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Ring-VCO 如何提升中心時脈頻率到 6GHz

第二章 設計挑戰與架構選擇分析

2.2 運用在本論文內的 Ring-VCO 電路挑戰與設計分析

2.2.1 Ring-VCO 如何提升中心時脈頻率到 6GHz

首先要滿足 SATA-3.0 的規格要求,就表示 Ring-VCO 在 TSMC-0.18um 1P6M 這個製程下,中心頻率要能夠達到 6GHz,但是從序論的介紹中已經說明了 Ring-VCO 的振盪頻率有著

τ

∝ ⋅

f N

1

的關係式,而延遲單元的延遲時間τ往往會 取決於 PMOS 的切換時間不夠快速而讓頻率上不去,當然從公式上分析,減少 延遲單元的級數N 也是個增加頻率的方法,不過根據 Barkhausen 振盪準則,電 路要能起振,N 至少要兩級以上,且現實設計上往往會因為多相位的需求或者是 架構穩定性這些的外部規格考量而增加 N 值。在這次的設計裡並沒有相位上的

特殊需求,不過若是以 N=2 級的架構去實現,其振盪產生的時脈效果不會比架 構更穩定的 N=3 級來的好,因此最後在穩定性以及頻率要求中,選取了串接 3 級延遲單元, 因此當 N 值確定後,要能提高頻率的方法就是縮減 τ。

而確定了提升頻率的主要關鍵後,針對以往有對這個議題做研究的各種 IEEE 論文去做分析,並且發現在[23]這篇研究中提出了一項很有效率的方法,它 提出縮減τ 的觀念叫做「負延遲之延遲單元」(Negative Skewed Delay Cell),基 本的理論可以用圖2.2 的電路來說明。

out

in

in'

(a) [23]提出基本Negative Skewed Delay Cell

off off off on

on off

on on

in=in'

in in'

out out

NMOS PMOS

conventional

skewed-delay

conventional

skewed-delay

(b) 時脈反應圖

圖2.2 用負延遲之延遲單元縮減τ 的基本理論

一般的 delay-cell 例如一個反相器,由於 PMOS 的速度較慢,比較 conventional 信號的in 端以及 out 端,就可以看到需要一段較長的反應時間讓 PMOS 導通或 關閉,而negative skewed delay cell 的想法是利用一個負延遲的效果使輸入訊號 in 變成 in’,這表示到達 PMOS 的輸入信號 in’會比 NMOS 的輸入信號 in 快,當 輸入點in 要由 high 變 low 的時候,in’已經提前變成 low 信號送給 PMOS 讓它反 應知道現在要turn on,等到 in 信號也送給 NMOS 的時候,PMOS 已經花了一段 時間反應,因此等於可以馬上跟上NMOS 的變化;同理的當輸入點 in 要由 low

變high 的時候,in’已經提前變成 high 信號送給 PMOS 讓它反應知道現在要 turn off。雖然 PMOS 要花的反應時間還是一樣那麼多,但是因為控制信號 in’的提前 輸入,讓PMOS 能夠在下一階段轉換之前就先反應,讓它能夠在 NMOS 動作時 馬上對應,整體來說就等於縮減了延遲時間τ 進而提高速度,使這樣的振盪器其 最高振盪頻率會比傳統的架構高。更進一步的,在[24]這篇研究中,以同樣的觀 念實現了一個Ring-VCO,架構如圖 2.3 所示。

Vcontrol Vdd

S+

S-P+

P-Out- Out+

M5 M1 M2M6

M3 M4

M7 M8

+ S+ Out-+ POut-+

- P-- SP-- Out+

+ S+ Out-+ POut-+

- P-- SP-- Out+

+ S+ Out-+ POut-+

- P-- SP-- Out+

(a) delay-cell (b) Ring-VCO

圖2.3 [24]所採用的 VCO 架構

這是一個採用負延遲技術的雙延遲路徑 Ring-VCO。(a)的電路為[24]所採用 的單一級延遲單元,可以看到PMOS 端的輸入為 S、NMOS 端的輸入為 P,並將 三級延遲單元串接成(b)的 VCO 架構。在(b)的電路圖中可以觀察到,每一級的 NMOS 的輸入 P 端都是接到前一級的輸出,但是在 PMOS 的輸入 S 端卻是接到 前兩級的輸出,對Ring-VCO 每一級的輸出時脈而言,其實頻率都是一樣的,只 有在相位上有差異,[24]就是利用了這樣的差異,讓相位比較提前的時脈當做控 制信號送給PMOS,實現了負延遲的觀念讓振盪頻率提升。

