拋光研磨汙泥回用於石質瓷磚製造之研究
*陳衡勳1 許志雄1 韓雄文1 1 聯合大學材料科學工程學系 拋光研磨汙泥為石英磚在拋光的過程,磨除表面約 5%至 10%所產生的汙泥;研磨汙泥為燒成 過之熟料,其平均粒徑約為14μm,熔點較低,且含有少量碳化矽磨料及硫化物造成回用之困 難,所以研磨汙泥大多作為回填土或將其棄置掩埋場,此將造成環境的汙染。本研究目的為添 加 20%以上拋光研磨汙泥並調整配方製造石質地磚,達到國內 CNS 石質地磚及綠建材之規範, 以解決研磨汙泥對於環境汙染的問題。實驗結果添加越多的研磨汙泥會使的磁磚耐火程度下 降,燒成溫度降低,燒結區間狹窄,純汙泥燒成溫度高於 1060°C 成品會發生嚴重膨脹,內部 氣孔大量生成。本研究添加不同比例的黏土、長石、汙泥,改變瓷磚之配方對陶瓷燒成胚體收 縮率、吸水率、燒失率、抗折強度等性質的影響,藉此研究出較佳的石質瓷磚配方。 關鍵字:研磨汙泥、拋光石英磚、回用、石質瓷磚(1) 前言
拋光石英磚為最高階瓷磚產品之一,經 1200oC 左右於隧道窯燒成,產品表面以機器濕式 研磨拋光至鏡面,磨除表面約 5%至 10%,所產生 細小顆粒粉體的汙泥,均匯流至汙水處理廠,再 經混凝、沉澱及脫水,研磨汙泥為燒成過之熟料, 熔點較低且含有少量碳化矽磨料及硫化物造成回 用之困難。 基於汙泥本身為零成本之材料,成分為石英 及大量玻璃質,可促進燒結,降低燒結溫度。若 能夠發展一套有效回用之方法,不僅降低成本, 還可以減少環境污染,實為一舉數得;回用率若 達 20%以上,依「財團法人台灣建築中心」所公 告,可申請綠建材標章。 國內外瓷磚拋光汙泥常淪為需待處理之廢棄 物,每月之處理費用相當驚人。汙泥為不吸水之 無機物,未處理之汙泥亦於廠區堆放,只要工廠 運作,此廢棄物當前只會持續增加,恐有危害環 境之虞。需盡快規劃瓷磚拋光汙泥減量、資源化 及再利用等方案,以避免瓷磚拋光研磨汙泥演變 成另一種危害環境的污染問題 據環保署「事業廢棄物管制資訊網」公告, 民國 97 年國內產出非屬公告應回收或再利用之無 機性汙泥已達 68 萬公噸/年,居一般事業廢棄物 之首,其中包含陶瓷業產生之瓷磚拋光研磨汙 泥。行政院公佈 96 年以後,除偏遠地區外,生垃 圾無法進入掩埋場,並製定處理前總減量目標, 且處理前之總減量目標達 25%,100 年達 40%, 109 年達 75%,台灣一年所產拋光研磨汙泥 5~6000 公噸,屆時,大量瓷磚拋光研磨汙泥及類似汙泥 產物無法進入衛生掩埋場掩埋。 本研究目的為添加 20%以上拋光研磨汙泥並 調整配方製造石質地磚,並達到國內 CNS 石質地 磚及綠建材之規範,以研磨汙泥作為石英磚原料 之部分取代物,燒製後探討回用之性質。本研究 與台灣在地瓷磚廠合作,使用工廠現有之原料與 瓷磚拋光研磨汙泥。首先探討汙泥基本性質、物 化性質等,而後以黏土、長石類原料與瓷磚拋光 研磨汙泥試燒石質磚,探討添加不同比例之成份 對胚體燒成性質、成品性質等影響。(2) 實驗方法
2.1 實驗架構主要分為
一、不同汙泥添加量對燒成性質影響,利用 不同汙泥添加量 H50-H40-H30-H20,汙泥添加量 由 50wt%~20wt%,配方黏土與長石比例約為 3 比 2,其黏土、長石種類有些許差異,含矽灰石量均 約 5 至 10%,利用汙泥配比之不同,比較其汙泥 含量不同對燒成性質影響。 二、汙泥回用於石質地磚之研究。利用梯度 爐燒成,分析隨著溫度升高其線收縮率及吸水率 之改變,並與工廠燒成石質磚(噴霧造粒粉)比 較。經實驗得到燒成溫度範圍寬之配方,且緻密 溫度高於工廠石質線上窯溫(測溫約 1130o C),將 配方壓製數片 5x10cm 磚及二丁掛於工廠石質線 上燒成,測量收縮率、吸水率、三點抗折強度、 體比重、SEN、XRD 等成品性質。2.2
實驗步驟
實驗步驟先將單項原料先經過烘乾、顎碎後 配製不同成分配比,取總和為 300 克,粉與球石重量比為 1:2,並加入 0.5%解膠劑(三聚磷酸鈉) 配成含水率 40%的泥漿,於快速球磨罐中混合 15 分鐘,控制泥漿平均粒徑控制在 12 至 15μm 即可 烘乾。之後將烘乾後的泥餅經過粉碎後,將噴霧 器中水噴入使粉體,將粉體配成含水率為 6%,接 著利用手工方式將結球之粉粒搓散並均勻混合, 並以震動方式使其全數通過 20 目篩網並陳化一段 時間,即為手工造粒粉。經過手工造粒陳化後粉 末以單軸乾壓成形製成生胚,本研究以 3cm 圓錠 之模具秤 10g 造粒粉以 141.4 kg/cm2與 247.4 kg/cm2壓力實施二段成形,成形之後經由烘乾除 去水分即可燒成。燒結實驗相同配方各準備三 個,以求客觀數據。特性分析包含:燒成線收縮 率、吸水率、體比重、XRD、SEM 等
