[PDF] Top 20 Chip-on-Glass（COG）彈性凸塊電性與可靠度之研究

... 的烘烤。常見的失效機制為介金屬化合物異常成長，導線短路斷路及 鈍化層破裂等問題。 （2）溫度循環試驗： 溫度循環試驗主要利用構裝結構不同材料熱膨脹係數差異，加強 其因溫度快速變化所產生的熱應力對元件造成之劣化影響。測試溫度 升降多以在單一槽內以冷熱空氣循環加熱或冷卻方式達成，整體熱傳 效率較低。由於停留時間較長（10～15分鐘），構裝結構材料則會發 生潛變（Creep）及應力鬆弛（Stress ... See full document

... pad 與 EMC)界 面間產生強大之蒸汽壓力變化對封裝體之影響。當封裝 體承受蒸汽壓力作用下，造成脫層擴張與裂縫成長，由 此可獲得裂縫尖端界面間之位移場，藉由封裝結構破壞 力學理論之應用，求得裂縫成長能量釋放率 G、J 積分值 與裂縫尖端開口位移(CTOD)，比較破壞臨界值以判斷脫層 ... See full document

... 16 1.2 文獻探討 過去數十年，為了提升元件的操作速度並降低驅動電壓，最直接的方法為縮 短通道長度及降低氧化層厚度，因此半導體產業遵循摩爾定律，不斷的對元件尺 寸進行微縮，但隨著製程技術持續推進，終究會因為物理極限而碰上瓶頸，意即 元件尺寸無法無止盡的持續微縮，且除了技術層面的限制之外，元件縮小到一定 程度之後，伴隨而來的是嚴重的短通道效應，以及氧化層厚度過薄造成的漏電流 ... See full document

... 學生：林煒得 國立高雄大學電機工程研究所 摘要 本論文以通道長度為 16nm，寬度為 10nm 以及不同功函數與不同鰭數之三 閘極鰭式場效電晶體進行分析研究。閘極功函數改變對元件的物理機制也會有 所不同，在基本電性看來，由於功函數的增加，熱平衡下能帶彎曲越大使電洞累 ... See full document

... 為了瞭解地球內部氫元素對於地函的 對流變行為的影響，研究含水礦物之物理 性質在地函壓力下之變化情況是非常必要 的。研究這些礦物高壓相行為有助於瞭解 地球內部的動力行為、震波異常、地震的 不連續及側向的不均勻性等現象。因此本 計畫利用側向 X-光繞射法(Radial X-ray diffraction)結合 lattice strain 理論，以解析 ... See full document

... 面有許多成長。同時也要感謝口試委員鄧清政博士、廖德誠博士和徐勝均 博士給予建設性的建議與指導使得本論文更臻完備。此外，感謝當我在台 灣科技大學求學時，時常鼓勵我的黃世欽博士與黃安橋博士，由於你們的 鼓勵，當我在研究上遇到瓶頸時，依然能夠保持活力與自信面對與處理複 ... See full document

... 首先要感謝的是我的指導教授葉文冠老師，帶我進入了半導體領域，並且提供良好的 實驗室環境與充足的資源，令我在學習上得到莫大的幫助，老師也常常分享業界的經驗， 並且給予我未來就業的方向。再來感謝高雄師範大學的楊宜霖教授及師母章聞奇博士，他 們也教導了我許多知識，有困難時也會耐心地替我解決問題，並提供了許多幫助，感謝以 上三位在半導體專業知識、論文架構與方向、實驗技巧、數據分析等對我耐心的指導與幫 ... See full document

... 感謝陳茂傑教授，在兩年碩士班期間指引我方向，又給予我信任 與自由。老師治學嚴謹負責，指導學生卻總是理直氣和、從不疾言厲 色。有幸拜入老師門下，除了學業研究上的指點，這謙謙君子的大師 風範也讓學生有所體悟。感謝吳偉豪、王超群和吳振誠學長在這兩年 中的指導與協助，對我而言豪哥認真的身影已是 629 的必要風景，宛 如燈塔般的指引；謝謝林信宏、王安志、楊宇國同學的陪伴支持與實 ... See full document

... 低溫多晶矽薄膜電晶體變動性 之可靠度研究 Study of Reliability Variation for Low Temperature Polysilicon Thin Film Transistors.[r] ... See full document

... 展性以抵抗外來的應力，與銅接面的黏著性佳、接觸角小，避免剝離 的發生。早期電子業都以共晶錫鉛（Sn63Pb37）為主要的銲料，因為 材料來源取得方便、成本便宜、機械強度高、可靠度佳、低熔點（183 ℃）等優點。但金屬鉛對人們的健康也有著極大的危害。鉛可藉由皮 膚、呼吸道、消化道進入人們的體內，一但人體吸收過量的鉛，就可 ... See full document

