第二章 文獻探討
第三節 專利評量指標
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的年度報告—OECD library2013，針對評量專利品質的 working paper30內文指出，
對於專利律師及工程師而言，一篇好品質的專利通常指內容書寫良好、內容敘述 明確，並能保護主要發明。對於法律學者而言，好品質的專利則要能夠通過訴訟 的考驗，並且維持其有效性。而對經濟學者而言，好品質的專利符合專利系統的 要件，例如在提供創新時受到獎勵，並同時能將該研發成果散播31。
由以上整理可得知，專利品質的定義包含了技術本身、法律保護範圍以及經 濟利益等三方面。若技術佳、撰寫佳，有較高機率能帶來較高經濟利益，此為好 品質的專利；相對而言，技術不佳、撰寫差的專利，幾乎無法帶來經濟收益，反 而浪費申請及維護費用，此為品質差的專利。
第三節 專利評量指標
歷來各界人士都積極想歸納出一套公式，用來評估專利本身，由於在專利從 申請開始到後端應用，每個階段都由不同的單位經手，每個單位由於所扮演的角 色不同，所切入探討專利評量的角度也不盡相同。例如智財局即以審核的角度來 評定專利品質是否可通過無效訴訟的考驗；專利權人以應用的角度來審視專利是 否可帶來商業利益；專利中介業者則提供較全面的評估，包含專利權人背景、發 明背景及技術領域等。本節將整理國內外各界提出之數種專利評量指標，以供後 續研究參考。
由下表 2 可看出，早從 1967 年開始就有各類依照不同分析策略所整理出的專 利指標被提出，都是想要進一步對專利的品質及價值做評估及了解。
30 OECD iLibrary is the online library of the Organization for Economic Cooperation and Development (OECD) featuring its books, papers and statistics and is the gateway to OECD’s analysis and data. It replaced Source OECD in July 2010.
31 Mariagrazia.S., Hélène D., Chiara C. (2013). Measuring Patent Quality. OECD Science, Technology and Industry Working Papers 2013/03.
http://www.oecd-ilibrary.org/docserver/download/5k4522wkw1r8.pdf?expires=1377082761&id=id&acc name=guest&checksum=9EAAF3C435E342BC19AB83FC1D089B40
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Nordhaus, 1967 2.專利維護的有效時間 專利維護之有效性 專利的經濟價值 Pakes, 1986;
Schankerman;
Pakes,1986;
Lanjouw, 1998;
Ernst, 2003 以次數（頻率）作為分析策略
1.專利引用次數 加權專利引證數
（backward citation）
與專利被引證數
（forward citation）
衡量專利品質與專利價 值的有效變數與創新所 產生的報酬有正向關係
Trajtenberg, 1990
專利被引證次數 廠商的市場價值具有高
創新活動的產出指標 Acs& Audretsch,1988 3.專利訴訟次數 專利訴訟的次數 專利的價值重要程度 Harhoff et al., 1999;
Putnam, 1996;
Reitzig, 2003
其他分析策略
1.專利統計 專利統計 經濟成長研究 Schmookler, 1951;
Schmookler, 1966
2.專利取得的強弱 專利取得的強弱 創新績效 Scherer, 1969
Greene and Scotchmer, 1995
資料來源：阮明淑，梁俊齊。2009。專利指標發展研究。圖書館學與資訊科學。
CHI Research 為一家提供關於技術、科學及財務指標方面研究諮詢的美
32 阮明淑，梁俊齊。(2009)。專利指標發展研究。圖書館學與資訊科學。35(2)。P. 91。
33 阮明淑，梁俊齊。(2009)。專利指標發展研究。圖書館學與資訊科學。35(2)。P. 91。
34 潘治良。(2005)。專利之品質與價值評量方法—以 TFT-LCD 產業為例。未出版之碩士論文。政 治大學智慧財產研究所。P.24-28。
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年代末期，CHI Research 公司即和美國國家科學基金會合作，共同研發出全 球首個科學成果指標，用於評鑑科學論文的成果表現。CHI Research 是最先 提出針對專利權的質與量評估方法的單位，故此套專利指標發展最為成熟，且具權威性，受到多數產業及研究者的信賴和使用。其評估指標係使用專利 公開資訊的關鍵字、引證及專利數量等，以簡單的數學公式計算，建立指標。