(3) 實驗結果與討論
3.1 拋光研磨汙泥燒成性質分析
將汙泥經過實驗室階程爐將樣品置於各溫度 梯度燒以 3o C/min(25~500 oC),5.5oC/min(500~800 o C)800 oC 至 1100 以 7oC/min 後並持溫 15 分鐘每 隔 10 o C 放置 3 個試片。其結果如圖 1.,汙泥熔 點極低,約在 1060o C 達到最緻密並開始劇烈膨 脹,且由圖 2.所示在 1060o C 其體比重最高,而溫 度升高之後體比重直線下降,因其內部產生大量 氣體導致起泡之效果。 Riley 提出,造成材料膨脹之原因,乃因材料 產生足夠之液相以包圍住空孔,而液相以泡沫之 形式留住產生之氣體,其黏度足夠使氣體無法穿 透。另一要件則為可分解或相互作用產生氣體之 物質之存在,為氣體之來源,如硫酸鹽、碳酸鹽、 氯化物及氧化鐵等。研磨汙泥帶有可分解成氣體 之雜質,且與一般黏土類原料不同之處在於其本 身即含有大量之玻璃質,可於較低溫度達到適當 黏度,因而可留住氣體。高溫時氣體壓力上升, 因此易於膨脹。此特質可應用做為輕質骨材,若 作為瓷磚,則需克服膨脹及燒成窗口過小導致品 質降低等問題。 圖 1.研磨汙泥 1040o C~1100o C 收縮率、吸水率曲線 圖 2.研磨汙泥於 1040o C 至 1100oC 體比重3.2 汙泥添加量對燒成性質影響
不同汙泥添加量 H50-H40-H30-H20,汙泥添 加量由 50wt%~20wt%,由圖 3.得到結果.其汙泥 含量越多主要會影響緻密化溫度,汙泥含量越多 則緻密化溫度越低,及緻密化之後溫度升高導致 膨脹劇烈。改變不同種類黏土、長石,可調整配 方之低溫、高溫收縮率、吸水率、抗折強度等效 果。 在吸水率量測方面,圖 4.可見,即使到達最 高緻密度,4 種樣品仍可測得 2%以上吸水率,表 示研磨汙泥在燒結時,部分氣體被包覆在內部無 法排出,造成緻密化程度有限,部分氣體持續排 出,造成表面之孔隙,因其較淺層之包覆氣體因 衝破表面而造成。一般而言,燒結體之吸水率主 要與開放性孔隙有關。燒結試體之吸水率是指進 入試體開放孔隙中的水重量與試體重之比值,故 吸水率與試體開放孔隙的多寡具有相關性,當試 體較緻密,代表著孔隙率減少,相對的吸水率也 會減少。圖 5.為不同汙泥含量,其燒成最緻密溫 度之樣品 XRD 相鑑定,其相均包含石英相以及鈣 長石(Anorthite)相。 1060 1080 1100 1120 1140 1160 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 收縮率% 溫度0C H50 H40 H30 H20 圖 3.不同比例汙泥溫度對收縮率影響1060 1080 1100 1120 1140 1160 2 4 6 8 10 12 14 吸水率% 溫度0C H50 H40 H30 H20 圖 4.不同比例汙泥溫度對吸水率影響 20 30 40 50 60 70 0 200 400 600 800 1000 20 30 40 50 60 70 -1000 100 200 300 400 500 600 700 800 20 30 40 50 60 70 0 200 400 600 800 1000 20 30 40 50 60 70 -1000 100 200 300 400 500 600 700 800 H40 H50 Intensity 2 theta H30 A A A Q Q Q Q Q Q Q Q H20 Q:Quartz A:Anorthite 圖 5.不同汙泥含量配方 XRD 相鑑定
3.3 回用汙泥燒成石質磚性質
