第五章 海岸遺址陶罐形式與技術分析
第二節 塑型技術與形式塑型
受到保存狀態影響，海岸遺址的罐口器表的製作痕與器表特徵殘留程度不 一。筆者初步以肉眼、低倍顯微鏡觀察發現罐口器表內外的處理痕跡，包括抹平、
慢輪等痕跡，應與製造的方式與技術有關。但因為可觀察到之陶罐相對少量，因 此以下僅作基本的數量統計。
從層位上來看，慢輪痕和手捏痕集中在中、下層，在唇部內側有慢輪修整造 成的痕跡，共計 55 件。以卡方檢定分析，慢輪痕與層位具有顯著相關，表示以 慢輪製作的陶罐數量與層位變化有關。中、上層也觀察到以拍墊法製作之陶罐。
而在本遺址中晚期出土頗具數量之平唇罐，而在此類形式之唇部可以觀察到陶工 抹平唇部的動作，部分罐口修整不乾淨，而在唇口附近殘留不規整的陶土，此類 器表特徵集中在中、上層。
表 35：製作技術與層位分布
編號 慢輪痕 拍墊 手捏痕 餘土未抹
平
層位 無 有 無 有 無 有 無 有 總計
1 2 2 2 2 2
2 6 1 6 1 7 6 1 7
3 13 11 2 12 1 11 2 13
4 25 3 27 1 26 2 26 2 28
5 17 15 2 17 15 2 17
6 14 14 14 14 14
7 25 3 28 28 26 2 28
8 33 4 37 37 32 5 37
9 22 1 22 1 23 21 2 23
編號 慢輪痕 拍墊 手捏痕 餘土未抹 平
層位 無 有 無 有 無 有 無 有 總計
11 42 7 48 1 47 2 46 3 49
12 45 4 49 47 2 44 5 49
13 27 8 35 34 1 32 3 35
14 17 5 22 21 1 22 22
15 15 5 19 1 18 2 20 20
16 2 4 6 6 6 6
17 3 1 4 4 4 4
18 2 2 2 2 2
總計 342 55 387 10 385 12 367 30 397
1.慢輪痕
輪製技術指的是利用輪軸，快速旋轉陶器之製陶技術（Rice 1987：132-134），
這種製作技術會造成陶器內外側留下有規律的脊狀、槽溝狀的輪轉痕（rilling）
（Rice 1987：129）。慢輪則是利用手或腳作為軸心來旋轉陶器，速度較慢、選 轉時間較短，這種方式也會造成類似快輪之輪轉痕，但持續性的離心動力只有快 輪可達到（Miller 2007：115）。
在唇部內側有慢輪修整造成的痕跡，分布的層位很廣，共計 55 件。根據卡 方檢定和 one-way ANOVA 分析結果，慢輪痕與層位、頸式、唇式、陶罐形式、
砂徑、羼入閃亮礦物與否、角度和頸厚具有顯著相關。從形式來看，比例較高的 是圓唇弧轉、圓唇角轉和尖圓唇角轉罐，層位則集中在中下層的 L10-L16；以慢 輪製作的陶罐頸部較厚，平均厚為 9.74mm，約高於平均值一倍；開口角度也較 為外侈，約高於平均值 16.45 度；推測器壁厚重、器身大的罐形器使用慢輪製作 的比例較高。
圖 15：中期尖圓唇弧轉罐慢輪痕
表 36：慢輪痕分布層位及陶罐形式
層位 平唇 平唇角轉 平唇弧轉 尖圓唇 尖圓唇角轉 尖圓唇弧轉 圓唇 圓唇角轉 圓唇弧轉 總計
2 1 1
4 1 2 3
7 1 1 1 3
8 1 1 1 1 4
9 1 1
10 1 1 2 1 1 1 2 9
11 2 1 1 3 7
12 1 1 2 4
13 1 1 2 4 8
14 3 2 5
15 5 5
16 1 1 2 4
17 1 1
總計 6 2 2 1 9 2 2 12 19 55
表 37：層位與慢輪痕卡方檢定結果 對稱性量數
數值 漸近標準誤a 近似 T 分配b 顯著性近似值
以名義量數為主 Phi值 .293 .008
Cramer's V 值 .293 .008
以間隔為主 Pearson R 相關 .180 .047 3.640 .000c
以次序量數為主 Spearman 相關 .180 .048 3.644 .000c
有效觀察值的個數 397
a. 未假定虛無假設為真。
b. 使用假定虛無假設為真時之 漸近標準誤。
表 38：唇式與慢輪痕卡方檢定結果 對稱性量數c
數值 顯著性近似值
以名義量數為主 Phi值 .338 .000
Cramer's V 值 .338 .000
有效觀察值的個數 399
c. 只有數字資料可計算相關統計。
表 39：頸式與慢輪痕卡方檢定結果 對稱性量數c
數值 顯著性近似值
以名義量數為主 Phi值 .291 .000
Cramer's V 值 .291 .000
有效觀察值的個數 399
c. 只有數字資料可計算相關統計。
表 40：砂徑與慢輪痕交差表 交叉表
慢輪痕否 總和
0 1
砂徑
S 86 5 91
SM 180 41 221
SM B 77 10 87
總和 343 56 399
