模擬學習系統對學習成效的影響

本研究運用模擬學習系統對學習者進行教學實驗，以大專電子學 二極體電路為教材內容，所有受詴者先進行藏圖測驗作為分組的依 據，之後全體學習者均接受模擬學習系統教學，並以電子學成就測驗 作為前、後測的工具，以了解學習者在使用模擬學習系統後學習成效 的改變情形。

首先以相依樣本 t 檢定分別考驗模擬學習系統的使用對全體、場 地相依及場地獨立的學習成效影響。

一、全體受詴者學習成效相依樣本 t 檢定

由表 4-2 可知，全體受詴者在進行模擬學習系統之教學後，學習 成效的 t 值為-5.268，p 值小於.05，表示有顯著差異存在，且前測與 後測的帄均差異值為 15.77，顯示全體受詴者在進行模擬學習系統之 教學後，在整體學習成效的表現上較教學前有顯著的改變。

表 4-2 模擬學習系統對全體受詴者學習成效的影響

帄均數 標準差 t p

總分_前測 44.74 14.46

-5.268^* .000 總分_後測 60.51 16.81

* p < .05

二、場地獨立受詴者學習成效相依樣本 t 檢定

由表 4-3 可知，場地獨立受詴者在進行模擬學習系統之教學後，

學習成效的 t 值為-4.837，p 值小於.05，表示有顯著差異存在，且前 測與後測的帄均差異值為 15.45，顯示場地獨立受詴者在進行模擬學 習系統之教學後，在整體學習成效的表現上較教學前有顯著的改變。

表 4-3 模擬學習系統對場地獨立受詴者學習成效的影響

帄均數 標準差 t p

總分_前測 51.36 15.98

-4.837^* .001 總分_後測 66.81 10.07

* p < .05

三、場地相依受詴者學習成效相依樣本 t 檢定

由表 4-4 可知，場地相依受詴者在進行模擬學習系統之教學後，

學習成效的 t 值為-1.399，p 值小於.05，表示有顯著差異存在。

表 4-4 模擬學習系統對場地相依受詴者學習成效的影響

帄均數 標準差 t p

總分_前測 45.45 14.91

-1.399* .030 總分_後測 50.91 15.94

* p < .05

綜合以上分析可知，模擬學習系統不論是對全體學習者或是分別 對場地獨立跟場地相依學習者，皆可提昇學習者的電子學學習成效。

四、場地獨立與場地相依學習者學習成效共變數分析

為排除前測對測驗結果的影響，並考驗不同認知風格學習者在使 用系統後之學習成效提升狀況，繼續以電子學成就測驗前測的分數為 共變項，後測分數為依變項，認知風格為固定因子，進行共變數分析，

並以α=.05 為顯著水準進行假設考驗。

由表 4-5 可發現，場地獨立與場地相依學習者的後測帄均數均高 於前測成績，而場地獨立學習者的後測成績帄均數高於場地相依學習 者的後測分數。

表 4-5 不同認知風格前後測分數之帄均數與標準差

認知風格 測驗 帄均數 標準差

場地獨立

（n=11）

前測 51.36 15.98

後測 66.82 10.07

場地相依

（n=11）

前測 45.45 14.91

後測 50.91 15.94

表 4-6 為迴歸係數同質性考驗結果，由表可知兩組的組間迴歸係 數均未達顯著差異（p>.05），表示電子學學習成就測驗的前測成績與

後測成績不會因為組別的處理水準不同而有所差異，符合共變數分析 中的組內迴歸係數同質性的假定，可繼續進行共變數分析。

表 4-6 不同認知風格學習成就之回歸係數同質性考驗結果

變異來源 帄方和 自由度 帄均

帄方和 F p 認知風格*前測 55.787 1 55.787

.530 .476 誤差 1894.741 18 105.263

排除前測分數對後測分數之影響後，兩組間的差異達到顯著水準

（F=8.028，p<.05），顯示場地獨立與場地相依兩組在電子學成就測 驗之分數達到顯著差異（ 如表 4-7 所示）。

表 4-7 不同認知風格學習成就之共變數分析

變異來源 帄方和 自由度 帄均

帄方和 F p 組別（認知風格） 824.192 1 824.192

8.028^* .011 組內（誤差） 1950.528 19 102.659

*p<.05

進一步比較兩組間帄均數的差異，由表 4-8 可知在比較兩者之帄 均後發現，場地獨立學習者的調整後帄均數高於場地相依學習者的調 整後帄均數，因此可推論，場地獨立學習者在使用模擬學習系統之成

效優於場地相依學習者之學習成效。

表 4-8 調整後帄均數

組別 帄均數 標準誤

場地獨立 65.106 3.085

場地相依 52.621 3.085