目前 CHI Research 已改名為 ipIQ，其網站上列有該公司對於近期許多專利事 件討論的文章，詳情可參閱其官方網站：http://www.ipiq.com/。 (Number of Patents)
某一期間內公司在特定領域所獲得 的的專利數量
用於評估該公司所從事技術活 動的程度
專利成長率 (Patent Growth Percent in
Area) (Cites per Patent)
公司某一期間所獲得的專利被後來 專利所引用的次數，除以專利件數
正向指標。被引用次數高，即代 表此專利可能為重要發明 即時影響指數
(Current Impact Index，CII)
某一期間於某特定領域所產生的專 利，於某一年被引用的次數
正向指標。引用次數高，代表該 公司技術愈基礎，且具影響力 技術強度
(Technology Strength，TS)
專利數目乘上即時影響指數正向指 標
技術強度能夠反應專利佈局的 強度
技術生命週期 (Technology Cycle Time，
TCT) (Science Linkage，SL)
該公司所擁有的專利其平均引用論 (Science Strength，SS)
專利件數乘以科學關聯性正向指標 評估公司專利佈局與科學之間
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CHI Research 的評估模型主要分為專利數量指標、專利品質指標、專利 特性指標及綜合評估指標。該公司甚至利用這樣的評估模型，評估上市公司 的表現，並依據得分選股。CHI Research 公司亦將此評估模型申請專利，並 於 2001 年獲得專利證書，專利號 US 6,175,824。評估指標敘述如下：
(1) 專利數量指標
a. 專利數（Number of Patent, PN）：計算專利權人在某一特定時間 內，在某一專利分類中獲准的專利總件數。
其中，i 表示專利權人； j 代表技術領域；k 表示一特定期間；
則表示於一特定期間內，該公司於該專利分類領域中所獲准的專 利總件數。
b. 特定技術領域的科學成長率（Patent growth percent in area）：由某 一時期到另一時期的專利數量變化，以百分比表示。以專利數增 加的方向，確認技術發展重點，及了解技術發展趨勢。可做為公 司研發規劃的參考。
c. 於特定技術領域內公司專利佔有率（Percent of company patents in area）：把公司所有專利數利用技術領域分類，並以百分比表示，
以顯示公司技術及專利組合的重點所在。
(2) 專利品質指標
Breitzman & Narin 所發展之指標，系指專利被引用次數及狀況，評估 產業內各企業專利品質及表現。專利被引用（Backward citation）的次數 愈多，被視為具有較領先之技術，對整體產業現況及未來發展影響較大。
a. 即時影響指數（Current impact index, CII）：計算專利權人於某一 特定時期內獲得的專利，在近期被引用次數占同期所有專利權人 平均被引用次數之比，此期望值通常為 1.0，高於 1.0 者表示專利 在近年被引用次數多，顯示其專利品質較好。但在技術發展迅速 之領域，CII 值普遍較高，最好亦參考該產業之平均水準。
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其中，Cij表示個體 i 在特定時間內產出的 j 領域專利在近期被引 用的次數；Kij表示個體 i 在特定時間內產出 j 領域專利數。
b. 優質專利指數（Essential patent index, EPI）：由於年代愈久，專利 被引用次數機率愈高，因此計算 EPI 時，以年代差做為權數，計 算每件專利的積分，取積分前 25%的專利為優質專利，計算各專 利權人擁有優質專利數及優質專利比率，並予以標準化。本指標 主要可以評估產業內專利權人擁有核心技術之多寡及重要程度。
其中，Eij表示個體 i 在 j 領域中擁有之優質專利數。
(3) 專利特性指標
本指標利用專利之引用狀況分析產業技術特性。
a. 科學連結（Science Linkage. SL）：Narin, Hamilton & Olivastro 的 研究指出36，以 1987-1988 年及 1993-1994 年為檢視期間，發現美 國專利中，引證科學論文之比例，逐年以極快的速度成長。科學 連結係透過專利引用科學文獻及非科學文獻，了解基礎研究與專 利研發技術的關聯性37，數值愈高，愈偏向基礎性研究；反之，
則愈偏向應用性研究。
其中，R 代表個體 i 在 j 領域的非專利引用數
b. 技術週期指數（Technology Cycle Time, TCT）：Narin, Albert, Kroll
& Hicks 的研究38，利用某專利與其引用先前專利之年代差距中數，
36 Narin F., Hamilton K. S. and Olivastro D. (1997). The increasing linkage between U.S. technology and public science.ResearchPolicy. 26(3). P. 317-330.