... 首先我要感謝我的家人，這十幾年的求學生涯，父母與姐姐的裁培與支持，讓 我能夠毫無後顧之憂，一步一步的追尋自己的夢想，朝自己的目標邁進。在我受到 阻礙與挫折時，無條件的給予我最大的支持，成為我最能夠放心依靠的避風港。 感謝我的指導教授葉文冠老師，從大學時期的專題到研究所，在半導體的領域 中給了我許多啟發，提供充足的資源讓我的研究得以順利的進行，老師在業界的經 ... See full document

... 再來，我要感謝鄭淳護學長以及江國誠學長，謝謝你們對我在實驗儀器上的訓練以 及研究上所提供的意見和幫助，讓我得以順利的完成碩士學業。此外，軍宏學長、彬舫 學長、建宏學長、存甫學長以及實驗室的學長姊們，感謝你們對我的教導和鼓勵。 接下來我還要感謝的是實驗室的同學，俊全、懿範、偉倫、哲偉、俊賢、建弦。有 了你們，才讓我的研究生活充滿了歡樂與色彩，使我有動力繼續研究下去，感謝大家的 ... See full document

... 感謝已畢業的冠德、又仁學長當我在實驗遇到瓶頸和挫折時，總是能在電 話那端指導，並給予支持與鼓勵。也感謝在兩年研究生涯中，與我起嚐遍酸甜苦 辣的同學，包括耀賢、大正與元亨，我們一起經歷困苦的研究過程，相信數年後 再聚首，一定倍感溫馨。對於汪老師研究群的同學，即使我們身在不同的研究群， ... See full document

... 再者，我要特別感謝王獻德學長與謝明山學長，學長在研究過程中都很熱心 地幫助我、指導我。尤其是在我徬徨無助、沮喪的時候，適時的拉我一把，讓我 能繼續堅持下去。另外還有實驗室的李名鎮學長、王哲麒學長、李宗霖學長、郭 柏儀學長、小強學長、建豪學長、楊紹明學長、小賢學長，感謝你們這些日子以 來的關心與指導。也要感謝志仰、家文、仁杰、柏浩、源竣、俊嘉、宗元、梓祥、 ... See full document

... 討論時的幫忙，更是讓我體會到何為貴族生活的寫照。也感謝實驗室的同學鄭季豪(豪 哥)，謝謝你在這段期間給予的幫助，也謝謝你在我們出國開會與旅遊時一切的照顧， 並且從你身上我了解到好男人是怎麼一回事，我想這是我ㄧ輩子也沒有辦法達到的境 界。也感謝同學黃秉緯，感謝你在夏威夷時的相互照應。還有感謝也是低調界的林博 文同學，雖然兩年後你就先到業界去發展了，但也多虧了你，我們才有取之不盡用之 ... See full document

... 超薄氮化矽閘極介電層之可靠度研究 A Study on the Reliability of Ultrathin Oxynitride Gate Dielectrics.. Tiao-Yuan Huang Dr.[r] ... See full document

... 還要謝謝學長嘴砲大宗諭、邱德鑫、學姊美君、阿壘、猴子明宏以，同學冠 迪、小宗育、智盟、翊鴻、高興、顏榮家、世安、啟瑞、才民、小橋、佑倫，豐 富了我碩士班兩年的生活。讓我有了這兩年的美好回憶。 還要感謝家人的支持，讓我無後顧之憂地致力於碩士學位。也要感謝無緣的 那一位在這兩年的陪伴與照顧,雖然無緣一起走到最後,還是感謝這段時間支持 ... See full document

... 行 之 設 計。此外，在微尺寸下，任何由於製程技術上之不 確定性，極易使得機械參數產生重大的變化，進而 影響最後之系統性能。其二，在追求機械動態特性 的要求下，最低程度仍需滿足結構安全的需求，這 一部份在所有 MEMS 設計方法中未見提及，尤有甚 者，目前的 MEMS 結構設計仍以”Deterministic”方 式為依據，假設已知強度。Yield ... See full document

... Study of Reliable Variable Structure Control and Controllability Measurement with Application to Spacecraft. 研 究 生：蔡哲倫 Student: Che-Lun Tsai 指導教授：梁耀文 博士 Advisor: Dr[r] ... See full document

... 接下來，我要特別感謝謝明山學長，學長不僅在研究過程中都很熱心地幫助 我、指導我，在日常生活中也都特別的關心照顧我。另外要感謝已畢業的獻德學 長帶我進入薄膜電晶體這個領域，也要感謝郭柏儀學長在實驗上經驗的傳承，還 有小強學長、楊紹明學長、小賢學長、志仰學長、家文學長，感謝你們這些日子 以來的關心與指導。也要感謝伯浩、俊嘉、宗元、梓祥，你們這二年的陪伴、一 ... See full document