表 41：砂徑與慢輪痕卡方檢定結果 對稱性量數c
數值 顯著性近似值
以名義量數為主 Phi值 .156 .008
Cramer's V 值 .156 .008
有效觀察值的個數 399
c. 只有數字資料可計算相關統計。
表 42：罐口形式與慢輪痕卡方檢定結果
表 45：慢輪痕與形式屬性相關性
表 48：頸厚平均值
頸厚平均值 無慢輪痕 具慢輪痕 總計
合計 4.05 9.74 4.88
2.拍墊法
這個步驟在於藉由反覆敲打陶土，來修改形狀、尺寸、去除初步塑型的銜接 痕和使陶坯緊緻、變薄。拍墊法使用於器體的製作，因此只有少數保存較為完整 的罐口內側發現殘留窩狀的製作痕（Rice 1987：137）。使用拍墊法製作之陶罐 集中在上層 L2-L5，多為平唇弧轉罐。
圖 16：晚期平唇弧轉罐拍墊製作痕
3.手捏痕跡
出現在頸部、唇口和器腹的地方，層位集中在中、下層。
圖 17：中期尖圓唇角轉罐 圖 18：中期尖圓唇角轉罐（頸部下方手捏）
表 49：手捏痕跡分布
捏製位置 頸部捏製 器腹 唇口 總計
層位
類型 4 10 11 15 4 11 14 3 13
平唇角轉 1 1
平唇弧轉 1 1 2
尖圓唇角轉 1 1
尖圓唇弧轉 1 1 2
尖圓唇弧轉大罐 1 1
圓唇角轉 1 1
圓唇弧轉 1 1 2
總計 1 1 1 2 1 1 1 1 1 10
二、形式
1.唇式
卡方檢定的結果顯示唇式與層位的 P<0.05，呈現顯著相關，表示唇式隨著 層位產生變化。平唇在數量上從 L4 到 L12 都是佔主流位置，在 L13 開始以圓唇 為主，尖圓唇在時間上則沒有太明顯的變化，在 L2-L15 各層位佔一定比例。
圖 19：唇式比例與層位變化（S：平唇、R：圓唇、P：尖圓唇）
表 50：層位與唇式卡方檢定結果 P>0.05，表示口式與層位變化不具有顯著相關。
表 51：口式與層位數量
表 52：層位與口式卡方檢定結果 對稱性量數
數值 漸近標準誤a 近似 T 分配b 顯著性近似值
以名義量數為主
Phi值 .294 .457
Cramer's V 值 .208 .457
以間隔為主 Pearson R 相關 .012 .040 .237 .813c
以次序量數為主 Spearman 相關 -.005 .045 -.099 .921c
有效觀察值的個數 396
a. 未假定虛無假設為真。
b. 使用假定虛無假設為真時之 漸近標準誤。
c. 以一般近似值為準。
3.頸式
研究樣本中，因為部分口緣較為殘破，就可量測之 208 件口緣來看，弧轉頸 也一直是主流，但也有一定比例的角轉頸，集中在 L7-17。卡方檢定的結果，
P<0.05，表示頸式與層位變化具有顯著相關。
圖 20：頸式比例與層位變化（T：三角頸、R：弧轉、A：角轉）
表 53：層位與頸式卡方檢定結果 對稱性量數c
數值 顯著性近似值
以名義量數為主
Phi值 .497 .028 Cramer's V 值 .351 .028
有效觀察值的個數 208
c. 只有數字資料可計算相關統計。
4.口長、唇厚、頸厚、半徑及角度
從層位變化上來看，罐口形式數值均出現越往下層越長、越厚、越寬大的情 況。經過 one-way ANOVA 的檢定結果也顯示這些數值與層位變化有顯著相關性。
表 54：各數值平均值
平均值 口長（mm） 半徑（cm） 角度 頸厚（mm） 唇厚（mm）
合計 34.08 8.51 77.2 4.88 5.42
圖 21：口長平均值與層位變化
圖 22：唇厚與頸厚平均值與層位變化
圖 23：半徑與角度平均值與層位變化
表 55：各數值與層位之相關性 單因子變異數分析
平方和 自由度 平均平方和 F 顯著性
口長
組間 3085.563 17 181.504 1.725 .040 組內 23152.738 220 105.240
總和 26238.301 237
半徑
組間 96.178 16 6.011 2.891 .000
組內 413.737 199 2.079
總和 509.916 215
唇厚平均值
組間 276.203 16 17.263 7.370 .000
組內 700.362 299 2.342
總和 976.565 315
頸厚平均值 組間 1172.984 16 73.311 3.545 .000 組內 6182.765 299 20.678
總和 7355.748 315 術（cutting）（Rice 1987：144-147）。
表 56：紋飾數量
1.紅彩
紅彩的辨識也受到器表脫落嚴重而影響。在器表塗抹紅色顏料，是訊塘埔文 化到新石器時代中晚期的陶器的特色之一（劉益昌 2001；郭素秋 2016：
205-207、葉美珍 2001：102-104）。大竹圍遺址出土之繩紋陶器雖施用紅彩的 痕跡，但為數不多（劉益昌等 2001：57-58）。本遺址出土共 58 件，出土層位