因為[24]利用這樣的方法所獲得的提升頻率結果是相當好的,所以本次設計 中也將引用這樣的架構來完成Ring-VCO。因此以下便對這樣的架構做了分析。

首先PMOS 對 M1、M2 形成一個 CMOS latch,而 M3、M4 的 NMOS 交互耦合 對這個latch 的閘級電壓做控制,當控制電壓 Vcontrol 降低時,latch 的力量也降 低,使得 PMOS 輸出的驅動電流增加,導致相位變化更容易,延遲時間縮減,

使得振盪頻率上升;反之Vcontrol 上升時,latch 的力量增加,相位變化更困難,

頻率自然就會降低,而振盪頻率的式2.1 可由圖 2.4 的 delay-cell 小電路模型推導。

圖2.4 本論文採用的delay-cell 小電路模型

最後這個 VCO 電路設計在 TSMC-0.18um 1P6M CMOS 製程下所獲得的 post-sim 模擬結果(layout 請參考圖 3.12) ,圖 2.5 為本論文 Ring-VCO 在 Typical-Typical(TT) 下 的 頻 率 對 電 壓 特 性 曲 線 。 它 的 曲 線 斜 率 值 (Kvco) 約 為 1GHz/V,表示說當控制電壓有一伏特的變化時,對應的頻率變化約為 1GHz。同 時也證明了它能符合一開始設計的目標,產生如圖2.6 的 6GHz 時脈。

Kvco VDD=1.8V

5 5.2 5.4 5.6 5.8 6 6.2

0.8 1 1.2 1.4 1.6 1.8

controll voltage (V)

fre qu en cy (G H z)

圖2.5 本論文Ring-VCO 的頻率對電壓特性曲線

圖2.6 本論文Ring-VCO 產生的 6GHz 時脈

圖2.7 本論文Ring-VCO 的 phase noise 模擬結果

Phase Noise; dBc/Hz, Relative Harmonic = 1

1 04 1 05 1 06 1 07

relative frequency (Hz)

− 20 . 0

− 40 . 0

−6 0 . 0

−8 0 . 0

− 10 0

− 1 20

( dBc/Hz ) (dBc/Hz)

M 0(1MHz, −87.44dBc/Hz)M 0(1MHz, −87.44dBc/Hz) M 0(1MHz, −87.44dBc/Hz) M 0(1MHz, −87.44dBc/Hz) M 0(1MHz, −87.44dBc/Hz)

relative frequency (Hz)

Voltages (lin)

200m 400m 600m 800m 1 1.2 1.4 1.6

Time (lin) (TIME)

9.955u 9.9552u 9.9554u 9.9556u

erivative=1.903871e+010 urrent Y=9.000000e-001 urrent X=9.955078e-006

Derivative=1.881003e+010 Current Y=9.000000e-001 Current X=9.955578e-006

*pll

而根據[25]理論式 2.2,本論文 Ring-VCO 其距離中心 1MHz offset 的理想 phase noise 為-95.6dBc/Hz,而圖 2.7 是實際用 Spectre-RF 模擬出來的結果,值約 為-87.44dBc/Hz。討論至此,本論文已經解決了如何提升 Ring-VCO 中心時脈頻 率到6GHz 的設計挑戰,而下一步,也就是如何對抗製程變易帶來的頻率漂移。

MHz offset at

Kvco VDD=1.8V

4

control voltage (V)

fr eque nc y ( G H z)

tt ss ff

圖2.8 本論文Ring-VCO 在不同 Corner 下頻率對電壓特性曲線