由 T、E 系列配方之溫度與收縮率曲線所得到 之較佳配方為 T1 及 E5,圖 6.及圖 7.所示此兩種 配方之溫度-收縮率曲線緻密溫度低於 1140 o C, 且燒成較為範圍寬廣,達到製造大量配方之條件。 T 與 E 系列之黏土、長石種類不同其所有配 方汙泥含量均高於 20wt%,E 系列 E5 配方(圖 6.) 燒成緻密溫度範圍較平緩,添加相同配比但不同 種類長石、黏土,如 E4、E5 配方,其曲線平緩度 有明顯之差異。而 T 系列(圖 7.)配方 T2 至 T5 燒 成緻密溫度範圍明顯較 T1、T6 狹窄且以 T1 燒成 區間最為平緩。圖 8 為工廠石質地磚噴霧造粒粉 與 E5、T1 配方收縮率比較,可以得到低於 1140 o C 其燒成收縮率之斜率相似達到大量製造、量測之 條件。 1100 1110 1120 1130 1140 1150 1160 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 收縮率% 溫度0 C E1 E2 E3 E4 E5 圖 6.E 系列溫度-收縮率曲線 1100 1110 1120 1130 1140 1150 1160 0 2 4 6 8 10 12 收縮率% 溫度0C T1 T2 T3 T4 T5 T6 圖 7.T 系列溫度-收縮率曲線 1100 1120 1140 1160 0 2 4 6 8 10 收縮率% 溫度0 C J T1 E5 圖 8 工廠石質配方與收縮率較佳配方收縮率比較3.4 較佳汙泥回用配方性質量測
將兩種配方大量製備以工廠石質線上燒成 5x10cm 大小,量測性質:收縮率、吸水率、SEM、 三點抗折強度。 圖 10.為 E5、T1 汙泥回用配方以石質線上燒 成之成品,二種配方均符合 CNS 石質地磚標準 6% 以下,而 E5 配方收縮率 6.65%與工廠石質配方規 範(6.5%)較為接近,由塊材 XRD 結晶相分析,三 種配方其結晶相主要均為 Quartz,且由圖 11 所示三 點 抗 折 測 試 均 符 合 工 廠 (30MPa) 及 CNS(20MPa)石質地磚標準。 圖 9.為試片燒成溫度 1130 oC,研磨拋光 後以 5%HF 侵蝕 5 分鐘,SEM 以 500 倍觀察顯微 結構,石質磚配方之孔隙大小分佈較為分散且孔 隙較大,而回用拋光汙泥 T1、E5 配方孔隙分布密 集且小,其原因推測為 T1、E5 配方含有 20%以上 汙泥,在 1000 o C 以後產生氣體,從胚體表面持續 排出,形成小且密之孔隙。 圖 9. 工廠石質配方、T1、E5 配方 SEM 顯微結構 T 1收縮率:7.2 E 5收縮率:6.65 吸水率: 4.8 吸水率:3.4 圖 10.T1、E5 配方以石質線燒成之成品 圖 11.工廠石質配方與 E5、T1 配方三點抗折強度
(4) 結論
汙泥主要結晶相為快速燒成後殘留之石英 相,以及液相冷卻後所形成之玻璃相,及拋光過 程中所殘留的 SiC、MgO、MgCl2汙泥,其燒成效 果類似低溫之熔劑,少量添加有助於胚體燒成更 緻密,隨添加量越多,胚體緻密溫度下降、且燒 成緻密溫度範圍縮減、高溫時胚體膨脹更劇烈, 造成大量回用於磁磚之困難。 添加汙泥之回用配方,因研磨汙泥在燒結 時,部分氣體被包覆在內部無法排出,造成緻密 化程度有限,且部分氣體持續排出,造成表面之 孔隙,因其較淺層之包覆氣體因衝破表面而造 成,使回用配方吸水率均無法降至 1%以下。 本實驗所做的成品 E5 配方燒成性質接近工廠 石質磚,且收縮率、吸水率均達工廠之規範,且 汙泥回用量達 20%,具有製成綠建材石質磚之潛 力。參考文獻
1.A. De Noni Junior, D. Hotza, V. C. Soler, and E.S.Vilches,"Analysisof the development of microscopic residual stresses on quartz particles in porcelain tile," Journal of the European Ceramic
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3. J. L. Amorós, M. J. Orts, J. García-Ten, A. Gozalbo, and E. Sánchez, "Effect of the green porous texture on porcelain tile properties," Journal
of the European Ceramic Society, vol. 27, pp.
2295-2300, 2007.
4.汪建民, 陶瓷技術手冊 (上): 全華圖書, 1994
致謝:
經濟部 98 年度在地型產業加值學界科專計畫 (98-EC-17-A-08-S1-118)