37 Narin F. and Olivastro D. (1998). Linkage between patents and papers: an interim EPO/US comparison. Scientometics. 41(1-2). P. 51-59.
38 Narin F. (2000). Inventing our future: The link between Australian patenting and basic science.
AusInfo, Canberra, ACT.
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計算技術更替時間。此指標用於衡量產業內新技術出現之速率，
指數愈小代表新技術的更替速度愈快。
其中，Tijn表示個體 i 在 j 領域擁有第 n 篇專利引用先前專利的年份 差中數。
(4) 綜合評估指標：為兼顧質化與量化的指標。
a. 技術強度（Technology strength, TS）：同時考慮專利量及即時影響 指數之影響。
b. 優質技術強度（Essential technology strength, ETS）：同時考量專 利量、即時影響指數及優質專利指數。做為評估各產業內企業表 現的綜合指標。
以上 CHI Research 的專利指標，旨在評量整個公司或單位的專利表現，
而非針對單一篇專利的質或量進行評估。適合用於了解該單位或公司在一定 時間內在產業中的表現，較不適於單篇專利在特定時間點上之情形。
2. Ernst 專利指標
Ernst 提出的專利指標39以專利數量為其核心，評估研發能量與產出價值，
將分析結果做為企業配置研發資源的考量，並協助策略性的研發規劃。Ernst 針對企業的專利組合評估提出三類指標，包括：相對專利定位、技術吸引性 及技術重要性。說明如下：
(1) 相對專利定位（relative patent position）：在某個技術領域中，由公司 所擁有的專利數相對於競爭者擁有的專利數，可得知公司在此領域中 專利數的相對優勢，其公式如下：
專利相對定位 同一技術領域單一公司獲准專利數 同一技術領域標竿公司獲准專利數
39 Ernst H. (1998). Patent portfolio for strategic R&D planning. Journal of Engineering and Technology Management. 15, 279-308.
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(2) 技術吸引性（technology attractiveness）：為得出各技術領域之技術吸 引力，利用技術相對成長率及技術成長率之相對潛力計算之。
a. 相對成長率（Relative Growth Rate）RGR：以得出單一技術領域 相對於全部技術領域之平均成長率為目的，觀察各技術領域相對 於全部技術領域成長幅度之高低。RGR 數值高，代表該領域相 對於其他領域有較高之成長率。
單一技術領域專利核准數平均成長率（ 年內）
所有技術領域專利核准數平均成長率（ 年內）
b. 技術成長率之相對潛力（Relative Development Growth Rate, RDGR）：以某一年為技術分野之時間點，將研究期間分為前期
(3) 技術重要性（technology importance）：指公司在某技術領域的專利數 量，相對於公司全部專利數，可用於衡量某技術領域在公司的重要 性。
Schmoch 於 1995 年提出相對優勢指標（RPA, Revealed Patent Advantage）用以描述特定公司在特定專利分類的技術強度，公式如
Schmoch 於 1995 年提出相對優勢指標（RPA, Revealed Patent Advantage）用以描述特定公司在特定專利分類的技術強度，公式如