(c)與圖 H-4(b)比較
(c)圖 K-1(b)與圖 J-3 比較 (d) 圖K-3(b)與圖 J-3 比較
圖4.25 方形介質與水平夾層及垂直夾層反算結果比較 圖J-3Layer 11
側向變化趨勢
五、結論與建議
地表面地電阻影像剖面法為結合傳統一維探測之垂直探測(vertical sounding)與橫向探測(horizontal profiling)兩者探測方式所獲得之視電阻率 資料點，進行二維度的反算分析；其探測結果依其使用電極排列方法不同，
空間解析能力各有優缺點。近年來常應用於環境汙染調查、地下水資源調 查、礦物調查、垃圾掩埋場滲漏調查、土霸滲漏監測等案例，更有學者以 ERT 方法應用在地工調查上例如斷層、崩塌、海水入侵等問題。
本研究將 ERT 方法分別以不同電極排列法於四種不同案例上進行調 查，其空間解析能力問題仍需要鑽孔資料與區域內地層變化比對，使影像 剖面能更加配合土層性質解釋，並以正算之視電阻率結果探討ERT 空間解 析能力變化行為，從研究案例與空間解析度探討獲得的結論以下說明之: