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通常我們所面臨的決策中,時間往往是一個重要的變數。作預測時,亦常以 過去的歷史資料(historical data)為依據來預測將來的變數。過去的歷史資料,

我們稱之為時間序列(time series)。更明確的定義,時間序列是一群統計資料,

依其發生時間的先後順序排成的序列。

假如資料的隨機過程(stochastic process)不隨著時間變動而改變,則此時間 序列具有定態性(stationary)。一般而言,具有定態性的時間序列,當變數受到 外力的衝擊時,只會在平均值周圍有波動,且有回覆到平均值的傾向。

相反地,如果資料在隨機過程隨著時間變動而有所變動,則此時間序列具有 非定態性(nonstationary)。在非定態性時間序列下,有兩種主要模型:

(1)(1)

(1)(1) 趨勢趨勢趨勢定態趨勢定態定態定態模型模型模型模型((((Trend Stationary ModelTrend Stationary ModelTrend Stationary ModelTrend Stationary Model)))): yt =c+δ ⋅tt

其中,εt為定態性序列,而E

( )

yt =c+δ ⋅tVar

( )

yt2,因此yt為非定態 性 序 列 ; 但 是 如 果 將 時 間 趨 勢 項 從 模 型 中 去 除 , 則 E

(

yt −δ ⋅t

)

=c

( )

yt2

Var ,因此yt即可成為定態性的隨機過程,我們稱此種模型為趨勢定態 模型。

(2)(2)

(2)(2) 差分差分差分定態差分定態定態定態模型模型模型模型((((Difference Stationary ModelDifference Stationary ModelDifference Stationary ModelDifference Stationary Model)))):

( )

t

( )

t

dY L

L =δ +θ ε

1 ; θ

( )

1 ≠0且d =1

此模型設定是由落後因子(lag operator)所形成的多項式方程式組成;其中,

εt為定態性序列,θ

( )

L =0的根落於單位圓之外(outside unit cycle), d 為整數,

d =1則成為單根模型(unit root model)。

將式子展開整理如下:

yt = yt−1+δ +θ

( )

Lεtyt = y0 +t⋅δ +ε0 +⋅⋅⋅+εt

E

( )

yt = y0 +t⋅δ 且Var

( )

yt =t⋅σ2,因此上述模型為非定態序列。傳統在 做迴歸模型時,均先假設變數是定態的,而且干擾項(disturbance)為白噪音(white noise)。然而大部分的總體經濟變數並非定態的狀態;有關於經濟變數為非定態 性序列的問題,在 1982 年由 Nelson and Polsser 首先應用 Dicky and Fuller(1979)

提出的單根檢定,針對美國 14 個總體經濟變數,檢定時間序列是否具有單根I

( )

1

的情況,而這項檢定結果也發現其中有 13 個總體經濟變數無法拒絕單根之虛無 假設,為非定態性的序列。因此若一開始就貿然的把資料假設成定態性的序列而 直接做迴歸分析,很有可能使得原本毫無因果關係的變數之間,卻出現了 Granger and Newbold(1974)所提出的假性迴歸(spurious regression)的問題。

在假性迴歸的模型之下,所得到的tF檢定統計量非常顯著且其判定係數 R (coefficient of determination)值非常的高,但 DW 檢定(Durbin-Watson Test)2

檢定量之值卻接近於零;隱含模型中雖然拒絕了虛無假設,但是所做出的結論是 錯誤的,不具任何意義。此外,在這裡所指的 DW 檢定值為時間序列中判斷自 我相關的指標;當該值低於臨界值時,則代表該時間序列具有自我相關性

(autocorrelation)。

因此,當我們在進行時間序列的分析之前,必須先檢定資料的性質。倘若原 始資料不需要經過差分就具備定態性,則以I

( )

0 表示;假如資料經由一次差分才 具定態性,則以I

( )

1 表示,也就是資料有單根的性質,而且一般也以此作定態性 分析;假如資料差分 d 次之後才具定態性,則以I

( )

d )表示。

有關於單根檢定的相關文獻眾多,最早是由 Fuller(1976)與 Dickey and Fuller

(1979) 所提出的 Dickey-Fuller 單根檢定法(DF)與 Augmented Dickey-Fuller 單根檢定法(ADF),藉由此單根檢定,可以了解模型中變數的動態走勢,更可

以透過變數是否為恆定的性質來進行各項計量問題之探討。之後單根檢定陸續發 展,包括有 PP、 KPSS與近期發展的 Ng-Perron...等等。茲分別將一般常用的 ADF、 PP與 KPSS三種單根檢定方法說明如下:

(1)(1)

(1)(1) ADFADFADFADF 檢定法檢定法檢定法檢定法((((Augmented DickeyAugmented DickeyAugmented Dickey----Fuller TestAugmented DickeyFuller TestFuller TestFuller Test))) )

Fuller(1976 ), Dickey and Fuller(1979 )所提出的時間序列單根檢定,稱 為 DF檢定(Dickey-Fuller Test),其建構未包括截距和時間趨勢項的模型如下:

(independent and identically distributed),一但違反此假設,即殘差序列存在自我 相關,則檢定力將會大幅下降。

為了解決這個問題, Dickey and Fuller(1979 )、 Said and Dickey Said(1984 ) 修改為修正的 DF 檢定(Augmented DF Test,ADF);當序列殘差項並非白色噪 音時,為了消除殘差項的自我相關,可在迴歸模型等號的右邊加入被解釋變數本

ADF假設檢定為:

Phillips and Perron(1988 )為了克服殘差項所發生的自我相關使得檢定結果 無效的問題,透過修正檢定統計量,再由選擇合適落遲期數,以及採用無母數

(Nonparametric)的調整方式,藉以消除自我迴歸模型殘差項之自我相關及異質 變異的問題。

Phillips(1987 )、 Phillips and Perron(1988 )應用函數化之中央極限定理

(Functional Central Limit Theorem),經由標準化累積和(Normalized Summation)

過程收斂於檢定量之漸近分配,分別以Z 統計量、µ Z 統計量修正DF檢定法之t τα

S 與常態分配之變異數ε2 σ2。因為Z 及µ Z 統計量與 DF 統計量具有相同的漸t 進分配,因此可根據 Dickey and Fuller所列之檢定表值予以檢定。

(3) (3) (3)

(3) KPSSKPSSKPSSKPSS 單根檢定單根檢定單根檢定單根檢定((((Kwiatkowski,Phillips,Schmidt, andKwiatkowski,Phillips,Schmidt, andKwiatkowski,Phillips,Schmidt, andKwiatkowski,Phillips,Schmidt, and Shin's TestShin's TestShin's TestShin's Test):):): ):

如果一

{ }

Y 序列包含了確定趨勢、隨機漫步和穩定的誤差項,如下所示: t 且隨機漫步的資料產生過程(data generating process,DGP)為:

t

正,由於(4.8)式的 LM 統計量與 ADF檢定一樣,都是來自於ε

~ (

0,σε2

)

iid

t 的假

設,在這樣的情況下,除非要有很顯著的證據,否則很難不去拒絕H ,因此,0 為了更容易接受H ,就必須弱化對殘差的假設, Kwiatkowski et al.(1992)根0 據 Phillips(1987), Phillips and Perron(1988)對 Newey and West(1987)長 期變異數εt的處理方式,即允許殘差估計值e 存在自我相關,將t σ)ε2修改為:

SSE 為殘差平方和(sum of squared residuals), k 為待估參數的總數。

由於落後期數愈多,會使最大概似值愈大,且遞延期數的增加會減損自由 度,對模型的估計會有負面的影響。而 AIC與 SC的不同在於 SC對自由度的減 損較具影響力,因此本研究取 SC的最小值做為落後期數選取之標準。