【11】證書號數：I477757
【45】公告日： 中華民國 104 (2015) 年 03 月 21 日
【51】Int. Cl.： G01N21/21 (2006.01)
發明 全 9 頁
【54】名 稱：光學參數測量裝置與光學參數測量方法
OPTICAL PARAMETER MEASURING APPARATUS AND OPTICAL PARAMETER MEASURING METHOD
【21】申請案號：100105444 【22】申請日： 中華民國 100 (2011) 年 02 月 18 日
【11】公開編號：201235655 【43】公開日期： 中華民國 101 (2012) 年 09 月 01 日
【72】發 明 人： 羅裕龍 (TW) LO, YU LUNG；範 秋賢 (VN) PHAM, THI-THU-HIEN
【71】申 請 人： 國立成功大學 NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY
臺南市東區大學路 1 號
【74】代 理 人： 劉正格
【56】參考文獻：
Yu Lung Lo and Thi-Thu-Hien Pham,”Characterization on all effective parameters of anisotropic optical material using Stokes polarimeter Theory and Experiment” Optomechatronic Technologies (ISOT), 2010 International Symposium on,October 2010, pp. 1-5.
Yu-Lung Lo,Thi-Thu-Hien Pham, and Po-Chun
Chen,”Characterization on five effective parameters of
Characterization on five effective parameters of parameters- Demonstration by a fiber-type polarimeter”OPTICS EXPRESS,Vol.
18, No.9,October 2010, pp.9133-9150.
Jose Jorge Gil,”A deporization criterion in Muller matrices”OPTICA ACTA Vol.32,March 1985,pp.259-261.
審查人員：林佑霖
[57]申請專利範圍
1. 一種光學參數測量裝置，用以測量一物件之光學參數，包含：一光源，發出一光線；一 偏振模組，使該光線成為至少一偏振光；一史托克斯偏振儀(Stokes polarimeter)，該偏振 光經過該物件後由該史托克斯偏振儀接收；以及一計算模組，依據該史托克斯偏振儀所 產生之光資訊、該物件之線性雙折射(Linear birefringence)、旋性雙折射(Circular
birefringence)、線性雙衰減(Linear diattenuation)、旋性雙衰減(Circular diattenuation)、線
雙折射之穆勒矩陣包含光旋角 (optical rotation angle)之光學參數，該旋性雙衰減之穆勒矩 陣包含旋性振幅異向性值(value of circular amplitude anisotropy)之光學參數。
4. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學參數測量裝置，其中該線性非偏振與旋性非偏振之穆 勒矩陣包含複數個線性非偏振程度(degrees of linear depolarization)之光學參數與一旋性非 偏振程度(degree of circular depolarization)之光學參數。
5. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學參數測量裝置，其中該物件為非等向性、或具散射之 非等向性光學物件。
6. 如申請專利範圍第 1 項所述之光學參數測量裝置，其中該等穆勒矩陣之至少其中之一為 單位矩陣。
7. 一種光學參數測量方法，用以測量一物件之光學參數，包含下列步驟：建立該物件之線 性雙折射之穆勒矩陣；建立該物件之旋性雙折射之穆勒矩陣；建立該物件之線性雙衰減 之穆勒矩陣；建立該物件之旋性雙衰減之穆勒矩陣；建立該物件之線性非偏振之穆勒矩 陣；建立該物件之旋性非偏振之穆勒矩陣；依據該等穆勒矩陣建立一史托克斯向量；對 該物件照射至少六種不同偏振之光線；以及依據上述步驟計算該等穆勒矩陣之光學參數。
8. 如申請專利範圍第 7 項所述之光學參數測量方法，其 中該線性雙折射之穆勒矩陣包含慢 軸主角與延遲量之光學參數，該線性雙衰減之穆勒矩陣包含雙衰減軸角與雙衰減量之光 學參數，該旋性雙折射之穆勒矩陣包含光旋角之光學參數，該旋性雙衰減之穆勒矩陣包 含旋性振幅異向性值之光學參數。
9. 如申請專利範圍第 7 項所述之光學參數測量方法，其中該線性非偏振與旋性非偏振之穆 勒矩陣包含複數個線性非偏振程度之光學參數與一旋性非偏振程度之光學參數。
圖式簡單說明
圖 1 為本發明較佳實施例之一種光學參數測量裝置的示意圖；
圖 2 為本發明較佳實施例之一種光學參數測量方法的流程圖；
圖 3 為使用四分之一波片而驗證其線性雙折射(LB)之光學參數：慢軸主角 α 與延遲量 β 的 實驗結果；
圖 4 為使用二分之一波片而驗證其旋性雙折射(CB)之光學參數：光旋角 γ 的實驗結果；
圖 5 為使用偏振片而驗證其線性雙衰減(LD)之光學參數：雙衰減軸角 θd 與雙衰減量 D 的 實驗結果；
圖 6 為使用偏振控制器而驗證其旋性雙衰減(CD)之光學參數：旋性振幅異向性值 R 的實 驗結果；
圖 7 為使用烘烤過後的偏振片而驗證其線性雙折射(LB)以及線性雙衰減(LD)之光學參數：
慢軸主角α 與延遲量 β、雙衰減軸角 θd 與雙衰減量 D 的實驗結果；以及
圖 8 為使用複合物件而驗證其線性雙折射(LB)/旋性雙折射(CB)以及線性雙衰減(LD)之光 學參數：慢軸主角α 與延遲量 β、光旋角 γ、雙衰減軸角 θd 與雙衰減量 D 的實驗結果。
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