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超薄氮化矽閘極介電層之可靠度研究

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Academic year: 2021

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(1)國 立 交 通 大 學 電子工程學系電子研究所碩士班 碩 士 論 文. 超薄氮化矽閘極介電層之可靠度研究 A Study on the Reliability of Ultrathin Oxynitride Gate Dielectrics. 研 究 生 : 歐士傑. Shih-Chieh Ou. 指導教授 : 黃調元 林鴻志. Dr. Tiao-Yuan Huang Dr. Horng-Chih Lin. 中華民國 九十三 年 六 月.

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