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[PDF] Top 20 對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---總計畫

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---總計畫

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---總計畫

... 診斷研究(II) ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫二:以智財為基系統晶片設計之功能驗證技術研究

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫二:以智財為基系統晶片設計之功能驗證技術研究

... 行政院國家科學委員會專題研究成果報告 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證測試與診斷技術開發研究---子計畫II:以智財單元為基系統晶片設計之測試與可測試設計技術研究

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證測試與診斷技術開發研究---子計畫II:以智財單元為基系統晶片設計之測試與可測試設計技術研究

... 子二:危機研究 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫I:與組織探索階段互動之系統階層驗證技術

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫I:與組織探索階段互動之系統階層驗證技術

... 行政院國家科學委員會專題研究成果報告 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---總計畫

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---總計畫

... SOC 過程中,除各層次之 外,製造出來時,無因 製程缺陷等因素而生不能工作情況,必 須加入可考慮,並各 IP ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---總計畫

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---總計畫

... SOC 過程中,除各層次之 外,製造出來時,無因製 程缺陷等因素而生不能工作情況,必須 加入可考慮,並各 IP 產生 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫IV:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫IV:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究

... 於數位電路中,電路生障礙時,在 適當的輸入圖樣下,其輸出所顯現障 礙 效 應 皆 是很 清楚 可分 辨的 ”0”或”1”信 號。但於類比電路中,線路信號連續 性,當電路生巨變型障礙時,電路常 生不正常運作,一般皆很容易藉由觀察電 路輸出而決定此電路正常否;但當 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫三:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫三:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究

... 針此二子題,我們提出了振盪環 方法,它能解決傳上的問題,並 能更有效率的內連線。另外邊界掃 描也重新,使其能實現振盪環 ,同時也能 ...標準相容。重新 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究(III)---子計劃III:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究(III)---子計劃III:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究

... 本於第一年已建立本身 相互間連線的機制,在第二年執行 期間也順利地分別數位、類比混合訊 號電提出有效的診斷的架 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究(III)---總計劃

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究(III)---總計劃

... SOC 過程中,除各層次之 外,製造出來時,無因製 程缺陷等因素而生不能工作情況,必須 加入可考慮,並各 IP 產生 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫一:與組織探索階段互動之系統階層驗證技術

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫一:與組織探索階段互動之系統階層驗證技術

... 一、中文摘要 涵蓋很廣的空間。 者通常需要考量許多可能的組織 包括選擇演算法則、挑選組織件、建構 候選組織。如此的複雜誠屬不 ... See full document

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對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究(III)---子計劃I:與組織探索階段互動之系統階層驗證技術

對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究(III)---子計劃I:與組織探索階段互動之系統階層驗證技術

... 一、中文摘要 涵蓋很廣的空間。 者通常需要考量許多可能的組織 包括選擇演算法則、挑選組織件、建構 候選組織。如此的複雜誠屬不 ... See full document

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單晶片系統驗證之核心技術開發-總計畫(I)

單晶片系統驗證之核心技術開發-總計畫(I)

... 本層次所面問題,分項方式個別研先進 ... See full document

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單晶片系統驗證之核心技術開發-子計畫二:針對單晶片系統界面協定之驗證(I)

單晶片系統驗證之核心技術開發-子計畫二:針對單晶片系統界面協定之驗證(I)

... 因此,這些矽群是否吻合其傳輸界面,能夠在整合後正確地溝通資料,便成 上的一大課題。 一般的界面規格往往是使用自然語言或時序示意圖來描述,在功能的問題中,首先會 ... See full document

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單晶片系統驗證之核心技術開發-子計畫一:高階合成之形式驗證技術研究

單晶片系統驗證之核心技術開發-子計畫一:高階合成之形式驗證技術研究

... (一) 中文摘要 本主要是研究探索用於高階合成形式,目的在於展出利於 ... See full document

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單晶片系統驗證之核心技術開發-子計畫六:針對先進晶片設計的熱點驗證之完整熱模型與高效能熱分析(I)

單晶片系統驗證之核心技術開發-子計畫六:針對先進晶片設計的熱點驗證之完整熱模型與高效能熱分析(I)

... 日 主持人:李育民 一、中文摘要 當 CMOS 製程進步到 100 奈米以下時,隨著件的密度、操作頻率以及功率消耗 的增加將導致上的熱傳問題受到矚目。尤其在先進的(SOC) ... See full document

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以智財元件為單元的系統晶片合成

以智財元件為單元的系統晶片合成

... 合工具能輔助元件位的 者往往依序在不同的環境下展演算 法、選擇件、建構組織。由於缺乏一個整體 ... See full document

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多媒體系統晶片設計技術研究---子計畫五:系統晶片上系統驗證之研究

多媒體系統晶片設計技術研究---子計畫五:系統晶片上系統驗證之研究

... 即 所 謂 的 智 慧 產 (IP: Intellectual Property),利用這些智慧產作 ASIC 核心件,除引用既有經節省人力,並可 以大幅度縮減 ASIC 時程。因經由取得 ... See full document

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單晶片寬頻無線通訊系統設計技術之研究---總計畫

單晶片寬頻無線通訊系統設計技術之研究---總計畫

... 架構,三特別針 中核心運算 FFT 做深入的研 究四中則是提出一 layout driven 映用於深次微米 SOC ,而 ... See full document

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百萬閘單晶片系統之設計方法論─總計畫
百萬閘單晶片系統之設計方法論

百萬閘單晶片系統之設計方法論─總計畫 百萬閘單晶片系統之設計方法論

... 子 時脈樹合 成方法論 , 子 正規 方法論工具 , ... See full document

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