本研究案例於四種不同地質構造條件進行地電阻法試驗，以WN、WS、
DD、PD 以及 PP 五種電極排列方法量測，在不同場址之下，效果亦有所不 同。歸納前述所遭遇問題如下：
3.5.1 影像色階不同對於判識影響
反算軟體(Res2dinv)分析量測值得到電阻率影像剖面，依其電阻率最大 值與最小值之差，將色階區塊分為 17 種不同顏色，計 16 個色階值；其中 色階值間距最常使用為對數間隔(logarithmic interval)，每間隔之值比為一常 數，等倍數間隔增加，另一種為線性間隔(linear interval)，其間隔為一常數。
上述兩項方法決定色階值大小之外，可由使用者依其所需自行輸入16 個色 階值。影像剖面之電阻率值變化大小乃為吾人所關心，而影像分布情只是 易於判識電阻率變化特性，因此常在判識影像分佈容易導致誤判及差異。
另一方面需以觀察目標之電阻率大小判識為基準；如常利用地電阻法探 測地下水位界面，應鎖定低電阻率值10 ~50ohm-m 區，其未飽和層(vadose zone)之高飽和度電阻率，因達臨界飽和度，電阻率維持一定值，與地下水 位面之電阻率值差異不大，難以判識水位位置，但明顯可以界定出非飽和 層之高電阻率區，高電阻率區域內電阻率變化分界不需理會。因此電阻率 值代表的層面性質，於地質調查上需藉由定量以描述岩層性質，其方法有
井測、取樣量測、RCPT(Dahlin, 2004)等方法。
3.5.2 層面位置辨識問題
研究案例中影像剖面出現隨深度加深，垂直方向(z-direction)電阻率變化 性質於四個場址分別出現(1)單一層面情形：低電阻率變化至高電阻率(如圖 3.6)；(2)單一層面情形：高電阻率變化至低電阻率(如圖3.19、圖 3.24)，(3) 夾層情形：低電阻率中間夾有一層高電阻率區，如博愛校區測線 1 影像剖 面圖(如圖3.9、圖 3.10)；(4)淺層為高電阻率，接著為低電阻率區，其中低 電阻率區域出現差異 20 ohm-m以內的電阻率區域(如 圖 3.18、圖 3.20、圖 3.21)。其中(1)與(2)較為單純情況；而(3)的夾層厚度因施測方法不同，有所 變化，缺乏鑽探資料無法定論；(4)的夾層在電阻率值差異不到 20 ohm-m，
若無鑽探資料難以辨識岩層性質不同之存在。
本研究擬進一步以 Loke 博士正算軟體(Res2dmod)，探討業界常使用 Wenner 與 Pole-Pole 方法於上述四種電阻率分佈情形下，分別依反射係數 (Reflection factor, k)、界面位置(Zi)、夾層厚度(t)與夾層中心位置(Zc)等參 數，更進一步探討這四種參數對於垂直解析度與側向解析度能力之影響，
方法詳敘於第四章。
3.5.3 側向涵蓋範圍不全
測線兩側往往因空間不足，無法將測線平移(Roll along)，補足測線兩邊
WN 影像剖面於測線起點處出現高電阻率，由於側向資料點涵蓋範圍較 PP 小，無法顯示出如PP 一致有明顯斷層通過之高電阻率區；博愛校區測線 1 結果亦顯示PD 與 WS 影像剖面位於測線 50 公尺，深度 16 公尺處有電阻率 產生變化，而WN 無法顯示變化。
3.5.4 現地情況不符二維假設
所謂真實二維條件是電阻率變化只發生在測線方向(x)與深度方向(z)，
且與測線垂直方向(y)為一無窮遠均質條件；而現地常不符合真實二維條件，
x 方向測線外與 y 方向電阻率常有變異，或有邊界限制；例如懸崖、溪流…
等。這些條件未在正算分析中考慮邊界條件，因而產生誤差。
四、地電阻影像解析度探討
案例研究中影像剖面圖於單一界面或水平夾層情況下，不同電極排列法 施測所獲得地質電阻率性質隨深度與測線方向變化，顯示雖有一致趨勢特 性，但對電阻率變化界面位置及夾層厚度判識上有所差異，尤其當深度愈 深之處，其電阻率變化界面愈難以決定；若無鑽探資料輔助分析，難以決 定電阻率變化界面位置或夾層厚度。
本章節將使用Res2dmod 軟體模擬 Wenner 和 Pole-Pole 電極排列法於已 知模型施測所獲得之視電阻率，稱為正算模擬，及包含 Res2dinv 軟體反算 分析正算視電阻率資料值，獲取最佳反算模型；本研究模擬模型均假設為 理想二維條件下，地表面無高程變化條件。解析度探討首先探討一維度空 間解析度，分為垂直解析度與側向解析度；垂直解析度探討將模型分為單 一水平界面與水平夾層界面二種，側向解析度模型設為垂直界面以及垂直 夾層 界面，模擬斷層或溝渠(dyke)構造。最後以方形均質介質埋沒於另 一均質介質中，探討二維空間解析度。
垂直解析度探討中增加計算正算視電阻率分別對單一界面位置Zi或夾 層中心位置Zc與夾層厚度t之靈敏度與擬似深度(pseudo-depth)之間變化關 係，進而將最大絕對靈度值分別對反射係數、單一界面位置、夾層中心及 夾層厚度等參數變化關係以影像圖呈現。最後藉由真實模型與反算模型電 阻率值差異用於探討Wenner與Pole-Pole兩種電極排列法之空間解析能力，
並定性描述空間解析度受反射係數、層面位置以及夾層厚度參數影響行 為。本章空間解析度探討流程見圖4.1。
圖4.1 空間解析度探討流程圖